[發(fā)明專利]鍵帽結(jié)構(gòu)組裝不良測試機(jī)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810262493.4
• 申請(qǐng)日: 2018-03-28
• 公開（公告）號(hào): CN108303246A
• 公開（公告）日: 2018-07-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉利剛;譚志輝;黃得力
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆山鴻志犀自動(dòng)化機(jī)電設(shè)備有限公司
• 主分類號(hào): G01M13/00
• 分類號(hào): G01M13/00
• 代理公司: 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
• 代理人: 朱海琳;董建林

本發(fā)明公開了一種鍵帽結(jié)構(gòu)組裝不良測試機(jī)，包括X軸向移動(dòng)裝置以及檢測頭組件，所述檢測頭組件通過連接裝置安裝在所述X軸向移動(dòng)裝置上，在所述驅(qū)動(dòng)裝置作用下沿水平方向移動(dòng)，所述檢測頭組件包括壓力傳感器以及與其相連的檢測頭，所述檢測頭頂面為坡面，沿所述X軸向移動(dòng)裝置行進(jìn)方向由高至低分布，所述檢測頭用于插入鍵帽一側(cè)底部。本發(fā)明結(jié)構(gòu)緊湊、測試效率高、準(zhǔn)確性高以及適用范圍廣的特點(diǎn)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種鍵帽結(jié)構(gòu)組裝不良測試機(jī)，屬于鍵帽測試機(jī)技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

鍵盤一般是由鍵板與鍵帽組合而成的，鍵帽通常通過四周的剪刀腳卡扣結(jié)構(gòu)卡合在鍵板上，并位于相應(yīng)的按鍵上方。組裝過程中容易出現(xiàn)各類卡扣不良，如：未卡合上、卡扣力度不足、卡扣易掉落等，這類問題直接影響消費(fèi)者的操作。為了避免鍵帽的卡扣不良，在鍵帽安裝后，需要對(duì)其進(jìn)行拉拔力測試，即對(duì)鍵帽施加一定大小的作用力向外拉鍵帽，如果鍵帽四角的卡扣依然良好則表示鍵帽卡扣良好。

現(xiàn)有技術(shù)中，常用人工扣鍵帽的拉拔測試，這種方式具有成本高、效率低、結(jié)果準(zhǔn)確性差的問題，無法滿足現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的要求，還有采用機(jī)械設(shè)備進(jìn)行自動(dòng)檢測，如使用刷key機(jī)，在組裝好的鍵盤鍵帽上正方，用一塊柔性硅膠下降到鍵帽上方并干涉接觸，然而這種檢測方法存在檢出率很低且會(huì)對(duì)良品造成損傷等不足；或是使用頂key機(jī)，在組裝好的鍵盤鍵帽下正方，在每個(gè)key的正下方裝上對(duì)應(yīng)探針，用探針的壓縮行程量來控制探針的彈力，從而把不良的鍵帽頂出鍵帽整體結(jié)構(gòu)，因?yàn)檎麄€(gè)不良的判斷是靠人工目測完成而需要很明顯的鍵帽脫離，由于鍵盤的多變性和探針的疲勞耐力有限，故檢出率也很低并誤判率也很高；再或是使用吸key機(jī)，在每個(gè)鍵帽的上方用吸盤靠足夠的真空于鍵帽表面接觸，從而產(chǎn)生吸力，往上拉拔鍵帽，由于吸盤的力是垂直向上的，而單腳的結(jié)構(gòu)不良鍵帽，它的垂直拉拔力是正常的所以檢出力也會(huì)大大折扣，并且鍵盤的多變性多樣性，造成設(shè)備的更換維護(hù)成本很高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，提供一種結(jié)構(gòu)緊湊、測試效率高、準(zhǔn)確性高、適用范圍廣的鍵帽結(jié)構(gòu)組裝不良測試機(jī)。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：

鍵帽結(jié)構(gòu)組裝不良測試機(jī)，包括X軸向移動(dòng)裝置以及檢測頭組件，所述檢測頭組件通過連接裝置安裝在所述X軸向移動(dòng)裝置上，在所述驅(qū)動(dòng)裝置作用下沿水平方向移動(dòng)，所述檢測頭組件包括壓力傳感器以及與其相連的檢測頭，所述檢測頭頂面為坡面，沿所述X軸向移動(dòng)裝置行進(jìn)方向由高至低分布，所述檢測頭用于插入鍵帽一側(cè)底部。

還包括Y軸向移動(dòng)裝置，沿Y軸向安裝有若干組所述檢測頭組件，所述檢測頭以Y軸向?yàn)橹行木€左右對(duì)稱設(shè)置，若干組所述檢測頭組件分為多列錯(cuò)開分布，所述Y軸向移動(dòng)裝置用于使若干組所述檢測頭組件沿Y軸向與待檢鍵盤相對(duì)移動(dòng)。

還包括間隙調(diào)節(jié)裝置，所述間隙調(diào)節(jié)裝置用于調(diào)節(jié)每個(gè)所述檢測頭組件在Y軸向上的位置。

所述間隙調(diào)節(jié)裝置包括沿Y軸向移動(dòng)的電機(jī)以及軌道，所述電機(jī)輸出軸與所述檢測頭組件連接。

每組所述檢測頭組件四周與所述檢測頭錯(cuò)開分布有壓輪，用于按壓待檢測鍵帽相鄰行的鍵帽。

還包括Z軸向移動(dòng)裝置，用于使所述檢測頭組件沿Z軸向與待檢鍵盤相對(duì)移動(dòng)。

還設(shè)有配重彈簧，用于維持所有所述檢測頭組件的高度。

包括7組所述檢測頭組件，7組所述檢測頭組件分為四列七行，以向X軸向行進(jìn)方向起始端為第一列，以垂直于X軸行進(jìn)方向起始端為第一行，7組所述檢測頭組件分布方式為第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。

所述檢測頭頂面為光滑面。