[發明專利]一種采集屏幕亮度和色度的方法及裝置有效
| 申請號: | 201810229789.6 | 申請日: | 2018-03-20 |
| 公開(公告)號: | CN108470334B | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 田廣;王中琦;李旭亮 | 申請(專利權)人: | 上海順久電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/90 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 采集 屏幕 亮度 色度 方法 裝置 | ||
1.一種采集屏幕亮度和色度的方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待測圖像,所述待測圖像包含拼接屏在當前灰階下的圖像;所述拼接屏包括M行N列的子屏單元,M和N均為大于或等于2的整數,所述子屏單元中存在顯示有特征圖卡的子屏單元和顯示有純色圖卡的子屏單元,且每一行子屏單元或每一列子屏單元中至少有一個子屏單元顯示有所述特征圖卡;所述特征圖卡包括K個測試圖形,K為大于或等于4的整數,所述測試圖形用于確定子屏單元的區域信息;所述特征圖卡的背景顏色與所述測試圖形的顏色不同,所述純色圖卡的背景顏色與所述測試圖形的顏色不同;所述待測圖像中的測試圖形按照陣列分布,且每個特征圖卡中包含相同數量的測試圖形;
根據所述待測圖像中每個像素點的測量值,確定每個像素點對應的檢測參數;
將所述待測圖像的像素點中,所述檢測參數大于目標閾值的像素點確定為所述測試圖形對應的像素點;
根據所述測試圖形的像素點的位置信息,確定所述測試圖形的中心位置信息;
根據所述中心位置信息,確定所述待測圖像中顯示有所述純色圖卡的子屏單元所處的區域信息;
根據所述區域信息,采集所述顯示有所述純色圖卡的子屏單元的亮度和色度信息。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述中心位置信息,確定所述待測圖像中顯示有所述純色圖卡的子屏單元所處的區域信息,包括:
將每一行測試圖形的中心位置進行連接,獲得水平直線,并將每一列測試圖形的中心位置進行連接,獲得垂直直線;
獲取所述水平直線和所述垂直直線在所述純色圖卡中的交點的位置信息;
根據所述純色圖卡中的交點的位置信息,確定顯示有所述純色圖卡的子屏單元所處的區域信息。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述測試圖形的像素點的位置信息包括橫坐標和縱坐標,所述根據所述測試圖形的像素點的位置信息,確定所述測試圖形的中心位置信息,包括:
確定屬于一個測試圖形的像素點;
計算所述屬于一個測試圖形的像素點中的所有像素點的橫坐標的平均值,縱坐標的平均值,并將所述橫坐標的平均值和所述縱坐標的平均值確定為所述一個測試圖形的中心位置信息。
4.根據權利要求1-3中任一項所述的方法,其特征在于,在所述將所述待測圖像的像素點中,所述檢測參數大于目標閾值的像素點確定為測試圖形對應的像素點之前,還包括:
將所述待測圖像的像素點中,所述檢測參數大于備選閾值的像素點確定為所述測試圖形的像素點;其中,所述備選閾值屬于備選閾值區間中的任意值,所述備選閾值區間包括:自所述檢測參數的最小值起按照預定步長增加至所述檢測參數的最大值為止的所有值;
根據所述測試圖形的像素點,確定所述測試圖形之間的行分隔線和列分隔線,所述行分隔線和所述列分隔線交叉形成了至少一個網格;
統計所述至少一個網格中,每個包含所述測試圖形的像素點的網格中像素點的數量;
計算平均值,所述平均值為所述測試圖形的像素點的數量除以所有包含所述測試圖形的像素點的網格數量;
計算所述平均值與每個包含所述測試圖形的像素點的網格中像素點的數量的差值,并將所有差值中最大的差值確定為目標差值;
根據所述目標差值和所述平均值確定所述備選閾值對應的分數值;
將所述備選閾值區間包括的備選閾值中,所述分數值大于預設值的備選閾值確定為所述目標閾值。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述根據所述測試圖形的像素點,確定所述測試圖形之間的行分隔線和列分隔線,包括:
根據所述測試圖形的像素點,將所述測試圖形中的第一行測試圖形進行去噪聲與線性擬合,得到第一水平直線,并將最后一行測試圖形進行去噪聲與線性擬合,得到第二水平直線;
將所述測試圖形中的第一列測試圖形進行去噪聲與線性擬合,得到第一垂直直線,并將最后一列測試圖形進行去噪聲與線性擬合,得到第二垂直直線;
根據所述第一水平直線和所述第二水平直線,以及所述待測圖像中每一列測試圖形的數量,確定所述測試圖形之間的所述行分隔線;
根據所述第一垂直直線和所述第二垂直直線,以及所述待測圖像中每一行測試圖形的數量,確定所述測試圖形之間的所述列分隔線。
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