[發明專利]一種用于柔性基板的改進隨機圓孔檢測方法

有效

• 申請號: 201810256378.6
• 申請日: 2018-03-27
• 公開（公告）號: CN108537778B
• 公開（公告）日: 2022-03-25
• 發明（設計）人: 羅家祥;陳緒超;胡躍明
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G06T7/136
• 代理公司: 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245
• 代理人: 王東東

1.一種用于柔性基板的改進隨機圓孔檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1對柔性基板圖像進行除噪及閾值分割，然后提取分割后圖像的輪廓，記錄輪廓的總數contour_num；

S2用改進的采樣方法在每條輪廓中隨機構建候選圓，具體步驟如下：

S2.1求取輪廓像素點的灰度梯度方向；

S2.2根據輪廓像素點的灰度梯度方向，將輪廓像素點分為8類；

所述S2.2根據輪廓像素點的灰度梯度方向，將輪廓像素點分為8類，具體為：

當θ∈(-π/8,π/8]時，將像素歸為第1類；當θ∈(π/8,3π/8]時，將像素歸為第2類；當θ∈(3π/8,5π/8］時 ，將像素歸為第3類；當θ∈(5π/8,7π/8]時，將像素歸為第4類；當θ∈(7π/8,π]或θ∈(-π,-7π/8]時，將像素歸為第5類；當θ∈(-7π/8,-5π/8]時，將像素歸為第6類；當θ∈(-5π/8,-3π/8]時，將像素歸為第7類；當θ∈(-3π/8,-π/8]時，將像素歸為第8類；

S2.3隨機采樣四個輪廓像素點，分別記為i、j、k和l；

具體為：將8類輪廓像素點分為兩組，一組包括1、3、5、7類，另一組包括2、4、6、8類，每組每次隨機選取一個像素點，兩組交替選擇，每組選取兩次；

S2.4構建候選圓；

所述S2.4構建候選圓，具體步驟如下：

S2.4.1：過i、j和k三個點構成一個圓，稱為選擇圓，并求得選擇圓的圓心坐標(x,y)和半徑r；

S2.4.2：求得l點，該點坐標記為(l_x,l_y)，l點與圓心(x,y)的距離d_l，若|d_l–r|＜∈₁，∈₁為設置的閾值參數，則提升選擇圓為候選圓，否則回到第2.3步重新采樣；

S3用投票的方法判定候選圓的有效性；

S4調整圓孔的參數，若檢測到的兩個有效的圓，圓心分別為(x₁,y₂)、(x₂,y₂)，半徑分別為r₁、r₂，滿足max(|x₁-x₂|,|y₁-y₂|)＜∈₄，且|r₁-r₂|＜∈₅，∈₄和∈₅為設置的閾值參數，則合并這兩個圓，求得合并后圓的圓心(x_m,y_m)和半徑r_m：

其中，N₁表示第一個圓迄今為止合并其它圓的個數；

所述S3用投票的方法判定候選圓的有效性，具體方法為：

計算當前輪廓中的所有像素點與候選圓圓心坐標(x,y)的距離d，統計滿足|d–r|＜∈₂的像素點個數N，∈₂為設置的閾值參數，若滿足N≥∈₃×2πr，∈₃為設置的閾值參數，則判定候選圓有效，否則回到第2.3步重新采樣。

2.根據權利要求1所述的改進隨機圓孔檢測方法，其特征在于，S2.1求取輪廓像素點的灰度梯度方向，具體步驟為：

第2.1.1步：求取輪廓像素點x方向的梯度g_x和y方向的梯度g_y：

g_x＝D_x(G(x,y,σ))*f(x,y)

g_y＝D_y(G(x,y,σ))*f(x,y)

其中，G(x,y,σ)是標準方差為σ的二維高斯函數，D_x和D_y分別為求x偏導和求y偏導操作，f(x,y)是圖像(x,y)處的灰度值，*是卷積操作；

第2.1.2步：求得輪廓像素點的梯度方向θ為：