[發明專利]具有dV/dt可控性的IGBT在審
| 申請號: | 201810251390.8 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN108695381A | 公開(公告)日: | 2018-10-23 |
| 發明(設計)人: | C.耶格;J.G.拉文;A.菲利普;A.韋萊 | 申請(專利權)人: | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/739 | 分類號: | H01L29/739;H01L21/331;H01L29/06 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 黃濤;申屠偉進 |
| 地址: | 德國瑙伊比*** | 國省代碼: | 德國;DE |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 勢壘區 延伸 基本單元 電浮置 可控性 漂移區 豎直 | ||
1.一種IGBT(1),包括:
- 半導體本體(10),耦合到IGBT(1)的第一負載端子(11)和第二負載端子(12)并包括漂移區(100),所述漂移區(100)被配置為在所述端子(11、12)之間傳導負載電流,所述漂移區(100)包括第一導電類型的摻雜劑;
- 至少一個功率基本單元(1-1),包括:
- 具有控制溝槽電極(141)的至少一個控制溝槽(14)和具有另外的溝槽電極(151)的至少一個另外的溝槽(15),所述另外的溝槽電極(151)耦合到所述控制溝槽電極;
- 至少一個有源臺面(18),包括:源極區(101),具有第一導電類型的摻雜劑并且電連接至所述第一負載端子(11);和溝道區(102),具有第二導電類型的摻雜劑并且分離源極區(101)和漂移區(100),其中,在所述有源臺面(18)中,源極區(101)、溝道區(102)和漂移區(100)中每一個的至少相應區段被布置成鄰近控制溝槽(14)的側壁(144),并且其中,所述控制溝槽電極(141)被配置為從IGBT(1)的控制端子(13)接收控制信號并且控制所述有源臺面(18)中的負載電流,所述另外的溝槽電極(151)不被配置為控制所述負載電流;和
- 電浮置半導體勢壘區(105),實現在半導體本體(10)中并且包括第二導電類型的摻雜劑,所述勢壘區(105)與有源臺面(18)和所述另外的溝槽(15)的底部(155)二者橫向重疊。
2.根據權利要求1所述的IGBT(1),其中:
- 所述至少一個功率基本單元(1-1)還包括至少一個無源臺面(19),無源臺面(19)被布置成鄰近所述至少一個虛擬溝槽(15),其中第一負載端子(11)和無源臺面(19)之間的過渡部(191)至少為第一導電類型的電荷載流子提供電絕緣(112);和/或
- 所述另外的溝槽(15)的底部(155)和所述控制溝槽(14)的底部(145)二者都延伸到勢壘區(105)中。
3.根據權利要求1或2所述的IGBT(1),其中所述勢壘區(105)與所述有源臺面(18)橫向重疊達所述有源臺面(18)的寬度的至少50%。
4.一種IGBT(1),包括:
- 半導體本體(10),耦合到IGBT(1)的第一負載端子(11)和第二負載端子(12)并包括漂移區(100),所述漂移區(100)被配置為在所述端子(11、12)之間傳導負載電流,所述漂移區(100)包括第一導電類型的摻雜劑;
- 至少一個功率基本單元(1-1),包括:
- 具有控制溝槽電極(141)的至少一個控制溝槽(14)和具有另外的溝槽電極(151)的至少一個另外的溝槽(15);
- 至少一個有源臺面(18),包括:源極區(101),具有第一導電類型的摻雜劑并且電連接至所述第一負載端子(11);和溝道區(102),具有第二導電類型的摻雜劑并且分離源極區(101)和漂移區(100),其中,在所述有源臺面(18)中,源極區(101)、溝道區(102)和漂移區(100)中每一個的至少相應區段被布置成鄰近控制溝槽(14)的側壁(144),并且其中,所述控制溝槽電極(141)被配置為從IGBT(1)的控制端子(13)接收控制信號并且控制所述有源臺面(18)中的負載電流;和
- 電浮置半導體勢壘區(105),實現在半導體本體(10)中并且包括第二導電類型的摻雜劑,所述勢壘區(105)與有源臺面(18)的整個寬度和所述另外的溝槽(15)的底部(155)二者橫向重疊。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于英飛凌科技股份有限公司,未經英飛凌科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810251390.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:半導體裝置
- 下一篇:半導體裝置及其制造方法
- 同類專利
- 專利分類





