[發明專利]一種用于檢測外部存儲器接口故障的方法

在審

• 申請號: 201810236368.6
• 申請日: 2018-03-21
• 公開（公告）號: CN108447524A
• 公開（公告）日: 2018-08-24
• 發明（設計）人: 李娜;劉波;湯小平
• 申請（專利權）人: 清能德創電氣技術（北京）有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G11C29/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供了一種用于檢測外部存儲器接口故障的方法，并對數據線進行拉高、拉低和并聯檢測，對地址線進行錯誤檢查，通過對地址線和數據線的區分檢測，能夠檢測外部存儲器的硬件故障，全面完整地確定出外部接口存儲器的地址線和/或數據線是否故障，具體為哪一個信號發生故障，以及具體的故障原因，省去繁瑣的硬件檢測。

技術領域

本發明屬于電路信號檢測領域，涉及一種用于檢測外部存儲器接口故障的方法。

背景技術

外部存儲器接口作為外部存儲器接口主要用來同并行存儲器連接，這些存儲器包括SDRAM、SBSRAM、Flash、SRAM存儲器等，外部存儲器接口還可以同外部并行設備進行連接，這些設備包括并行A/D、D/A轉換器、具有異步并行接口的專用芯片，并可以通過外部存儲器接口同FPGA、CPLD等連接。最常見的用途是同時連接FLASH和SRAM。對于產品來說，我們通常都優先選擇外部存儲器為BGA封裝，由于其低成本，小的輻射噪聲，省空間，散熱快，更穩定牢靠，使板子的集成密度高。當外部存儲器發生故障時，通常我們都采取硬件的手段來進行檢查，但當為BGA封裝時，采取硬件手段就非常不好操作，費時費力。

現在有些對外部存儲器的檢測方法有硬件的也有軟件的，他們只限于檢測地址線還是數據線發生錯誤，沒有具體到哪個信號發生什么樣的故障。

發明內容

本發明提出一種用于檢測外部存儲器接口故障的方法，可以更方便快捷地檢測出故障的原因。

一種用于檢測外部存儲器接口故障的方法，其特征在于：

步驟1、先向存儲器寫一定數量范圍的數據；

步驟2、讀數據，將讀到的數據與寫入數據進行比較，計算寫入數據正確的個數；

步驟3、當成功寫入數據的個數等于步驟1中的寫入個數時，表示存儲器接口正常，結束測試，而當成功寫入數據的個數不等于步驟1中的寫入個數時，證明沒有寫入數據成功，進入步驟4；

步驟4、數據線檢查為向首地址寫入數據，對數據線進行拉高、拉低或并聯的檢查；

步驟5、當數據線全部被拉低時，確定為數據線故障，結束檢測，當拉高與拉低數據總線的總數為0xFFFF時，確定為數據線錯誤，而地址線是否錯誤為未知，結束檢測；當數據線全部有錯誤時，結束檢測，不進行地址線檢查，其余情況均進入步驟6進行地址線檢查；

步驟6，進行地址線錯誤檢查，若地址線錯誤值與數據線錯誤值均不為零，則認定地址線與數據線均有錯誤，并結束檢查，否則，進入步驟7；

步驟7，若此時確定數據線錯誤值為0，則確定為只有地址線有錯誤，結束檢查，否則，則確定為只有數據線有錯誤，結束檢查；

優選地，所述步驟5中對地址線的檢查步驟按照如下操作：對異步存儲器來說首地址為0，它有20位地址線，若其中一位地址線未被識別，則除該位其它位相同的地址寫入數據相同，故地址線檢查思路為20位地址線第一位為1，其它位為0，取其數據看是否與首地址的數據相同，相同為地址線第一位未被識別，接下來檢查第二位，第二位為1，其它位為0，以此類推，檢查20位地址線是否正確，其余類型的存儲器依照此步驟進行類似操作；

優選地，對數據線進行拉高、拉低的檢查流程：

步驟11、將測試起始地址賦值給指針pnStartAddr；

步驟12、寫入數據0xFFFF；

步驟13、若定義了讀取延時，則進行延時，否則直接讀取；

步驟14、將寫入數據與讀取到的數據位異或，將異或結果賦值給被拉低的數據線值；

步驟15、寫入數據0x0；