[發明專利]一種多波段多光軸平行性檢測系統及其檢測方法

在審

• 申請號: 201810208412.2
• 申請日: 2018-03-14
• 公開（公告）號: CN108195322A
• 公開（公告）日: 2018-06-22
• 發明（設計）人: 李剛;黃富瑜;劉鋒;張曉良;李青;禹燁;鄒昌帆;王元鉑;李莉
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍陸軍工程大學
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 北京華仲龍騰專利代理事務所(普通合伙) 11548
• 代理人: 李靜

本發明公開了一種多波段多光軸平行性檢測系統，包括平行光管，平行光管的一側安裝有第一反射鏡，平行光管的另一側設置有出光孔，平行光管的底部設置有進光孔，進光孔外側設置有滑動導軌，滑動導軌上安裝有紅外光源和可見光源，滑動導軌上方設置有轉盤式靶板，轉盤式靶板上環形排列有透射式框型分劃板、透射式十字分劃板和感光相紙，進光孔內側設置有第二反射鏡，出光孔的外側設置有光軸平移器。本發明能夠改進現有技術的不足，不受環境和天氣條件影響，可以實現快速、精確的多光譜多軸檢測。

技術領域

本發明涉及武器觀察瞄準校準技術領域，尤其是一種多波段多光軸平行性檢測系統及其檢測方法。

背景技術

隨著科學技術的不斷發展，武器系統的觀察和瞄準窗口也呈現多軸和多光譜的趨勢。以某型武器系統為例，包含了可見光觀瞄軸、紅外熱像觀瞄軸、激光測距機激光發射軸、電視跟蹤軸等。這些軸線之間是否一致以及它與火力系統身管軸是否一致，直接影響著整個武器系統的打擊效能。

因此，對武器系統的多光譜多軸平行性檢校是一項重要的、經常性的工作。目前，常用方法是瞄準點法和檢查靶法。但是，瞄準點法無法實現全天候、任意地理環境條件下檢校；檢查靶法無法實現快速、高精度檢校。因此，急需研制一種多光譜多軸檢校系統，能夠在任何環境和天氣條件下，實現快速、精確的多光譜多軸檢測。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種多波段多光軸平行性檢測系統及其檢測方法，能夠解決現有技術的不足，不受環境和天氣條件影響，可以實現快速、精確的多光譜多軸檢測。

為解決上述技術問題，本發明所采取的技術方案如下。

一種多波段多光軸平行性檢測系統，包括平行光管，平行光管的一側安裝有第一反射鏡，平行光管的另一側設置有出光孔，平行光管的底部設置有進光孔，進光孔外側設置有滑動導軌，滑動導軌上安裝有紅外光源和可見光源，滑動導軌上方設置有轉盤式靶板，轉盤式靶板上環形排列有透射式框型分劃板、透射式十字分劃板和感光相紙，進光孔內側設置有第二反射鏡，出光孔的外側設置有光軸平移器。

作為優選，所述平行光管為離軸拋物面反射式平行光管，第一反射鏡為離軸拋物面反射鏡，第二反射鏡為平面反射鏡。

作為優選，所述平行光管的有效孔徑為100mm，平行光管的有效焦距為300mm。

作為優選，所述第一反射鏡相對垂直方向的傾斜角度為1°～3°，第二反射鏡相對水平方向的傾斜角度為45°～55°，第一反射鏡和第二反射鏡的水平距離為250mm，第二反射鏡的直徑為17mm。

作為優選，所述透射式框型分劃板的最小格值為10′，每隔20′設置一框型分劃，水平和垂直分劃范圍均為-120′～﹢120′，10′格值對應的刻線間隔尺寸為0.873mm，透射式框型分劃板的直徑為21.825mm，刻線寬度為0.06mm。

作為優選，所述透射式十字分劃板的刻線寬度為0.06mm，中心小孔直徑為0.15mm，透射式十字分劃板的直徑為21.825mm。

作為優選，所述可見光源為LED矩陣燈珠。

作為優選，所述紅外光源包括聚光鏡，聚光鏡的焦點上設置有白熾鎢絲燈，白熾鎢絲燈的后方設置有擋板。

作為優選，所述光軸平移器包括兩組相互平行的反射器，每個反射器包括兩個反射板，同組兩個反射板的間距為200mm。

一種上述多波段多光軸平行性檢測系統的檢測方法，包括以下步驟：

A、將被測系統架設在光軸平移器前的工作臺上，利用外接設備將被檢系統紅外、可見光及其他視頻信號送至計算機處理與顯示單元；