[發明專利]三維存儲器制造方法有效
| 申請號: | 201810252921.5 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN108550578B | 公開(公告)日: | 2020-10-02 |
| 發明(設計)人: | 郭玉芳;樂陶然;劉歡;程強;陳世平;邵克堅;陳保友 | 申請(專利權)人: | 長江存儲科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L27/11551 | 分類號: | H01L27/11551;H01L27/11578;H01L21/28 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270 | 代理人: | 李路遙;張穎玲 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市洪山區東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 三維 存儲器 制造 方法 | ||
1.一種三維存儲器制造方法,包括:
在襯底上形成由交替布置的多個第一介質層和多個第二介質層構成的介質層堆疊;
刻蝕介質層堆疊以形成多個溝道區;
在所述溝道區之間,刻蝕介質層堆疊以形成暴露襯底的槽;以及
執行側向刻蝕,使得所述槽的側壁的曲率至少局部減少并擴大槽的孔徑,其中,側向刻蝕過程中,第二介質層的刻蝕速率大于第一介質層的刻蝕速率。
2.如權利要求1所述的三維存儲器制造方法,其中,側向刻蝕工藝為各向同性的濕法腐蝕或者干法刻蝕。
3.如權利要求1所述的三維存儲器制造方法,其中,執行側向刻蝕的之后進一步包括:
選擇性刻蝕去除第一介質層,形成橫向凹陷;
形成橫向凹陷之后進一步包括,在橫向凹陷中形成由柵極絕緣層和柵極導電層構成的柵極堆疊。
4.如權利要求1所述的三維存儲器制造方法,其中,執行側向刻蝕之后進一步包括:
在襯底中形成共源區;
在多個槽中、在共源區上形成源極接觸。
5.如權利要求4所述的三維存儲器制造方法,其中,形成共源區同時或者之后摻雜。
6.如權利要求1所述的三維存儲器制造方法,其中,形成多個溝道區的步驟進一步包括:
刻蝕介質層堆疊以形成多個溝道孔;
在溝道孔的側壁形成第二介質層堆疊;
在第二介質層堆疊上形成溝道層。
7.如權利要求6所述的三維存儲器制造方法,其中,形成第二介質層堆疊之前進一步包括,在溝道孔底部形成外延層。
8.如權利要求7所述的三維存儲器制造方法,其中,外延層的頂部超過介質層堆疊中最底部的第一介質層的頂部。
9.如權利要求1所述的三維存儲器制造方法,執行側向刻蝕以后進一步包括:過刻蝕襯底。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





