[發明專利]一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 201810220339.0
• 申請日: 2018-03-16
• 公開（公告）號: CN108548825A
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發明（設計）人: 林凌;夏彬標;李剛
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 李林娟

1.一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：檢測臺，

所述檢測臺用于承載待檢測的透明平板；所述檢測臺固定連接有照明裝置、且兩個照明裝置分別位于檢測臺的相鄰兩側；

照明裝置發射出的線性光源平行于透明平板，并穿過透明平板；在檢測臺的上方設置有圖像采集裝置，用于向下采集透明平板在通過照明裝置二維側向照光之后的圖像。

2.根據權利要求1所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，

所述圖像采集裝置為一個時，具有可移動功能。

3.根據權利要求1所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，

所述圖像采集裝置為多個時，為固定的模式，從多個角度采集待檢測透明平板的圖像。

4.根據權利要求1所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，所述照明裝置用于提供二維側向光源，包括：光源支架，

在所述光源支架上設置有光源高度調節運動機構和光源強度調節電路，光源高度調節運動機構上設置有光源水平調節運動機構，光源強度調節電路連接光源。

5.根據權利要求4所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，

所述光源的亮度可調、以及光源的水平位置和垂直位置可調，用于將平行光線入射進待檢測透明平板中。

6.根據權利要求5所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，

所述光源采用短波光源，利于微小缺陷的檢測。

7.根據權利要求1所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置，其特征在于，

相鄰兩側的光線從透明平板相鄰兩側射入，從相對的另外兩側射出。

8.一種用于權利要求1-7中任一權利要求所述的一種基于二維光照的透明平板缺陷檢測裝置的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括以下步驟：

二維側向光源中的第一入射光由光源產生，第二入射光由另一光源產生；

相鄰兩側的第一入射光、第二入射光從透明平板的相鄰兩側射入，從相對的另外兩側射出第一出射光和第二出射光；

根據缺陷處的折射率與透明平板的折射率不同而產生全反射或折射，導致缺陷處的光照強度與無缺陷處的光照強度不同，由于光照強度不同，在圖像處理階段根據灰度值的變化梯度來確定缺陷的存在，由機器視覺技術進行快速高效處理判別。

9.根據權利要求8所述的檢測方法，其特征在于，所述機器視覺技術包括：

圖像處理部分、圖像的讀入、圖像信號的預處理、以及缺陷判斷。

10.根據權利要求9所述的檢測方法，其特征在于，所述缺陷判斷具體為：

將預處理之后的圖像數據與標準無缺陷的圖像數據進行差分處理，根據差分結果與缺陷閾值進行判斷，得出結論。