[發(fā)明專利]一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810237179.0
• 申請日: 2018-03-21
• 公開（公告）號: CN108520762B
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王宇;何龍;彭一真;楊昂
• 申請（專利權(quán)）人: 西安交通大學
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 徐文權(quán)

1.一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法，其特征在于，過程如下：

對若干個硬盤進行模態(tài)測試，統(tǒng)計所有硬盤的共振頻率，通過所有共振頻率確定批量加速退化試驗的振動掃頻范圍；采用振動對若干硬盤進行加速退化摸底試驗，統(tǒng)計所有硬盤加速退化所對應(yīng)的振動幅值，通過所有振動幅值確定批量加速退化試驗的振動幅值；

在振動掃頻范圍和振動幅值條件下，對多個硬盤同時進行振動，振動過程中，集群式的實時同步采集和記錄所有硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)數(shù)據(jù)；

當某一硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)數(shù)據(jù)中的缺陷生長列表值達到規(guī)定的閾值時，則判定該硬盤發(fā)生失效；當某一硬盤發(fā)生失效后，停止采集該硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)數(shù)據(jù)，直至所有硬盤發(fā)生失效。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法，其特征在于，硬盤模態(tài)測試的過程如下：

將硬盤固定在振動臺上，以掃頻模式對硬盤施加振動，同時用多普勒激光測振儀記錄硬盤Motor Base的頻響曲線及振型，通過對比硬盤Motor Base各階振型，確定硬盤MotorBase一階固有頻率；

統(tǒng)計各硬盤Motor Base一階固有頻率，并確定批量加速退化試驗中的振動頻率，并根據(jù)振動頻率劃定振動掃頻范圍。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法，其特征在于，采用振動對若干硬盤進行加速退化摸底試驗，統(tǒng)計所有硬盤加速退化所對應(yīng)的振動幅值，通過所有振動幅值確定批量加速退化試驗的振動幅值的過程如下：

將硬盤固定在振動臺上，在振動臺掃頻模式下，逐步調(diào)高振動應(yīng)力幅值，記錄各振動應(yīng)力值作用期間硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)數(shù)據(jù)并求得各振動應(yīng)力值作用下硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)變化率；

再比較各振動應(yīng)力值作用下硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)變化率，并根據(jù)硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)變化率對振動幅值劃分振動試驗應(yīng)力等級水平，每個應(yīng)力等級水平對應(yīng)一個振動幅值；

再根據(jù)硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)變化率和試驗周期時長要求選取振動試驗應(yīng)力等級水平，并以該應(yīng)力等級水平對應(yīng)的振動幅值作為對多個硬盤同時進行加速退化試驗的振動幅值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法，其特征在于，應(yīng)力等級水平劃分為3個，分別為低應(yīng)力等級水平、中應(yīng)力等級水平和高應(yīng)力等級水平，低應(yīng)力等級水平、中應(yīng)力等級水平和高應(yīng)力等級水平對應(yīng)的振動幅值分別為0.2g、0.3g和0.5g。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任意一項所述的一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法，其特征在于，振動應(yīng)力的施加方式為恒定應(yīng)力施加方式、步進應(yīng)力施加方式和循環(huán)應(yīng)力施加方式中的一種或幾種的組合。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任意一項所述的一種振動環(huán)境下批量硬盤加速退化試驗方法，其特征在于，集群式的實時同步采集和記錄所有硬盤的S.M.A.R.T.參數(shù)數(shù)據(jù)包括：02_0000無延遲校正寫錯誤計數(shù)；02_0001延遲校正寫錯誤計數(shù)；02_0002累計寫錯誤；02_0003累計校正寫錯誤；02_0004累計算法校正寫錯誤；02_0005累計寫字節(jié)數(shù)；02_0006累計不可校正寫錯誤；03_0000無延遲校正讀錯誤計數(shù)；03_0001延遲校正讀錯誤計數(shù)；03_0002累計讀錯誤；03_0003累計校正讀錯誤；03_0004累計算法校正讀錯誤；03_0005累計讀字節(jié)數(shù)；03_0006累計不可校正讀錯誤；04_0000無延遲校正逆向讀錯誤計數(shù)；04_0001延遲校正逆向讀錯誤計數(shù)；04_0002累計逆向讀錯誤；04_0003累計校正逆向讀錯誤；04_0004累計算法校正逆向讀錯誤；04_0005累計逆向讀字節(jié)數(shù)；04_0006累計不可校正逆向讀錯誤。