[發(fā)明專利]測量建筑五維形變的分析方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810264999.9 | 申請日: | 2018-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN108646244B | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝酬;邵蕓;李冠楠;田幫森;卞小林;余永明 | 申請(專利權(quán))人: | 中科衛(wèi)星應(yīng)用德清研究院;中國科學(xué)院遙感與數(shù)字地球研究所;德清知遙空間信息科技有限公司;北京城建勘測設(shè)計(jì)研究院有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01S13/90 | 分類號: | G01S13/90;G01B7/16 |
| 代理公司: | 北京晟睿智杰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
| 地址: | 313000 浙江省湖*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測量 建筑 形變 分析 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種測量建筑五維形變的分析方法,其特征在于,采用合成孔徑雷達(dá)對目標(biāo)建筑進(jìn)行層析測量,包括:
獲取原始數(shù)據(jù),所述原始數(shù)據(jù)包括N個對目標(biāo)區(qū)域的回波數(shù)據(jù)、每個所述回波數(shù)據(jù)的采集時(shí)間信息及攜帶雷達(dá)的衛(wèi)星的軌道信息,所述目標(biāo)區(qū)域包括目標(biāo)建筑,其中,N為大于或者等于2的正整數(shù);
對N個所述回波數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,以獲得包括所述目標(biāo)建筑的N個初始二維圖像,其中,所述回波數(shù)據(jù)與所述初始二維圖像一一對應(yīng);
對每個所述初始二維圖像進(jìn)行修正處理,以獲得N幅修正二維圖像,每個所述修正二維圖像包括所述目標(biāo)區(qū)域的多個散射體的成像點(diǎn),其中,在每個所述修正二維圖像中,至少部分所述散射體的成像點(diǎn)與其他所述散射體的成像點(diǎn)重疊以形成疊掩點(diǎn),所述散射體的成像點(diǎn)具有二維坐標(biāo),其中,所述散射體的成像點(diǎn)的二維坐標(biāo)為其在第一平面上的二維坐標(biāo),所述第一平面與第一方向垂直,所述第一方向?yàn)橛伤隼走_(dá)指向所述目標(biāo)建筑的方向;
對每個所述修正二維圖像進(jìn)行處理,將每個所述修正二維圖中的所述疊掩點(diǎn)進(jìn)行分離,以獲所述目標(biāo)區(qū)域的散射體的數(shù)量;
對每個所述修正二維圖像,選取所述修正二維圖像中的若干個所述散射體的成像點(diǎn)作為初始目標(biāo)點(diǎn)集,并對所述初始目標(biāo)點(diǎn)集進(jìn)行干涉點(diǎn)目標(biāo)分析,去除誤差成像點(diǎn),以獲得每個所述修正二維圖像對應(yīng)的結(jié)果目標(biāo)點(diǎn)集;干涉點(diǎn)目標(biāo)分析的主要過程為;由選取的初始目標(biāo)點(diǎn)集進(jìn)行干涉點(diǎn)回歸分析,得到高程糾正,形變速率,殘余相位,并求得相位的標(biāo)準(zhǔn)差;對干涉點(diǎn)進(jìn)行相位解纏;對回歸模型進(jìn)行精化,進(jìn)行基線精化,大氣相位去除,估算非線性形變速率,再次進(jìn)行干涉點(diǎn)回歸分析,直到相位標(biāo)準(zhǔn)差滿足閾值要求;
根據(jù)每個所述修正二維圖像對應(yīng)的所述結(jié)果目標(biāo)點(diǎn)集中所述散射體的成像點(diǎn)在所述第一平面上的二維坐標(biāo),計(jì)算出每個所述修正二維圖像中所述散射體的散射系數(shù),包括:
在N個所述目標(biāo)二維圖像組成的數(shù)據(jù)集中,將第n個所述修正二維圖像中某個像素的復(fù)數(shù)值gn看作所述目標(biāo)區(qū)域在所述第一平面上的投影,即所述雷達(dá)的反射信號沿高程向的積分,表示為:
