[發明專利]一種接近檢測的方法、裝置、存儲介質及電子設備在審
| 申請號： | 201810219477.7 | 申請日： | 2018-03-16 |
| 公開（公告）號： | CN110275213A | 公開（公告）日： | 2019-09-24 |
| 發明（設計）人： | 張海平;劉磊;楊樂 | 申請（專利權）人： | 廣東歐珀移動通信有限公司 |
| 主分類號： | G01V8/10 | 分類號： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黃威 |
| 地址： | 523860 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 紅外光 電子設備 接近傳感器 接近檢測 顯示屏 時間段 存儲介質 目標時序 探測信號 顯示屏覆蓋 工作時序 申請 發光 發射 | ||
1.一種接近檢測的方法，應用于電子設備，其特征在于，所述電子設備包括顯示屏和紅外光接近傳感器，所述顯示屏允許紅外光通過，所述紅外光接近傳感器被所述顯示屏覆蓋，所述方法包括：
當所述紅外光接近傳感器工作時，將所述顯示屏的工作時序設置為目標時序，所述目標時序包括目標時間段，在所述目標時間段內控制所述顯示屏不發光；
控制所述紅外光接近傳感器在所述目標時間段內發射紅外光探測信號；
根據所述紅外光探測信號進行接近檢測。
2.根據權利要求1所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述在所述目標時間段內控制所述顯示屏不發光，包括：
在所述目標時間段內，控制所述顯示屏的像素電路的供電正壓和供電負壓間的電勢差小于目標閾值，以使所述顯示屏不發光，所述目標閾值為允許所述像素電路中的發光元器件發光的所述供電正壓和所述供電負壓間的電勢差。
3.根據權利要求2所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述控制所述顯示屏的像素電路的供電正壓和供電負壓間的電勢差小于目標閾值，包括：
將所述顯示屏的像素電路的供電正壓和供電負壓的數值均設置為零。
4.根據權利要求1所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述方法還包括：
當所述紅外光接近傳感器不工作時，將所述顯示屏的工作時序由所述目標時序切換到基礎時序，所述基礎時序包括第一掃描時間段和第一空白時間段；
所述第一掃描時間段為用于所述顯示屏進行掃描刷新的時間段；
所述第一空白時間段為用于驅動芯片處理下一幀數據并準備顯示的時間段。
5.根據權利要求4所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述目標時序還包括第二掃描時間段和第二空白時間段；
所述第二掃描時間段為用于所述顯示屏進行掃描刷新的時間段；
所述第二空白時間段為用于驅動芯片處理下一幀數據并準備顯示的時間段；
所述將所述顯示屏的工作時序設置為目標時序，包括：將所述顯示屏的工作時序設置為目標時序，并控制所述目標時序的周期與所述基礎時序的周期相等。
6.根據權利要求5所述的接近檢測的方法，其特征在于，在將所述顯示屏的工作時序設置為目標時序之后，所述方法還包括：
若檢測到所述第二掃描時間段的時間長度小于所述第一掃描時間段，則在所述第二掃描時間段內，增加所述顯示屏的發光強度。
7.根據權利要求6所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述在所述第二掃描時間段內增加所述顯示屏的發光強度，包括：
在所述第二掃描時間段內，通過GAMMA校正的方式，增加所述顯示屏的發光強度。
8.根據權利要求6所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述在所述第二掃描時間段內增加所述顯示屏的發光強度，包括：
在所述第二掃描時間段內，增大所述顯示屏的像素電路的供電正壓和供電負壓間的電勢差，以增加所述顯示屏的發光強度。
9.根據權利要求4所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述目標時序還包括第二掃描時間段和第二空白時間段；
所述第二掃描時間段為用于所述顯示屏進行掃描刷新的時間段；
所述第二空白時間段為用于驅動芯片處理下一幀數據并準備顯示的時間段；
所述將所述顯示屏的工作時序設置為目標時序，包括：將所述顯示屏的工作時序設置為目標時序，并控制所述第二掃描時間段的時間長度與所述第一掃描時間段的時間長度相等。
10.根據權利要求5或9所述的接近檢測的方法，其特征在于，所述目標時間段位于所述第二掃描時間段與所述第二空白時間段之間。
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