[發(fā)明專利]一種高壓高功率GaN基LED陣列芯片的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810257196.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108493306B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 康香寧;李誠(chéng)誠(chéng);陳志忠;焦飛;馮玉龍;詹景麟;于彤軍;沈波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L33/00 | 分類(lèi)號(hào): | H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京萬(wàn)象新悅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11360 | 代理人: | 賈曉玲 |
| 地址: | 100871*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高壓 功率 gan led 陣列 芯片 制備 方法 | ||
1.一種高壓高功率GaN基LED陣列芯片的制備方法,具體步驟如下:
1)GaN基外延片上蒸鍍一層ITO作為電流擴(kuò)展層;
2)通過(guò)光刻、曝光、顯影,制備出LED陣列圖形區(qū),圖形尺寸5-200微米,每個(gè)LED尺寸為微米級(jí);
3)在圖形區(qū)制備出若干LED微米柱;
4)第二次光刻,曝光,顯影,制備出深刻蝕溝道圖形;等離子體深刻蝕出向下延伸至藍(lán)寶石表面的深刻蝕溝道,將若干LED微米柱劃分成幾個(gè)獨(dú)立的陣列單元;
5)第三次光刻,曝光,顯影出N型GaN區(qū)域,沉積N型電極金屬;
6)大面積蒸鍍絕緣層;
7)第四次光刻,曝光,顯影,光刻膠選擇微米LED頂層及部分N電極頂層區(qū)域,去除該部分絕緣層,并蒸鍍P型反射電極;
8)第五次光刻,曝光,顯影,在各個(gè)LED陣列單元沉積各自的焊盤(pán)金屬,實(shí)現(xiàn)陣列內(nèi)所有LED并聯(lián);
9)在散熱基板上利用金屬化技術(shù),沉積金屬焊盤(pán);
10)使用精準(zhǔn)共晶焊儀器,將散熱基板與芯片精準(zhǔn)焊接,實(shí)現(xiàn)各個(gè)陣列間串聯(lián)。
2.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟1)中外延片首先經(jīng)過(guò)酸洗、有機(jī)清洗后烘干。
3.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟3)采用ICP刻蝕制備LED微米柱。
4.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,步驟6)中絕緣層為AlN。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





