[發明專利]一種磁共振溫度成像方法及裝置

在審

• 申請號: 201810203834.0
• 申請日: 2018-03-13
• 公開（公告）號: CN108652627A
• 公開（公告）日: 2018-10-16
• 發明（設計）人: 陳玉萍;祁甫浪;甄博文;王長亮;張晴;羅鵬輝;周玉福;智德波;徐莉
• 申請（專利權）人: 安徽銳捷信息科技有限公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

1.一種磁共振溫度成像方法，其特征在于，該方法包括：

采集第一圖像和第二圖像組，其中，所述第一圖像為進行熱放療之前的目標組織磁共振圖像，所述第二圖像組為在熱放療過程中的若干個所述目標組織磁共振圖像；

計算所述第一圖像和所述第二圖像組中的各個第二圖像之間的相位差值，得到目標加熱區域的相位差值；

依據所述相位差值計算得到所述第一圖像和各個所述第二圖像的溫度變化值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述計算所述第一圖像和所述第二圖像組中的各個第二圖像之間的相位差值，得到目標加熱區域的相位差值，包括：

獲取所述第一圖像的第一相位值和所述第二圖像的第二相位值；

計算所述第二相位值與所述第一相位值之間的差值，得到目標加熱區域的相位差值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述依據所述相位差值計算得到所述第一圖像和各個所述第二圖像的溫度變化值之前，該方法還包括：

對所述相位差值進行相位漂移校正，得到校正后的相位差值。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述相位差值進行相位漂移校正，得到校正后的相位差值，包括：

依據預設公式Δφ_f(a,x,y)＝a₀+a₁x+a₂y計算得到相位漂移值Δφ_f(a,x,y)，其中，x和y表示所述加熱區域內的各個像素的空間坐標，向量a表示加權最小二乘法的擬合系數；

計算所述相位差值與所述相位漂移值之間的差值，將所述差值記為校正后的相位差值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述依據所述相位差值計算得到所述第一圖像和各個所述第二圖像的溫度變化值，包括：

依據預設公式計算得到所述第一圖像和所述第二圖像的溫度變化值ΔT，其中，γ表示氫原子核的磁旋比，α表示質子共振頻率的熱系數，B₀表示主磁場強度，TE表示采集第一圖像和第二圖像的采集序列的回波時間。

6.一種磁共振溫度成像裝置，其特征在于，該裝置包括：

采集模塊，用于采集第一圖像和第二圖像組，其中，所述第一圖像為進行熱放療之前的目標組織磁共振圖像，所述第二圖像組為在熱放療過程中的若干個所述目標組織磁共振圖像；

第一計算模塊，用于計算所述第一圖像和所述第二圖像組中的各個第二圖像之間的相位差值，得到目標加熱區域的相位差值；

第二計算模塊，用于依據所述相位差值計算得到所述第一圖像和各個所述第二圖像的溫度變化值。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第一計算模塊包括：

獲取單元，用于獲取所述第一圖像的第一相位值和所述第二圖像的第二相位值；

相位差值計算單元，用于計算所述第二相位值與所述第一相位值之間的差值，得到目標加熱區域的相位差值。

8.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：

校正模塊，用于對所述相位差值進行相位漂移校正，得到校正后的相位差值。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述校正模塊包括：

漂移值計算單元，用于依據預設公式Δφ_f(a,x,y)＝a₀+a₁x+a₂y計算得到相位漂移值Δφ_f(a,x,y)，其中，x和y表示所述加熱區域內的各個像素的空間坐標，向量a表示加權最小二乘法的擬合系數；

校正單元，用于計算所述相位差值與所述相位漂移值之間的差值，將所述差值記為校正后的相位差值。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述第二計算模塊具體用于：

依據預設公式計算得到所述第一圖像和所述第二圖像的溫度變化值ΔT，其中，Δφ-Δφ_f表示校正后的相位差值，γ表示氫原子核的磁旋比，α表示質子共振頻率的熱系數，B₀表示主磁場強度，TE表示采集第一圖像和第二圖像的采集序列的回波時間。