[發明專利]一種GIS設備內部過熱缺陷的紅外檢測方法

有效

• 申請號: 201810188277.X
• 申請日: 2018-03-07
• 公開（公告）號: CN108519158B
• 公開（公告）日: 2019-09-03
• 發明（設計）人: 彭在興;王頌;劉凱;金虎;易林
• 申請（專利權）人: 南方電網科學研究院有限責任公司;中國南方電網有限責任公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G01J5/10;G01J5/26
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 梁順宜;郝傳鑫

本發明公開了一種GIS設備內部過熱缺陷的紅外檢測方法，包括：通過紅外檢測設備實時采集GIS設備的殼體的溫度；在預設時間通過紅外檢測設備在殼體上尋找溫度山峰，從而得到殼體的異常溫差；根據預先求得的殼體與GIS設備的導體間的溫升差比值、導體的正常溫升以及殼體的異常溫差得到導體的異常溫升；其中，導體的正常溫升為所述GIS設備正常運行狀態下的導體的溫度與環境溫度的差值；根據導體的異常溫升對所述GIS設備進行狀態評估。采用本發明的實施例，能夠準確測量GIS設備是否存在內部過熱缺陷，同時評估內部過熱缺陷的嚴重程度。

技術領域

本發明涉及電力系統電氣設備故障診斷技術領域，尤其涉及一種GIS設備內部過熱缺陷的紅外檢測方法。

背景技術

GIS(氣體絕緣金屬封閉開關設備)因其占地面積小，運行可靠，檢修維護周期長等優點，在電力系統中得到了越來越廣泛的應用。然而，當GIS設備內部導體接觸不良時，由于接觸電阻變大，在負荷電流流過時會產生導體過熱現象(即內部過熱現象)。導體過熱會引起內部電路絕緣老化或者直接熔融內部電路，從而引發GIS設備內部電路的短路，形成重大事故。目前GIS設備內部過熱缺陷的檢測技術主要包括以下幾種方式：

方式一：測量回路電阻，主要是用于測試開關設備動靜觸頭的接觸電阻，開關設備的回路電阻主要取決于動靜觸頭的接觸電阻，接觸電阻的存在，增大了導體在通電時的損耗，使接觸處的溫度升高，通過測量接觸電阻即可得到回路電阻的值，回路電阻的值的大小可反映GIS設備的載流能力。

方式二：電子式測溫技術，在設備內部導體放置熱敏傳感器，直接對其溫度進行監測。

方式三：紅外輻射技術，基于物體溫度與表面輻射能量之間關系，通過紅外溫度傳感器接收物體紅外輻射能，進而計算被測目標的溫度值。

但是，上述三種GIS設備內部過熱缺陷的測量方式，均存在一定的缺陷。方式一中，測量方法簡單，易于實現，但存在誤差較大、無法實現在線檢測等問題；方式二中，由于傳感器置于高電位，易受電磁干擾，并且GIS設備內部運行時對環境清潔度的要求較高，從而導致傳感器很難置入；方式三中，紅外輻射測溫技術受內部導體金屬表面發射率、傳輸介質SF6(六氟化硫)氣體對紅外線吸收等因素的影響，導致溫度測量的誤差極大。

發明內容

本發明實施例的目的是提供一種GIS設備內部過熱缺陷的紅外檢測方法，能夠準確測量GIS設備是否存在內部過熱缺陷，同時評估過內部過熱缺陷的嚴重程度。

為實現上述目的，本發明實施例提供一種GIS設備內部過熱缺陷的紅外檢測方法，包括：

通過紅外檢測設備實時采集GIS設備的殼體的溫度；

在預設時間內通過紅外檢測設備在所述殼體上尋找溫度山峰，從而得到所述殼體的異常溫差；

根據預先求得的所述殼體與所述GIS設備的導體間的溫升差比值、所述導體的正常溫升以及所述殼體的異常溫差得到所述導體的異常溫升；其中，所述導體的正常溫升為所述GIS設備正常運行狀態下的所述導體的溫度與環境溫度的差值；

根據所述導體的異常溫升對所述GIS設備進行狀態評估。

與現有技術相比，本發明實施例公開的一種GIS設備內部過熱缺陷的紅外檢測方法通過所述紅外檢測設備實時采集GIS設備的殼體的溫度，得到所述殼體的異常溫差，從而根據通過預先求得的所述殼體與所述導體間的溫升差比值得到所述導體的異常溫升，進而根據所述導體的異常溫升對所述GIS設備進行狀態評估。解決了現有技術中測量GIS設備內部過熱缺陷時誤差較大的問題，能夠準確測量GIS設備是否存在內部過熱缺陷，同時評估過內部過熱缺陷的嚴重程度。

作為上述方案的改進，所述殼體的異常溫差包括溫度山峰相間溫差、溫度山峰主母線溫差以及溫度山峰相關結構段溫差；其中，