其中,λ為雷達(dá)波長;Sp為沿層析向進(jìn)行采樣的第p個所述散射體在所述第一平面上的二維坐標(biāo),p為正整數(shù)且pn,所述層析向垂直于所述第一平面;γ(sp)為沿所述層析向進(jìn)行采樣的第p個所述散射體的散射系數(shù);R為采集主圖像時(shí)的所述雷達(dá)與所述目標(biāo)建筑之間的距離;B⊥n為衛(wèi)星第n位點(diǎn)與衛(wèi)星主位點(diǎn)在第二方向上的距離,所述衛(wèi)星第n位點(diǎn)為所述衛(wèi)星采集第n個所述修正二維圖像對應(yīng)的所述回波數(shù)據(jù)時(shí)所在的位點(diǎn),所述衛(wèi)星主位點(diǎn)為所述衛(wèi)星采集所述主圖像對應(yīng)的所述回波數(shù)據(jù)時(shí)所在的位點(diǎn);為第p個所述散射體在所述第一方向上的形變相位;en為噪聲;j為單位復(fù)數(shù);n為大于或者等于1的正整數(shù),且n≤N;
利用壓縮感知算法對公式(1)進(jìn)行化簡,首先定義第一矩陣K,使得γ在所述第一矩陣K上是可壓縮的,其中,γ為每個所述修正二維圖像對應(yīng)的所述結(jié)果目標(biāo)點(diǎn)集中各點(diǎn)的散射系數(shù)構(gòu)成的矩陣,在約束條件下,求得滿足min||γ||1,
min||γ||1,s.t.g=K·γ (2)
其中,min||γ||1為滿足γ的1范數(shù)取最小值時(shí)的γ;s.t.表示所述約束條件,所述約束條件為g=K·γ,g表示由gn構(gòu)成的矩陣;
假設(shè)沿高程向進(jìn)行L次離散采樣,每次采樣所選取的所述散射體的成像點(diǎn)具有稀疏性,且L≥2,公式(1)式可簡化為:
gN+1=KN×L·γL×1+εN×1 (3)
其中,gN+1為像素復(fù)數(shù)值矩陣增加噪聲項(xiàng)后構(gòu)成的矩陣;KN×L為觀測矩陣;γL×1為L個離散點(diǎn)散射量矩陣;εN×1為噪聲矩陣;
利用至少兩個所述修正二維圖像中所述散射體的散射系數(shù),計(jì)算出所述主圖像中的所述散射體的高度向向量,所述高度向?yàn)樗瞿繕?biāo)建筑垂直于地面的方向,其中,至少兩個所述修正二維圖像包括所述主圖像,所述主圖像為N個所述修正二維圖像中的第M個所述修正二維圖像,當(dāng)N為偶數(shù)時(shí),M=N/2,當(dāng)N為奇數(shù)時(shí),M=(N+1)/2;
獲取所述目標(biāo)區(qū)域的歷史溫度數(shù)據(jù),根據(jù)所述歷史溫度數(shù)據(jù),獲得所述目標(biāo)建筑的膨脹幅度數(shù)據(jù);
根據(jù)每個所述回波數(shù)據(jù)的采集時(shí)間信息和所述主圖像和高度向向量,計(jì)算出所述目標(biāo)建筑的高度向形變速度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中科衛(wèi)星應(yīng)用德清研究院;中國科學(xué)院遙感與數(shù)字地球研究所;德清知遙空間信息科技有限公司;北京城建勘測設(shè)計(jì)研究院有限責(zé)任公司,未經(jīng)中科衛(wèi)星應(yīng)用德清研究院;中國科學(xué)院遙感與數(shù)字地球研究所;德清知遙空間信息科技有限公司;北京城建勘測設(shè)計(jì)研究院有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810264999.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01S 無線電定向;無線電導(dǎo)航;采用無線電波測距或測速;采用無線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測;采用其他波的類似裝置
G01S13-00 使用無線電波的反射或再輻射的系統(tǒng),例如雷達(dá)系統(tǒng);利用波的性質(zhì)或波長是無關(guān)的或未指明的波的反射或再輻射的類似系統(tǒng)
G01S13-02 .利用無線電波反射的系統(tǒng),例如,初級雷達(dá)系統(tǒng);類似的系統(tǒng)
G01S13-66 .雷達(dá)跟蹤系統(tǒng);類似系統(tǒng)
G01S13-74 .應(yīng)用無線電波再輻射的系統(tǒng),例如二次雷達(dá)系統(tǒng);類似系統(tǒng)
G01S13-86 .雷達(dá)系統(tǒng)與非雷達(dá)系統(tǒng)
G01S13-87 .雷達(dá)系統(tǒng)的組合,例如一次雷達(dá)與二次雷達(dá)





