[發明專利]一種觸摸屏線性度補償方法及使用該方法的裝置

有效

• 申請號: 201810228602.0
• 申請日: 2018-03-20
• 公開（公告）號: CN108733248B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 徐延;譚云峰;余盛海
• 申請（專利權）人: 黃石瑞視光電技術股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/045
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 陳建軍

本發明屬于觸摸屏設計制造技術領域，公開了一種觸摸屏線性度補償方法，包括步驟：建立坐標系，校屏后得到物理平面坐標與邏輯平面坐標的關系式，根據該關系式完成觸摸屏上任一點的線性補償。本發明還公開了使用該方法的一種觸摸屏線性度補償裝置，包括具有AD轉換器和USB接口的MCU及分別與所述MCU連接的校屏觸發電路和觸摸屏坐標檢測電路，所述USB接口連接為所述裝置供電的電源，所述觸摸屏坐標檢測電路包括測量信號控制發送電路和測量信號接收電路。本發明通過線性補償，將線性度在1.5％～2.5％的五線式觸摸屏校正補償至1.5％以內，提高了產品約6％的良品率。

技術領域

本發明屬于觸摸屏設計制造技術領域，尤其是涉及一種觸摸屏線性度補償方法及使用該方法的裝置。

背景技術

電阻式觸摸屏常和點陣式液晶顯示屏(LCD)屏疊加在一起配套使用,構成一個矩形的物理平面(無偏差的理想平面，該平面上的點對應著軟件設計規定控制的目標)，而由用戶觸摸的觸摸點集合經過控制電路的A/D轉換器，得到具體顯示坐標的集合，這個集合構成了一個邏輯平面，如圖1所示，圖1中虛線是物理平面坐標系，實線是邏輯平面坐標系，A、B、C是物理平面上的點，A’、B’、C’是邏輯平面上實際顯示的點。線性偏差就是這個物理平面上的點的位置坐標與對應的邏輯平面上的點的位置坐標的偏差，這個偏差稱為線性度。線性偏差產生的原因主要有：電氣系統的噪聲、機械誤差(如LCD與觸摸屏裝配時偏移)和觸摸屏設計制造偏差。

由于五線式觸摸屏在制造過程中難免會有缺陷產生的情況，這造成部分產品的線性度達不到1.5％的要求，現有工藝條件下，滿足線性度≤1.5％的五線式觸摸屏的良品率在90％左右，但是滿足線性度1.5％～2.5％的線性旋轉和線性漂移的產品占6％左右，而這6％的產品均被當作不良品廢棄，嚴重影響成品率，并造成很大的浪費。

發明內容

本發明的目的在于克服上述技術不足，提出一種觸摸屏線性度補償方法及使用該方法的裝置，解決現有技術中線性度略高于合格要求的觸摸屏只能被當做不良品廢棄的技術問題。

為達到上述技術目的，本發明的技術方案提供一種觸摸屏線性度補償方法，包括如下步驟：

S1、將觸摸屏的邏輯平面映射到物理平面上，對物理平面建立坐標系，令觸摸屏上任一點M在物理平面坐標為M(x_m,y_m)，邏輯平面補償坐標為M’(x_m’,y_m’)，且滿足關系式，

x_m’＝k₁*x_m+k₂*y_m+k₃(1)，

y_m’＝k₄*x_m+k₅*y_m+k₆(2)，

其中k₁、k₂、k₃、k₄、k₅、k₆是觸摸屏的偏移系數；

S2、在觸摸屏上指定三個點A、B、C，定義其物理平面坐標分別為A(x_a,y_a)、B(x_b,y_b)、C(x_c,y_c)，并根據該物理平面坐標對應測量得出的邏輯平面坐標分別為A’(x_a’,y_a’)、B’(x_b’,y_b’)、C’(x_c’,y_c’)，其中所述邏輯平面坐標的測量包括如下步驟：

S2.1、芯片讀取指定點A的物理平面坐標A(x_a,y_a)，并在觸摸屏上顯示；