[發(fā)明專利]一種LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810262901.6 | 申請日: | 2018-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN108459006A | 公開(公告)日: | 2018-08-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊景海;張馨元;陳雷;劉洋;張永軍;王雅新 | 申請(專利權(quán))人: | 吉林師范大學 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 長春吉大專利代理有限責任公司 22201 | 代理人: | 李泉宏 |
| 地址: | 136000 吉林*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基底 共濺射 可調(diào)的 制備 精確調(diào)控 聚苯乙烯膠體微球 二維周期性結(jié)構(gòu) 功能材料技術(shù) 激發(fā)光波長 操作過程 磁控濺射 復合納米 拉曼檢測 拉曼信號 貴金屬 均一 半導體 復合 生長 應用 | ||
1.一種LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底,其特征在于,該基底為貴金屬Ag與半導體Cu2S復合的材料,所述復合材料的形貌為緊密排列、均勻規(guī)則的球形顆粒陣列,粒徑大小為200nm;Ag與Cu2S的復合摩爾比為1:14~10。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底,其特征在于,Ag與Cu2S的復合摩爾比為1:10。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底,其特征在于,Ag與Cu2S的復合摩爾比為1:12。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底,其特征在于,Ag與Cu2S的復合摩爾比為1:14。
5.一種如權(quán)利要求所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底的制備方法,具體步驟如下:1)硅片置于濃度為1-3%的十二烷基硫酸鈉溶液中浸泡24小時以上,使表面改性,以做下一步應用;
2)另取硅片切至尺寸為1×1cm2,放入燒杯中進行清洗,即取氨水:過氧化氫:去離子水體積比為1:2:6,倒入燒杯,放在烤膠臺上加熱200-300℃,時間控制在8-10min,冷卻后倒出液體,再逐次加入去離子水和無水乙醇超聲10-20min,超聲過程重復3-5次,放入無水乙醇中留用;
3)取200nm聚苯乙烯小球與無水乙醇混合,比例調(diào)控在1:0.8-1.2之間,超聲使分散均勻;
4)取一大型器皿并裝滿水,待液面平穩(wěn)后開始下一步驟;
5)將聚苯乙烯小球乙醇溶液滴在改性后的硅片上,傾斜放置,使液體擴散均勻,隨即將其傾斜緩慢地插入平穩(wěn)后的水面,使表面的聚苯乙烯小球乙醇溶液置于水面;
6)用洗好的硅片緩慢撈取,隨即將其傾斜放置,至水完全干后留用;
7)將上一步驟中小塊硅片放在磁控濺射腔體內(nèi),抽真空后,使其背景氣壓達到10-6mTorr以下,設(shè)置工作氣壓為6×10-3m Torr,Ag和Cu2S的濺射功率分別為5-20W和50-90W,濺射時間為20-30min;得到所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底的制備方法,其特征在于,Ag和Cu2S的濺射功率分別為5W和50W,濺射時間為30min。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底的制備方法,其特征在于,Ag和Cu2S的濺射功率分別為5W和60W,濺射時間為30min。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的LSPR可調(diào)的Ag/Cu2S共濺射SERS活性基底的制備方法,其特征在于,Ag和Cu2S的濺射功率分別為5W和70W,濺射時間為30min。
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