[發明專利]數據變更影響域分析方法

有效

• 申請號: 201810225165.7
• 申請日: 2018-03-19
• 公開（公告）號: CN108536585B
• 公開（公告）日: 2022-01-11
• 發明（設計）人: 牟永敏
• 申請（專利權）人: 北京信息科技大學
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京東方盛凡知識產權代理事務所(普通合伙) 11562
• 代理人: 宋平

本發明提供一種數據變更影響域分析方法，包括如下步驟：S1，比較變更前后的程序，提取變化函數以及變化函數內的變化數據；S2，根據變化數據，獲得關鍵函數集合；S3，根據關鍵函數集合，提取變更函數調用路徑；S4，根據變更函數調用路徑，提取影響基本路徑集，獲得數據變更影響域。本發明的目的在于提供一種數據變更影響域分析方法，以完整準確的提取程序影響基本路徑集，定位數據變更影響域，提高回歸測試的效率。

技術領域

本發明屬于軟件測試領域，具體涉及一種數據變更影響域分析方法。

背景技術

軟件測試是軟件開發過程中至關重要的一步，代碼測試工作在軟件研發中的所占比重逐漸增大，在大中型軟件的研發中已達到投入成本的60％以上。因此如何設計出高質量的測試用例集，以最小的代價達到最好的測試效果，一直是軟件測試人員追求的目標。在軟件的生命周期中，會不斷地對軟件進行更新和維護，軟件的變更勢必是會帶來一些問題，而數據又是程序的核心部分，所以不可避免的會出現由于數據發生改變而引發的程序錯誤問題，要檢測這些錯誤就必須進行回歸測試。為了提高回歸測試的效率，需要確定數據變更影響域。

但是，目前對變更影響域范圍的研究大部分都是直接從語句級別進行分析，分析效率會由于巨大的工作量而受到影響。

發明內容

針對相關技術中存在的問題，本發明的目的在于提供一種數據變更影響域分析方法，以完整準確的提取程序影響基本路徑集，定位數據變更影響域，提高回歸測試的效率。

本發明提供一種數據變更影響域分析方法，包括如下步驟：

S1，比較變更前后的程序，提取變化函數以及變化函數內的變化數據；

S2，根據變化數據，獲得關鍵函數集合；

S3，根據關鍵函數集合，提取變更函數調用路徑；

S4，根據變更函數調用路徑，提取影響基本路徑集，獲得數據變更影響域。

根據本發明，通過文本比較工具Beyound Compare進行步驟S1。

根據本發明，關鍵函數集合包括變化函數和受變化函數影響的函數。

根據本發明，步驟S2包括如下步驟：

S21，根據變化數據，通過數據信息流規則得到受變化數據影響的數據；

S22，根據受變化數據影響的數據，得到受變化函數影響的函數。

根據本發明，步驟S21的具體步驟如下：

數據信息流是所要識別的對象集中數據的二元關系，將識別對象集重新劃分為賦值語句、分支語句、循環語句和函數調用語句，這些語句假設為stmt；則數據信息流規則DIFR的表達式為：

DIFR＝{v0→v1|v0∈stmt,v1∈stmt}

表示語句stmt中的變量v1受變量v0的影響；

賦值語句：

規則1：v0＝v1；(v0和v1不是指針變量){v1→v0}

規則2：v0＝v1；(v0和v1是指針變量){v0→v1，v1→v0}

規則3：v0＝v1；{v0→v1，v1→v0}

規則4：v0＝⊙(v1,v2…vn)；{v1→v0，v2→v0...vn→v0}

分支語句：

規則5：if(v0＝＝m){v1＝a}；

else{v2＝b}；{v0→v1，v0→v2}