[發明專利]一種低滲氣藏薄儲層甜點地震預測方法有效
| 申請號: | 201810245140.3 | 申請日: | 2018-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN110297264B | 公開(公告)日: | 2021-01-01 |
| 發明(設計)人: | 賈躍瑋;魏水建;王丹;王鵬 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院 |
| 主分類號: | G01V1/00 | 分類號: | G01V1/00;G01V1/30 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;何嬌 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低滲氣藏薄儲層 甜點 地震 預測 方法 | ||
本發明提供一種低滲氣藏薄儲層甜點地震預測方法,其包括以下步驟:(1)對疊前AVO梯度屬性進行計算;(2)對疊后頻率斜率屬性進行計算;(3)計算權重系數;(4)對薄儲層甜點屬性進行計算。本發明不僅克服了常規地震屬性分析方法預測多解性強的難題,而且較好表征了含氣薄儲層所特有的地震響應特征,經實鉆驗證具有較高的符合率,實現了薄儲層甜點的高精度預測。
技術領域
本發明屬于油氣勘探開發領域,特別涉及低滲氣藏薄儲層甜點地震預測方法。
背景技術
致密低滲天然氣資源量占我國天然氣總資源量的40%左右,現階段此類氣藏存在著儲量較大但可動用程度較低的難題。而對低滲氣藏中相對優質儲層甜點的預測與刻畫是增加此類氣藏開發效益的重要工作。其中,儲層“甜點”的概念由美國地質調查局于2000年首次提出,定義為可以持續提供30年產量的致密砂巖氣區塊。通常大多數學者認為“甜點”是致密砂巖氣藏內部孔滲物性相對發育處的天然氣富集區帶,具有一定厚度和范圍,且能夠提供較高工業產能的優質儲層發育區。
地球物理學界目前針對不同類型的油氣藏研究了多種“甜點”預測方法,現有公開發表的文章主要集中在厚層儲層“甜點”的地震響應機理、疊前及疊后地震多屬性融合“甜點”預測等相關研究工作。通過調研發現,目前對于厚層儲層甜點地震預測方法已見諸于一些文獻和研究成果,可以分為三種地震評價方法:一種是針對儲層沉積相帶、儲層物性、儲層含氣性等影響儲層品味的主要參數或特征分別采用不同的地震方法開展預測,并將多種預測結果進行逐級控制或疊加求交集的方法預測出甜點儲層,見專利文獻《甜點儲層的預測方法及預測裝置》、論文《東海低滲氣藏儲層改造區“甜點”預測技術研究與應用》。第二種“甜點”預測方法通過探尋某一種有利地震屬性參數,并將該屬性參數的預測結果直接與“甜點”儲層預測緊密關聯。已經有對地震速度異常及泊松阻尼因子等參數進行“甜點”預測的實例,見專利文獻《一種應用地震層速度識別頁巖氣甜點的方法》和文獻《甜點及其融合屬性在深水儲層研究中的應用》。第三種方法通過預測儲層含氣性、可壓裂性、孔隙度、地層壓力以及裂縫、地應力等發育狀況,并確定單參數門檻值并賦予不同的權值,對單參數進行加權運算,得到綜合評價值,并根據評價值對頁巖氣區塊進行綜合分類評價。請見專利文獻《一種頁巖甜點地震綜合評價方法》。
儲層“甜點”的預測可以為井位優選提供重要依據,進而提高儲層改造的效果,大幅度提高單井產能,實現低孔滲儲層的經濟有效開發。目前氣藏儲層“甜點”地震預測研究工作主要針對的是大套厚層且含氣豐度較高的儲層類型,形成了基于某一特定地震屬性參數,或多種地球物理參數的聯合預測方法,技術方法已經漸顯成熟。但上述方法對薄儲層甜點預測多解性較強,無法有效識別薄儲層甜點。致密低滲氣藏資源量豐富,但大多數儲層均為低滲透率、低孔隙度、低含氣豐度的低品位氣藏,由于低滲氣藏薄儲層物性較差,含氣性隱蔽,甜點地震響應特征模糊,地震預測難,常規的屬性法或多參數逐級評價法均無法有效表征儲層“甜點”發育特征,因此如何正確描述和預測薄儲層甜點分布是解決致密低滲氣藏薄儲層開發部署和井位優化調整的關鍵。因此如何找尋相對高含氣富集區,探尋有利的薄儲層“甜點”,是提高致密低滲氣藏薄儲層開發效率的重要因素。
基于上述內容,本發明從薄儲層“甜點”疊前、疊后地震響應特征出發,基于疊前AVO(Amplitude variation with offset,振幅隨偏移距的變化)梯度屬性及疊后瞬時頻率變化率屬性分析,建立了一種低滲氣藏薄儲層甜點地震預測方法,從而為此類氣藏的勘探開發及目標區域分析提供依據。
發明內容
本發明的目的是針對低滲薄儲層所反映的地球物理特征信息,進而發明出預測優質含氣儲層甜點的一套方法,從而為此類氣藏的勘探開發及目標區域分析提供依據。
為達上述目的,本發明提供一種低滲氣藏薄儲層甜點地震預測方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)對疊前AVO梯度屬性進行計算;
(2)對疊后頻率斜率屬性進行計算;
(3)計算權重系數;
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