[發明專利]一種晶體隨機成核分析方法及系統在審
| 申請號: | 201810255195.2 | 申請日: | 2018-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN108536935A | 公開(公告)日: | 2018-09-14 |
| 發明(設計)人: | 陳道毅;柯偉 | 申請(專利權)人: | 清華大學深圳研究生院 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 武漢臻誠專利代理事務所(普通合伙) 42233 | 代理人: | 胡星馳 |
| 地址: | 518055 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 成核 最大似然 誘導 分析方法及系統 數據獲取模塊 概率最大化 獲取模塊 積分計算 科學工具 模型獲取 實驗條件 數據分析 核動力 恒溫法 速率和 滯后 比對 求解 重復 合成 概率 分析 研究 | ||
1.一種晶體隨機成核數據分析方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)獲取晶體成核數據:按照恒溫法測定一組包含m次重復實驗測得的待分析成核誘導時間;
(2)建立成核模型:對于步驟(1)中獲取的m次重復實驗得到的成核概率密度進行疊加,獲得對于m次重復實驗得到擬合成核滯后時間的隨機成核最大似然方程;
(3)求解:對于步驟(2)中獲得的成核模型,在最大似然的條件下求解,獲得造成最大似然方程概率最大化的成核速率和成核滯后時間;
(4)獲取累積成核概率:根據步驟(3)得到的成核速率和成核滯后時間,積分計算給定成核誘導時間對應的累積成核概率。
2.如權利要求1所述的晶體隨機成核數據分析方法,其特征在于,其中m的大小,按照子序列置換檢驗法確定,具體方法如下:
(S1)將ma組實驗觀測得到的成核誘導時間作為母數列,記作A,進入步驟(1-2);
(S2)將步驟(S1)中獲取的母數列隨機分割成至少一組子數列,當分割成多組子序列時,子序列包含的實驗次數相同且小于母數列的實驗次數,進入步驟(S3);
(S3)對于每一子序列判斷其是否能置換母序列,進入步驟(S4);
所述子序列記作B,計算其與母數列A的置換檢驗參數,如下:
將母數列A和子數列B的數據混后,隨機取樣k次獲得抽樣結果A1,…,Ak和B1,…,Bk,使得Al l=1,…,k包含的樣本量為母數列A包含的試驗次數ma且Bl l=1,…,k包含的樣本量為子數列B包含的試驗次數mb;
計算母數列A和子數列B的效果差異ΔJ以及抽樣結果Al和Bl的效果差異ΔJl:
ΔJ=|Ja-Jb|
其中,Ja為母數列A按照步驟(2)和(3)計算獲得的成核速率,Jb為子數列B按照步驟(2)和(3)計算獲得的成核速率,為抽樣結果Ai按照步驟(2)和(3)計算獲得的成核速率,為抽樣結果Bi按照步驟(2)和(3)計算獲得的成核速率。
統計效果差異大于等于母數列A和子數列B的效果差異ΔJ的抽樣次數M和效果差異小于母數列A和子數列B的效果差異ΔJ的抽樣次數N,計算置換檢驗參數p如下:
其中,M為效果差異大于等于母數列A和子數列B的效果差異ΔJ的抽樣次數,即M=∑(ifΔJl≥ΔJ),N為效果差異大于等于母數列A和子數列B的效果差異ΔJ的抽樣次數,即N=∑(ifΔJl<ΔJ);
當置換檢驗參數p大于等于置換檢驗參數閾值μ時,判斷所述子數列B能夠置換所述母數列A,否則判斷為所述子數列B不可置換所述母數列A。
(S4)判斷:當所述子序列皆被判斷為可以置換母序列時,通過檢驗,將子數列包含的試驗次數作為m;
當存在子序列被判斷為不可置換母序列且母數列包含的實驗次數與子數列包含的試驗次數差異大于差異閾值時,增加子數列的試驗次數,進入步驟(S1);
否則增加母序列包含的實驗次數,進入步驟(S1)。
3.如權利要求1所述的晶體隨機成核數據分析方法,其特征在于,步驟(1)對于每一次實驗,成核誘導時間數據獲取步驟如下:
(1-1)通過控制溫度和壓力等反應條件在晶體反應釜內制造晶體生長驅動力;
(1-2)保持恒溫條件,然后記錄從實驗開始到觀測到晶體生長這一段時間作為單組實驗的成核誘導時間。
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