[發明專利]一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法在審
| 申請號: | 201810249742.6 | 申請日: | 2018-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN108445359A | 公開(公告)日: | 2018-08-24 |
| 發明(設計)人: | 陳曉琳;陳林聰;張薇;李欣然;曾福平 | 申請(專利權)人: | 海南電網有限責任公司電力科學研究院 |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人: | 陳歡 |
| 地址: | 570311 *** | 國省代碼: | 海南;46 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 局部放電 絕緣缺陷 自由金屬 檢測 放電裝置 內部絕緣缺陷 分解產物 固有缺陷 積極意義 平穩運行 運行狀況 狀態維修 構建 絕緣 檢修 清洗 測試 幫助 保證 安全 制定 | ||
1.一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
S1、清洗裝置:清洗SF6放電氣室內壁和絕緣缺陷模型,去除氣室內雜質和灰塵;
S2、固有缺陷測試:在進行局部放電檢測前,對裝置的固有局部放電特性進行測試,即無人工模擬缺陷時,同樣環境下檢測裝置本身沒有產生局部放電的檢測電壓閾值;
S3、絕緣缺陷局部放電:將絕緣缺陷模型放置到放電室內,使用真空泵抽取放電室腔體內空氣并通入SF6氣體反復沖洗,再次抽取真空后充入高純SF6氣體,待氣體擴散均勻后用逐步升壓法對缺陷模型施加檢測電壓,使缺陷在允許的電壓閾值內產生穩定的局部放電;
S4、局部放電檢測:檢測絕緣缺陷模型的局部放電信號,通過調整電壓值得到不同放電量值,以探索不同放電量登記下的SF6分解特性;
S5、放電氣體采集與檢測:用專用采樣袋采集放電氣體,并利用氣相色譜儀、氣相色譜-質譜聯動儀和傅里葉紅外測量儀對放電氣體進行實時檢測,對分解氣體進行定性定量分析。
2.根據權利要求1所述的一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法,其特征在于,所述絕緣缺陷模型為高壓球電極與接地碗電極的組合體,高壓球電極位于接地碗電極上方。
3.根據權利要求1所述的一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法,其特征在于,S4中,通過局部放電信號監測系統采取脈沖電流法對局部放電信號進行監測。
4.根據權利要求3所述的一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法,其特征在于,所述局部放電信號檢測系統包括耦合電容、無感檢測阻抗和數字存儲示波器,所述耦合電容與所述無感檢測阻抗電連接,所述無感檢測阻抗與所述數字存儲示波器通過電纜相連接。
5.根據權利要求4所述的一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法,其特征在于,S4中,通過校準電路對局部放電量進行校正,所述校準電路中設有局部放電校準儀,所述局部放電校準儀與所述絕緣缺陷模型相連接。
6.根據權利要求1所述的一種SF6在自由金屬絕緣缺陷局部放電的檢測方法,其特征在于,對分解氣體的分析內容包括氣體組份、濃度、產氣率和局放能量。
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