[發明專利]一種基于光學幾何變換的矢量光測量裝置

有效

• 申請號: 201810253913.2
• 申請日: 2018-03-26
• 公開（公告）號: CN108303180B
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 李朝暉;肖文達;楊繼順;劉志兵;高社成;熊松松
• 申請（專利權）人: 中山大學
• 主分類號: G01J4/00
• 分類號: G01J4/00;G02B27/28;G02B5/30
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 陳偉斌

1.一種基于光學幾何變換的矢量光測量裝置，其特征在于，包括測量器件主體(1)，單模光纖(2)、光功率計(3)，所述單模光纖(2)在測量器件主體(1)的一端，光功率計(3)與單模光纖(2)相連，并可直接讀取單模光纖輸出光功率；所述測量器件主體(1)是一個集成光學器件，它包括液晶偏振光柵(1.1)，光學幾何變換區(1.2,1.3)、相位補償聚焦區(1.4,1.5)、光束整形區(1.6,1.7)；光學幾何變換區(1.2,1.3)、相位補償聚焦區(1.4,1.5)、光束整形區(1.6,1.7)為等間距分布。

2.根據權利要求1所述的一種基于光學幾何變換的矢量光測量裝置，其特征在于：所述的測量器件主體(1)中液晶偏振光柵(1.1)由液晶制作，光學幾何變換區(1.2,1.3)、相位補償聚焦區(1.4,1.5)、光束整形區(1.6,1.7)的任一個由玻璃或陶瓷或晶體或有機聚合物透明材料制作。

3.根據權利要求1所述的一種基于光學幾何變換的矢量光測量裝置，其特征在于：所述的測量器件主體可將矢量光分離成兩束圓偏振渦旋光，并通過測量這兩束渦旋光的拓撲荷，最終測得矢量光的偏振拓撲階數。

4.根據權利要求1所述的一種基于光學幾何變換的矢量光測量裝置，其特征在于：所述的單模光纖(2)數量為多個，單模光纖的數量可根據需要變化。

5.根據權利要求1所述的一種基于光學幾何變換的矢量光測量裝置，其特征在于：所述的測量器件主體(1)輸入矢量光為任意頻率。