[發(fā)明專利]開關(guān)系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810206546.0
• 申請日: 2018-03-13
• 公開（公告）號: CN108574423B
• 公開（公告）日: 2023-03-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 歸山隼一
• 申請（專利權(quán)）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: H02M7/493
• 分類號: H02M7/493
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 李輝;董典紅

本發(fā)明的目的在于提高具有多個開關(guān)電路的開關(guān)系統(tǒng)中的電流檢測精度。第一PWM定時(shí)生成電路通過使用比較值和計(jì)數(shù)值來生成PWM信號的邊沿定時(shí)并且驅(qū)動第一開關(guān)電路。第二PWM定時(shí)生成電路通過使用比較值和計(jì)數(shù)值生成多相PWM信號的邊沿定時(shí)并驅(qū)動第二開關(guān)電路。開關(guān)電路之一是公共分路型逆變器電路，其中針對多個相公共地設(shè)置所述分路電阻器。PWM定時(shí)生成電路之一將所生成的邊沿定時(shí)偏移，使得一個電路的邊沿定時(shí)與另一個電路的AD轉(zhuǎn)換定時(shí)之間的間隔變得等于或大于預(yù)定參考值。

相關(guān)申請的交叉引用

這里通過參考并入2017年3月14日提交的日本專利申請No.2017-049171的全部公開內(nèi)容，包括說明書、附圖和摘要。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及開關(guān)系統(tǒng)，例如涉及控制逆變器電路、功率因數(shù)校正電路(簡稱為PFC電路)等中的開關(guān)定時(shí)的技術(shù)。

背景技術(shù)

日本專利公開No.4682727公開了一種方法：在通過多個逆變器電路同時(shí)驅(qū)動多個電機(jī)的電機(jī)驅(qū)動設(shè)備中，將多個逆變器電路的PWM周期設(shè)置為相同或整數(shù)倍，并且在用于PWM載波信號生成的計(jì)時(shí)器中具有三角波形狀的計(jì)數(shù)值的峰值或者底部(即，PWM周期的中心)處執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換。

日本未審專利申請公開No.2012-80740描述了逆變器控制設(shè)備設(shè)置有校正每個開關(guān)信號和電流檢測定時(shí)兩者或其中之一的裝置，使得由功率因數(shù)改善電路和逆變器電路的開關(guān)造成的噪聲不會干擾電流檢測。

日本未審專利申請公開No.2012-182874公開了一種在電機(jī)控制設(shè)備中控制載波信號的相位或占空比值的方法，使得組合其中三相中兩相的相電流同時(shí)流過T時(shí)間或更長時(shí)間的間隔和其中兩相中至少一相的相電流單獨(dú)流過T時(shí)間或更長時(shí)間的間隔。

發(fā)明內(nèi)容

例如，如逆變器電路或PFC電路等的開關(guān)電路通常具有用于檢測電流的分路電阻器。控制設(shè)備將由分路電阻器檢測出的電流值轉(zhuǎn)換為數(shù)字值，并通過使用該數(shù)字值執(zhí)行預(yù)定的操作，由此控制開關(guān)電路的開關(guān)定時(shí)。在這種情況下，當(dāng)在檢測電流值的采樣定時(shí)處發(fā)生由開關(guān)電路產(chǎn)生的開關(guān)噪聲時(shí)，檢測電流值的精度可能惡化。特別是，在具有多個這樣的開關(guān)電路的開關(guān)系統(tǒng)中，由于多個開關(guān)電路產(chǎn)生的開關(guān)噪聲可能在各種定時(shí)處發(fā)生，因此變得更難以高精度地檢測電流值。

例如，如在日本專利公開No.4682727中公開的，考慮了如下方法：將多個開關(guān)電路的PWM周期確定為相同并且將采樣定時(shí)確定在具有三角形波形狀的計(jì)時(shí)器的計(jì)數(shù)值的峰值或者底部處。當(dāng)每個開關(guān)電路是具有三個分路電阻器的3分路逆變器電路等時(shí)，可以應(yīng)用該方法，并且可以減小開關(guān)噪聲的影響。然而，在開關(guān)電路包括僅具有一個分路電阻器的1分路逆變器電路的情況下，由于在計(jì)數(shù)值的峰值或者底部處無法檢測到電流，所以難以應(yīng)用該方法。

例如，如在日本未審專利申請公開No.2012-80740中所公開的，也考慮如下方法：校正開關(guān)定時(shí)和/或采樣定時(shí)中的每一個，以使得開關(guān)噪聲不干擾每個電流檢測。該方法被認(rèn)為是一種有用的方法。但是，在實(shí)際進(jìn)行校正時(shí)，需要各種設(shè)備。在日本未審專利申請公開No.2012-80740中，沒有描述伴隨該校正的具體過程等。

考慮到上述情況而做出以下實(shí)施例，并且從說明書和附圖的描述中，其他問題和新穎特征將變得顯而易見。