[發明專利]對用于疊瓦組件的電池片進行測試的方法和系統

在審

• 申請號: 201810243968.5
• 申請日: 2018-03-23
• 公開（公告）號: CN110299296A
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發明（設計）人: 尹丙偉
• 申請（專利權）人: 成都曄凡科技有限公司
• 主分類號: H01L21/66
• 分類號: H01L21/66
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 劉迎春;王春俏

1.一種對用于疊瓦組件的電池片進行測試的方法，所述電池片具有正面和與所述正面相對的背面，在所述正面形成有彼此平行地延伸的多條正面主柵線，在所述背面形成有彼此平行地延伸的多條背面主柵線，所述測試方法包括以下步驟：

提供可調上測試裝置，所述可調上測試裝置包括數量可調的上探針排；

提供可調下測試裝置，所述可調下測試裝置包括數量可調的下探針排或測試板；

將所述可調上測試裝置和所述可調下測試裝置電連接到測試設備以進行測試；

其特征在于，根據所測試的疊瓦組件的電池片選擇所述可調上測試裝置的探針排數量和所述可調下測試裝置的探針排數量或測試板，從而使所述可調上測試裝置位于所述正面與所述正面主柵線接觸并導通，并且使所述可調下測試裝置位于所述背面與所述背面主柵線和所述背電場接觸并導通。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將所述上探針排部分或全部地設置為雙探針排和/或將所述下探針排部分或全部地設置為雙探針排。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，使得所述多條正面主柵線中彼此鄰近的兩條正面主柵線同時與所述可調上測試裝置的雙探針排接觸并導通；和/或使得所述多條背面主柵線中的一條背面主柵線和所述背電場同時與所述可調下測試裝置的所述雙探針排接觸并導通。

4.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，將所述可調上測試裝置的雙探針排中的探針對布置成既在所述可調上測試裝置的雙探針排的橫向方向上又在所述可調上測試裝置的雙探針排的縱向方向上錯開。

5.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，將所述可調上測試裝置的雙探針排中的探針對布置成在所述可調上測試裝置的雙探針排的縱向方向上部分重疊、在所述可調上測試裝置的雙探針排的橫向方向上錯開。

6.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，將所述可調下測試裝置的雙探針排中的探針對布置成既在所述可調下測試裝置的雙探針排的橫向方向上又在所述可調下測試裝置的雙探針排的縱向方向上錯開。

7.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，將所述可調下測試裝置的雙探針排中的探針對布置成在所述可調下測試裝置的雙探針排的縱向方向上部分重疊、在所述可調下測試裝置的雙探針排的橫向方向上錯開。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將所述板狀測試裝置設置為單個矩形板或多個條形板。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，將所述板狀測試裝置設置為鍍金銅板。

10.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，對所述電池片進行效率測試和電致發光篩選測試。

11.一種對用于疊瓦組件的電池片進行測試的系統，所述電池片具有正面和與所述正面相對的背面，在所述正面形成有彼此平行地延伸的多條正面主柵線，在所述背面形成有彼此平行地延伸的多條背面主柵線，所述系統包括：

可調上測試裝置，所述可調上測試裝置包括數量可調的上探針排；

可調下測試裝置，所述可調下測試裝置包括數量可調的下探針排或測試板；

其中，所述可調上測試裝置和所述可調下測試裝置電連接到測試設備，

其特征在于，根據所測試的疊瓦組件的電池片選擇所述可調上測試裝置的探針排數量和所述可調下測試裝置的探針排數量或測試板，從而使所述可調上測試裝置位于所述正面與所述正面主柵線接觸并導通，并且使所述可調下測試裝置位于所述背面與所述背面主柵線和所述背電場接觸并導通。

12.按照權利要求11所述的系統，其特征在于，所述上探針排部分或全部地為雙探針排和/或所述下探針排部分或全部地為雙探針排。