[發(fā)明專利]一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810179729.8 | 申請日: | 2018-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN108267461A | 公開(公告)日: | 2018-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 許孟凱;陳勝男;林張鴻;邱文宗;林偉銘;陳智廣;吳淑芳 | 申請(專利權(quán))人: | 福建省福聯(lián)集成電路有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/958 | 分類號: | G01N21/958 |
| 代理公司: | 福州市景弘專利代理事務(wù)所(普通合伙) 35219 | 代理人: | 林祥翔;徐劍兵 |
| 地址: | 351117 福建*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 銦錫氧化物 發(fā)光單元 紅外光 光學(xué)顯微鏡檢測 可變光路 光路 檢測 光路引導(dǎo)單元 金相顯微鏡 生物顯微鏡 載物臺機構(gòu) 半反射鏡 方向相反 觀測機構(gòu) 檢測設(shè)備 可變光源 物鏡單元 照射方向 不透光 可變光 波長 熒光 | ||
1.一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,包括第一發(fā)光單元、第二發(fā)光單元、半反射鏡、物鏡單元和載物臺機構(gòu);
所述第一發(fā)光單元與第二發(fā)光單元相對設(shè)置,載物臺機構(gòu)的載物平臺上的通光孔位于第一發(fā)光單元的光路上,以及載物臺機構(gòu)的載物平臺上的通光孔也位于第二發(fā)光單元的光路上,物鏡單元的入射端對準(zhǔn)載物臺的通光孔,所述半反射鏡的反射面朝向物鏡單元的出射端設(shè)置,所述物鏡單元是具有紅外光致熒光呈現(xiàn)功能的物鏡;
載物臺機構(gòu)用于接收第一發(fā)光單元的光束時載物臺機構(gòu)的載物平臺上的通光孔開啟,以及載物臺機構(gòu)用于接收第二發(fā)光單元的光束時載物臺機構(gòu)的載物平臺上的通光孔閉合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,還包括觀測機構(gòu),觀測機構(gòu)包括目鏡、棱鏡反射組和補助透鏡,補助透鏡設(shè)置在半反射鏡的反射光路上,棱鏡反射組設(shè)置在補助透鏡與目鏡之間,棱鏡反射組用于反射光束到目鏡上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,還包括同步電路單元,同步電路單元與第一發(fā)光單元電連接,同步電路單元與第二發(fā)光單元電連接,同步電路單元用于協(xié)調(diào)控制第一發(fā)光單元或第二發(fā)光單元發(fā)光時載物臺上通光孔的開啟或閉合。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,還包括光源機構(gòu),光源機構(gòu)包括第一發(fā)光單元、第二發(fā)光單元和光路引導(dǎo)單元,第一發(fā)光單元設(shè)置在光源機構(gòu)的一側(cè)面上,第二發(fā)光單元設(shè)置在光源機構(gòu)的另一側(cè)面上,光路引導(dǎo)單元用于引導(dǎo)第一發(fā)光單元形成一個環(huán)形光路,且光路引導(dǎo)單元用于引導(dǎo)第二發(fā)光單元形成一個與第一發(fā)光單元方向相反的環(huán)形光路。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,所述載物臺機構(gòu)還包括三軸控制器和載物平臺,所述載物平臺的通光孔上設(shè)置有遮光板,同步電路單元設(shè)置有同步開關(guān),同步開關(guān)設(shè)置在載物平臺的內(nèi)部空腔上,同步開關(guān)與遮光板連接,載物平臺的通光孔位于光路引導(dǎo)單元的環(huán)形光路上,三軸控制器設(shè)置在載物平臺的一側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,所述光源機構(gòu)還包括切換單元,切換單元的第一輸出端與第一發(fā)光單元電連接,切換單元的第二輸出端與第二發(fā)光單元電連接,所述切換單元的輸入端與同步電路單元電連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,所述光路引導(dǎo)單元包括第一反射鏡、第二反射鏡和第三反射鏡,第一反射鏡的鏡面同時與光源機構(gòu)的第一發(fā)光單元和第二反射鏡的鏡面相對設(shè)置,第三反射鏡的鏡面同時與第二反射鏡的鏡面和光源機構(gòu)的第二發(fā)光單元相對設(shè)置,第一反射鏡與光源機構(gòu)的第一發(fā)光單元之間設(shè)置有第一聚光鏡組,第三反射鏡與光源機構(gòu)的第二發(fā)光單元之間設(shè)置有第二聚光鏡組,第一反射鏡、第二反射鏡和第三反射鏡用于反射引導(dǎo)第一發(fā)光單元或第二發(fā)光單元發(fā)射出的光束。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,所述載物臺機構(gòu)與第二反射鏡之間設(shè)置有第三聚光鏡組。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,所述載物臺機構(gòu)與第一反射鏡之間設(shè)置有第四聚光鏡組。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可變光路的光學(xué)顯微鏡檢測設(shè)備,其特征在于,所述載物臺機構(gòu)還包括夾具,所述夾具設(shè)置有多個,多個夾具沿著載物平臺的頂面的邊緣設(shè)置。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





