[發明專利]基于串聯晶體管型的改進的差分架構OTP存儲單元及存儲器在審
| 申請號: | 201810258795.4 | 申請日: | 2018-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN108520767A | 公開(公告)日: | 2018-09-11 |
| 發明(設計)人: | 張立軍;吳澄;王子歐;魯征浩;陳澤翔;李有忠;劉金陳 | 申請(專利權)人: | 蘇州大學 |
| 主分類號: | G11C17/12 | 分類號: | G11C17/12;G11C7/06 |
| 代理公司: | 蘇州翔遠專利代理事務所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陸金星 |
| 地址: | 215104 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲單元 串聯型 控制電路模塊 串聯晶體管 存儲器 公共端 串聯 架構 靈敏放大電路 讀取 存儲壽命 對稱結構 恢復電路 基準電路 匹配問題 跨接 位線 源線 字線 改進 | ||
1.一種基于串聯晶體管型的改進的差分架構OTP存儲單元,其特征在于:包括呈差分對稱結構的第一兩管串聯型OTP存儲單元和第二兩管串聯型OTP存儲單元,所述第一兩管串聯型OTP存儲單元包括串聯的PMOS晶體管MP1和PMOS晶體管MP2且PMOS晶體管MP1的漏極和PMOS晶體管MP2的源極公用一個P型擴散區,所述第二兩管串聯型OTP存儲單元包括串聯的PMOS晶體管MP3和PMOS晶體管MP4且PMOS晶體管MP3的漏極和PMOS晶體管MP4的源極公用一個P型擴散區,所述PMOS晶體管MP1和MP3的柵極作為存儲單元的兩根字線,所述PMOS晶體管MP1和MP3的源極作為存儲單元的兩根源線,所述PMOS晶體管MP2和MP4的漏極作為存儲單元的兩根位線,所述第一兩管串聯型OTP存儲單元和第二兩管串聯型OTP存儲單元上接源線SL控制電路模塊,所述第一兩管串聯型OTP存儲單元和第二兩管串聯型OTP存儲單元下接位線BL控制電路模塊和靈敏放大電路模塊;
還包括一跨接在兩根字線的公共端以及兩根源線的公共端之間的NBTI恢復電路。
2.根據權利要求1所述的基于串聯晶體管型的改進的差分架構OTP存儲單元,其特征在于:所述NBTI恢復電路包括晶體管MM0、MM1、MM2和MM3以及反相器IV0和IV1,
所述晶體管MM0的源極連接GND,柵極連接使能信號EN,漏極連接存儲單元的兩根源線,襯底連接GND;
所述晶體管MM1的源極連接VDD,柵極連接控制信號ENB,漏極連接存儲單元的兩根字線,襯底連接VDD;
所述晶體管MM2的源極連接Vsg端,漏極連接存儲單元的兩根字線,柵極連接使能信號EN,襯底連接VDD;
所述晶體管MM3的預算及連接晶體管MM2的源極,漏極連接晶體管MM2的漏極,柵極連接反相器IV1的輸出端,襯底連接GND;
所述反相器IV0的輸入端連接使能信號EN,輸出端連接控制信號ENB;
所述反相器IV1的輸入端連接使能信號EN。
3.根據權利要求2所述的基于串聯晶體管型的改進的差分架構OTP存儲單元,其特征在于:所述晶體管MM0和MM3為NMOS管,所述晶體管MM1和MM2為PMOS管。
4.根據權利要求1所述的基于串聯晶體管型的改進的差分架構OTP存儲單元,其特征在于:所述源線SL控制電路模塊包括第一編譯碼電路,所述第一編譯碼電路通過地址信號控制,并提供電源;
所述位線BL控制電路放大模塊包括第二編譯碼電路,并提供電壓信號;
所述靈敏放大電路模塊用于讀取數據。
5.一種基于串聯晶體管型的改進的差分架構OTP存儲器,其特征在于:其包括NBTI恢復電路、BUF電路以及復數個并列的存儲模塊,每個所述存儲模塊中包含復數個如權利要求1~4所述的存儲單元,所述NBTI恢復電路經BUF電路分別跨接在各存儲單元的兩根字線的公共端以及兩根源線的公共端之間。
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