[發明專利]一種多輻射單元天線測試箱及測試方法

有效

• 申請號: 201810263977.0
• 申請日: 2018-03-28
• 公開（公告）號: CN108594027B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 燕怒;李達;韓冬桂;沈程硯丹;彭亞文;李柏楊;楊婷;朱鑫;羅娟
• 申請（專利權）人: 武漢紡織大學
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 武漢泰山北斗專利代理事務所(特殊普通合伙) 42250
• 代理人: 程千慧

1.一種利用多輻射單元天線測試箱進行測試的方法，其特征在于，所述多輻射單元天線測試箱包括測試箱主體和多個天線放置架，所述天線放置架個數與天線的輻射單元數量相同，所述測試箱主體包括箱體(1)和箱蓋(2)，所述箱蓋(2)用于打開或關閉測試箱主體，箱蓋(2)關閉后所述測試箱主體形成密封結構，所述天線放置架用于放置多輻射單元天線，且所述天線放置架的高度可調節，所述測試箱主體上還設置有高度對比裝置，所述高度對比裝置用于顯示天線放置架的相對高度的變化；所述天線放置架包括放置板(3)和調節桿(4)，所述調節桿(4)與放置板(3)垂直且下端固定在放置板(3)上，所述調節桿(4)與箱體(1)頂板活動連接，所述調節桿(4)用于調節放置板(3)距離箱體(1)頂板的距離，所述調節桿(4)下半部分與箱體(1)頂板螺紋連接，所述調節桿(4)上半部分伸出箱體外且外表面豎直方向標有刻度線，所述刻度線用于顯示放置板(3)距離箱體(1)的距離；

測試方法包括以下步驟：

步驟S1、將多個RFID標簽放入測試箱主體底部，并將多輻射單元天線的多個輻射單元分別放在多個天線放置架上，將RFID閱讀器放置在測試箱主體外部；

步驟S2、調節天線放置架的高度為第一高度并記錄第一高度的數值，利用RFID閱讀器進行RFID標簽讀取，并記下讀取到的標簽數量為第一數量；

步驟S3、調節天線放置架的高度為第二高度并記錄第二高度的數值，利用RFID閱讀器進行RFID標簽讀取，并記下讀取到的標簽數量為第二數量；

步驟S4、重復進行步驟S2和S3，得到多個天線放置架高度值和對應的RFID標簽的讀取數量，計算天線放置架的高度值和RFID標簽的讀取數量對應關系。