[發明專利]用于檢測X射線設備中的高電壓閃絡的方法和X射線設備

有效

• 申請號: 201810188385.7
• 申請日: 2018-03-07
• 公開（公告）號: CN108572304B
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發明（設計）人: B·格貝特
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: H05G1/26
• 分類號: H05G1/26
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華;羅利娜

1.一種用于檢測X射線設備(2)中的高電壓閃絡的方法，所述X射線設備(2)具有一個X射線發射器(6)和一個高壓電源(4)，其中所述X射線發射器(6)具有一個X射線管(10)并且所述高壓電源(4)具有一個高壓發生器(7)以及至少一條電纜(14)，其中所述至少一條電纜(14)是所述高壓發生器(7)與所述X射線管(10)之間的一個連接通道(VS)的至少一部分，

其特征在于，所述方法包括：

在所述X射線設備(2)的正常操作期間，借助一個具有線圈(22)的檢測元件(20)來檢測一個干擾脈沖(I)，所述線圈(22)包括彼此嵌套的第一線圈部分(23a)和第二線圈部分(23b)以形成差分構造，其中所述干擾脈沖(I)由于所述高電壓閃絡而出現在所述連接通道(VS)中，并且

通過評估檢測到的所述干擾脈沖，從多個不同的閃絡類別中確定一個閃絡類別。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在沿著所述連接通道(VS)定位的一個測量位置(21)處檢測所述干擾脈沖(I)。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，評估由于所述高電壓閃絡而在所述連接通道(VS)中流動的電流。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在沿著所述電纜(14)定位的一個測量位置(21)處檢測所述干擾脈沖(I)。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述X射線發射器(6)附近(N)檢測所述干擾脈沖(I)。

6.根據權利要求4或5所述的方法，其特征在于，檢測和評估具有一個脈沖持續時間(τ)的多個干擾脈沖(I)，所述持續時間(τ)具有在1ns至10μs范圍內的多個值。

7.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述多個不同的閃絡類別包括：

-所述X射線管(10)的真空中的閃絡，

-絕緣材料中的閃絡，

-局部放電。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，使用所評估的所述干擾脈沖(I)，對所述X射線設備(2)或所述X射線設備(2)的多個組件的狀況進行評定。

9.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，通過遠程診斷來評估所述干擾脈沖(I)。

10.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述高壓發生器(7)還具有一個電壓計(7c)，所述電壓計(7c)另外用于檢測高電壓閃絡。

11.X射線設備(2)，所述X射線設備(2)具有

-一個X射線發射器(6)，和

-一個高壓電源(4)，

其中所述X射線發射器(6)具有一個X射線管(10)并且所述高壓電源(4)具有一個高壓發生器(7)以及一條電纜(14)，其中所述電纜(14)是所述高壓發生器(7)與所述X射線管(10)之間的一個連接通道(VS)的至少一部分，

其特征在于，

所述X射線設備(2)具有一個測量設備(18)，所述測量設備(18)具有一個測量元件(20)，所述測量元件(20)在操作期間被設計用于：

檢測一個干擾脈沖(I)，其中所述測量元件(20)包括一個線圈(22)，所述線圈(22)包括彼此嵌套的第一線圈部分(23a)和第二線圈部分(23b)以形成差分構造，其中所述干擾脈沖(I)由于高電壓閃絡而出現在所述連接通道(VS)中，并且

通過評估檢測到的所述干擾脈沖，從多個不同的閃絡類別中確定一個閃絡類別。

12.根據權利要求11所述的X射線設備(2)，其特征在于，所述測量設備(18)被設計為使得所述測量設備(18)在沿著所述電纜(14)的一個測量位置(21)處檢測所述干擾脈沖(I)。

13.根據權利要求11或12所述的X射線設備(2)，其特征在于，所述測量設備(18)位于所述X射線發射器(6)附近(N)。