[發明專利]LED老化測試裝置

有效

• 申請號: 201810190939.7
• 申請日: 2018-03-08
• 公開（公告）號: CN108508341B
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 鄧自然;王書方
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區蜆華多媒體制品有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 周修文

本發明涉及一種LED老化測試裝置，包括載板、第一接線座、第二接線座、第一夾持件與第二夾持件。凹槽用于與第一型號LED待測樣品的封裝基板形狀相適應，第一凸緣凸出于凹槽的底壁的高度小于所述凹槽側壁相對于所述凹槽底壁的高度，第一凸緣與凹槽的底壁配合形成第一槽體。第一槽體用于與第二型號LED待測樣品的封裝基板形狀相適應。第一夾持件用于夾持住LED待測樣品的其中一個極板，第二夾持件用于夾持住LED待測樣品的另一個極板。上述的LED老化測試裝置，能夠實現對兩種型號的LED待測樣品進行老化測試，從而使得測試成本降低。

技術領域

本發明涉及LED老化測試技術領域，特別是涉及一種LED老化測試裝置。

背景技術

LED(Light Emitting Diode發光二極管，簡稱LED)由于其高可靠性、長壽命、綠色環保的諸多優點得到廣泛應用。在LED產品制造過程中，主要通過不同電流的通電老化測試和不同溫度、濕度等條件下的環境試驗評估和檢驗其性能。傳統的一種型號的LED封裝產品一般會有一款對應的夾具或測試裝置進行產品壽命評估，然而，隨著LED行業的快速發展，LED產品類型不斷的推陳出新，LED封裝形式演變，其型號越來越多樣化，這就要經常變換其老化測試裝置，造成測試成本增加和資源的浪費。

發明內容

基于此，有必要克服現有技術的缺陷，提供一種LED老化測試裝置，它能夠使得測試成本降低。

其技術方案如下：一種LED老化測試裝置，包括：載板，所述載板上設置有凹槽，所述凹槽用于與第一型號LED待測樣品的封裝基板形狀相適應，所述凹槽的底壁上設有第一凸緣，所述第一凸緣凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述凹槽側壁相對于所述凹槽底壁的高度，所述第一凸緣與所述凹槽的底壁配合形成第一槽體，所述第一槽體用于與第二型號LED待測樣品的封裝基板形狀相適應；第一接線座、第二接線座、第一夾持件與第二夾持件，所述第一接線座、所述第二接線座均設置在所述載板上，所述第一接線座、所述第二接線座均位于所述凹槽的外側，所述第一接線座與所述第一夾持件相連，所述第二接線座與所述第二夾持件相連，所述第一夾持件用于夾持住LED待測樣品的其中一個極板，所述第二夾持件用于夾持住所述LED待測樣品的另一個極板。

上述的LED老化測試裝置，當需要對第一型號LED待測樣品進行老化測試時，則將第一型號LED待測樣品的封裝基板裝設在凹槽中，并由第一夾持件、第二夾持件分別夾持住LED待測樣品的兩個極板，第一接線座、第二接線座分別接入外部直流電源或交流電源，便可以對第一型號LED待測樣品進行通電測試操作。同樣地，當需要對第二型號LED待測樣品進行老化測試時，則將第二型號LED待測樣品的封裝基板裝設在第一槽體中，并由第一夾持件、第二夾持件分別夾持住LED待測樣品的兩個極板，第一接線座、第二接線座分別接入外部直流電源或交流電源，便可以對第二型號LED待測樣品進行通電測試操作。如此，上述的LED老化測試裝置，能夠實現對兩種型號的LED待測樣品進行老化測試，從而使得測試成本降低。

進一步地，所述凹槽的底壁上還設有第二凸緣，所述第二凸緣設置在所述第一槽體內側，所述第二凸緣凸出于所述凹槽的底壁的高度小于所述第一凸緣凸出于所述凹槽的底壁的高度，所述第二凸緣與所述凹槽的底壁配合形成第二槽體，所述第二槽體用于與第三型號LED待測樣品的封裝基板形狀相適應。

進一步地，所述載板上還設有遮光罩，所述遮光罩罩設在所述凹槽上；所述遮光罩上開設有若干個散熱孔。

進一步地，所述載板上還設有散熱機構，所述散熱機構設置在所述載板背向所述凹槽的側面上。

進一步地，所述載板背向所述凹槽的側面上設置有與所述凹槽相應的凹部，所述散熱機構為抽風機構并裝設在所述凹部中，所述載板上設置有若干個通風孔，所述通風孔由所述凹部的底壁貫穿延伸至所述凹槽的底壁。