[發明專利]相控陣天線的校準處理裝置及相控陣天線系統

在審

• 申請號: 201810266777.0
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108322268A
• 公開（公告）日: 2018-07-24
• 發明（設計）人: 桂杰;蔡雋
• 申請（專利權）人: 北京聚利科技股份有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12;H01Q21/00;H01Q3/26
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張子青;劉芳

1.一種相控陣天線的校準處理裝置，其特征在于，包括：信號處理系統和至少兩個近場信號源；

其中，所述信號處理系統與相控陣天線的N個輻射單元連接，N為至少兩個；

所述近場信號源，用于發射與所述相控陣天線同頻的近場測試連續波校準信號；

所述輻射單元，用于接收各所述近場信號源發射的近場測試連續波校準信號；

所述信號處理系統，用于采用各所述輻射單元接收到的近場測試連續波校準信號以及預先存儲的耦合相位差，對所述相控陣天線進行校準處理。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述信號處理系統，包括：本振信號生成器、N個混頻器和處理器；

其中，所述本振信號生成器與各所述混頻器相連接，各所述混頻器分別與一個對應的輻射單元相連接，各所述混頻器分別與所述處理器相連接；

所述本振信號生成器，用于生成N個本振信號，分別輸入到各混頻器中；

所述混頻器，用于接收所述本振信號和所述輻射單元接收到的近場測試連續波校準信號，并對所述本振信號和所述輻射單元接收到的近場測試連續波校準信號進行混頻處理以獲取正交的兩組中頻信號；

所述處理器，用于根據各組中頻信號確定各輻射單元對應的近場幅相特征函數，并根據各輻射單元對應的近場幅相特征函數及預先存儲的耦合相位差，對所述相控陣天線的各所述輻射單元進行校準處理。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述本振信號生成器，包括參考晶振和N個鎖相環；所述參考晶振分別與各所述鎖相環相連接，各所述鎖相環分別與對應的所述混頻器相連接；

其中，所述參考晶振，用于生成參考信號，并輸入到各鎖相環；

所述鎖相環，用于根據所述參考信號生成本振信號，并輸入到對應的混頻器；

所述混頻器包括90度電橋和0度功分器。

4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述至少兩個近場信號源，包括第一近場信號源和第二近場信號源；

所述至少兩個近場信號源設置于所述輻射單元四周或陣中位置。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述輻射單元，用于接收所述第一近場信號源發射的與相控陣天線同頻的第一近場測試連續波校準信號；

所述混頻器，用于接收所述本振信號和所述輻射單元接收到的第一近場測試連續波校準信號，并對所述本振信號和所述輻射單元接收到的第一近場測試連續波校準信號進行混頻處理以獲取正交的兩組第一中頻信號；

所述處理器，用于根據各組所述第一中頻信號，確定各輻射單元對應的第一近場幅相特征函數；

所述輻射單元，還用于接收所述第二近場信號源發射的與相控陣天線同頻的第二近場測試連續波校準信號；

所述混頻器，還用于接收所述本振信號和所述輻射單元接收到的第二近場測試連續波校準信號，并對所述本振信號和所述輻射單元接收到的第二近場測試連續波校準信號進行混頻處理以獲取正交的兩組第二中頻信號；

所述處理器，還用于根據各組所述第二中頻信號，確定各輻射單元對應的第二近場幅相特征函數；

所述處理器，還用于根據各輻射單元對應的所述第一近場幅相特征函數、所述第二近場幅相特征函數，以及預設閾值，確定各輻射單元對應的第一目標近場幅相特征函數；

所述處理器，還用于根據所述第一目標近場幅相特征函數，確定各所述輻射單元的第一近場相位差，所述第一近場相位差為：以第一輻射單元為參考輻射單元，其他輻射單元與參考輻射單元之間的相位差；

所述處理器，還用于根據所述第一近場相位差以及預先存儲的所述耦合相位差，確定目標遠場相位差；

所述輻射單元，還用于接收目標遠場信號源發射的目標遠場信號；

所述混頻器，還用于對所述本振信號和所述輻射單元接收到的目標遠場信號進行混頻處理，獲取正交的兩組第三中頻信號；

所述處理器，還用于根據所述第三中頻信號，確定各所述輻射單元對應的目標遠場幅相特征函數；

所述處理器，還用于根據所述目標遠場相位差和所述目標遠場幅相特征函數，確定校準后的目標遠場幅相特征函數。