[發(fā)明專利]基于多類型測(cè)試獲得真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810219358.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108427659B | 公開(公告)日: | 2022-02-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭巍;張思詩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英特爾產(chǎn)品(成都)有限公司;英特爾公司 |
| 主分類號(hào): | G06F17/18 | 分類號(hào): | G06F17/18;G06F16/23;G06F16/245;G06Q50/04 |
| 代理公司: | 北京永新同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11376 | 代理人: | 鐘勝光 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 類型 測(cè)試 獲得 真實(shí) 產(chǎn)量 數(shù)據(jù) 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于多類型測(cè)試獲得真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù)的方法,采用冷熱測(cè)試抽樣率的數(shù)據(jù)結(jié)合冷熱測(cè)的測(cè)試速率再轉(zhuǎn)換成時(shí)間度量,以得到可用于生產(chǎn)指導(dǎo)的真實(shí)的實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)量數(shù)據(jù);本發(fā)明可以有效結(jié)合多類型測(cè)試,根據(jù)采集到的多批次的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換折合,得到實(shí)際真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù),用于生產(chǎn)指導(dǎo),以便于快速鎖定問題并積極響應(yīng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及工廠生產(chǎn)情況的監(jiān)測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別是基于多類型測(cè)試獲得真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù)的方法。
背景技術(shù)
目前,芯片性能模塊主要用于對(duì)芯片電性能測(cè)試設(shè)備的生產(chǎn)情況進(jìn)行監(jiān)測(cè)。對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí),將半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品加載到測(cè)試設(shè)備上,運(yùn)行測(cè)試程序,對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量、性能進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試過程中,通常采用設(shè)備的實(shí)際產(chǎn)出批次的數(shù)據(jù)來對(duì)比額定產(chǎn)能,用以得到實(shí)際生產(chǎn)效能的數(shù)據(jù)。
目前能采用的設(shè)備產(chǎn)出數(shù)據(jù)主要包括兩個(gè)方面:1.數(shù)據(jù)庫的批次完成數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)庫可以是本領(lǐng)域所用的Mars數(shù)據(jù)庫,或其他常用數(shù)據(jù)庫;2.AOT(actual output)unitlevel的實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)量數(shù)據(jù),其中unit level指單個(gè)芯片級(jí)別的產(chǎn)出數(shù)據(jù),相對(duì)應(yīng)的是批次級(jí)別的產(chǎn)出數(shù)據(jù)。
但是針對(duì)熱、冷混合測(cè)試的產(chǎn)品,即芯片電性能測(cè)試設(shè)備在高溫情況下對(duì)某批次的產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè)試,隨后抽取該批次內(nèi)一定比例的產(chǎn)品在低溫下進(jìn)行性能抽樣測(cè)試,最終該批次產(chǎn)品性能測(cè)試結(jié)束。例如對(duì)部分處理器產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,采用以上兩個(gè)方面的數(shù)據(jù)時(shí),在數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性上,都不能滿足要求,原因如下:
1.如果使用Mars數(shù)據(jù)庫批次完成數(shù)據(jù)來衡量各班次生產(chǎn)指標(biāo)的話,會(huì)存在數(shù)據(jù)延遲,這是因?yàn)樯a(chǎn)設(shè)備是連續(xù)生產(chǎn)的,在班次結(jié)束或者中途時(shí)間點(diǎn)抓取數(shù)據(jù)的時(shí)候,生產(chǎn)設(shè)備上仍然有大量已測(cè)試完成的產(chǎn)品數(shù)據(jù)沒有上傳到數(shù)據(jù)庫,導(dǎo)致結(jié)果失真。
2.如果直接使用AOT,單個(gè)芯片級(jí)別的產(chǎn)出數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)量數(shù)據(jù),雖然可以解決數(shù)據(jù)延遲的問題,但是會(huì)帶來另外的問題,那就是AOT會(huì)對(duì)多重測(cè)試部分(cold/hotmultiple test)重復(fù)計(jì)數(shù),這將直接導(dǎo)致產(chǎn)量數(shù)據(jù)比實(shí)際偏大的情況,影響最終結(jié)果和決策。
鑒于上述傳統(tǒng)方法存在的技術(shù)缺陷,以及實(shí)際業(yè)務(wù)需要提供準(zhǔn)確的產(chǎn)量和生產(chǎn)效能數(shù)據(jù),所以需要建立新的針對(duì)多類型測(cè)試的產(chǎn)量、生產(chǎn)效率方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決上述技術(shù)缺陷,提供了一種基于多類型測(cè)試獲得真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù)的方法,該方法可以有效結(jié)合多類型測(cè)試,根據(jù)采集到的多批次的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換折合,得到實(shí)際真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù),用于生產(chǎn)指導(dǎo)。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
基于多類型測(cè)試獲得真實(shí)產(chǎn)量數(shù)據(jù)的方法,其特征在于:
首先,獲得設(shè)備的某批次的冷熱測(cè)試抽樣率的數(shù)據(jù),然后結(jié)合冷熱測(cè)的測(cè)試速率,再將該批次的整個(gè)冷熱測(cè)試過程轉(zhuǎn)換為時(shí)間度量,進(jìn)而根據(jù)各批次的測(cè)試進(jìn)度折算出可用于生產(chǎn)指導(dǎo)的真實(shí)的實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)量數(shù)據(jù)(Puretest)。
所述多類型測(cè)試指熱、冷混合測(cè)試,也可以指熱、冷測(cè)試和其他不同方式測(cè)試的混合測(cè)試。
所述冷熱測(cè)試抽樣率的數(shù)據(jù)至少包括該批次測(cè)試的:實(shí)際測(cè)試數(shù)量、生產(chǎn)速率、數(shù)量比例、批次產(chǎn)品數(shù)量。其中:
實(shí)際測(cè)試數(shù)量是通過設(shè)備控制器實(shí)時(shí)上傳到數(shù)據(jù)庫,直接從數(shù)據(jù)庫讀取實(shí)際測(cè)試數(shù)量;
針對(duì)不同的產(chǎn)品,所述生產(chǎn)速率、數(shù)量比例、批次產(chǎn)品數(shù)量均是先預(yù)先設(shè)定數(shù)據(jù),然后錄入生產(chǎn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫,然后直接從相關(guān)生產(chǎn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫讀取相應(yīng)的數(shù)據(jù)。所述生產(chǎn)速率可以是每小時(shí)產(chǎn)能的生產(chǎn)速率,或者根據(jù)具體情況設(shè)定的一定時(shí)間周期內(nèi)產(chǎn)能的生產(chǎn)速率。
所述時(shí)間度量是指用時(shí)間進(jìn)度替換測(cè)試數(shù)量進(jìn)度,用來衡量該批次的整體測(cè)試進(jìn)度。
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