[發明專利]一種檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201810176066.4
• 申請日: 2018-03-02
• 公開（公告）號: CN108226237B
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 徐海燕;王棟;趙文龍;唐歡;金賢鎮;張蕾;王釗;孫樂
• 申請（專利權）人: 鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01N27/24
• 分類號: G01N27/24
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 張京波;曲鵬

1.一種檢測設備，其特征在于，應用于顯示領域，待測基板包括陣列基板、彩膜基板或玻璃基板，所述檢測設備包括：

電容生成電路，包括相對設置的第一電容電極和第二電容電極，以及分別連接所述第一電容電極和所述第二電容電極的電源；所述第一電容電極靠近所述第二電容電極的一側用于放置待測基板；其中，所述第一電容電極為一個電極板，所述第二電容電極包括n個絕緣設置的子電極，n個子電極排列成X行Y列，X和Y均為大于1的整數；

至少一個電容檢測電路，連接所述電極板和所述n個子電極，用于在所述待測基板放置于所述電極板靠近所述第二電容電極的一側后，檢測所述電極板與所述n個子電極之間的電容值；

n個開關單元，每個開關單元設置于所述子電極和所述電容檢測電路之間，用于控制一個子電極和所述電容檢測電路的通斷；

控制器，用于分時控制所述n個開關單元的閉合來分時讀取所述電容檢測電路測量的電容值，根據所述電容值判斷所述待測基板上與所述n個子電極對應的區域中是否存在異物；所述分時控制所述n個開關單元的閉合來分時讀取所述電容檢測電路測量的電容值包括：所述控制器控制一開關單元閉合，控制其它開關單元打開，所述控制器讀取與閉合的開關單元連接的子電極和電極板之間的電容值。

2.根據權利要求1所述的檢測設備，其特征在于，所述電容生成電路還包括：絕緣板，所述子電極鑲嵌在所述絕緣板中。

3.根據權利要求2所述的檢測設備，其特征在于，所述電容生成電路還包括：電連接板，設置于所述絕緣板遠離所述子電極的一側；連接n個所述子電極的導線通過所述絕緣板中的過孔連接至所述電連接板，并通過所述電連接板與所述電源連接。

4.根據權利要求3所述的檢測設備，其特征在于，所述檢測設備還包括：與所述絕緣板或所述電連接板連接的升降裝置；

所述升降裝置在所述控制器的控制下，帶動所述第二電容電極沿垂直于所述第一電容電極的方向移動。

5.根據權利要求1所述的檢測設備，其特征在于，n個所述子電極的大小和形狀均相同。

6.根據權利要求1所述的檢測設備，其特征在于，n個所述子電極按照陣列排布。

7.根據權利要求1所述的檢測設備，其特征在于，所述電容檢測電路的數量為n；所述電容檢測電路和所述子電極一一對應連接。

8.根據權利要求1所述的檢測設備，其特征在于，所述電極板為金屬膜，所述子電極為金屬片。

9.根據權利要求1所述的檢測設備，其特征在于，所述檢測設備還包括：用于放置所述電極板的測試基臺。

10.根據權利要求1～9任一項所述的檢測設備，其特征在于，所述控制器具體用于：

比較所述電容值和標準電容值，當所述電容值和標準電容值之差的絕對值大于預設閾值時，判斷所述待測基板上與所述子電極對應的區域中存在異物；

當所述電容值和所述標準電容值之差的絕對值小于或等于所述預設閾值時，判斷所述待測基板上與所述子電極對應的區域中不存在異物；

其中，所述標準電容值為所述待測基板上與所述子電極對應的區域中不存在異物時所述子電極與所述電極板之間的電容值。

11.一種采用權利要求1～10任一項所述檢測設備的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

電容生成電路中第一電容電極和第二電容電極通過電源供電形成電容；

在待測基板放置于電極板靠近第二電容電極的一側后，電容檢測電路檢測電極板和n個子電極之間的電容值；

控制器分時讀取所述電容檢測電路測量的電容值，根據所述電容值判斷所述待測基板上與所述n個子電極對應的區域中是否存在異物。

12.根據權利要求11所述的檢測方法，其特征在于，所述控制器根據電容值判斷待測基板上與金屬片對應的區域中是否存在異物包括：

所述控制器比較所述電容值和標準電容值，當所述電容值和標準電容值之差的絕對值大于預設閾值時，所述控制器判斷所述待測基板上與所述子電極對應的區域中存在異物；

當所述電容值和所述標準電容值之差的絕對值小于或等于所述預設閾值時，所述控制器判斷所述待測基板上與所述子電極對應的區域中不存在異物；

其中，所述標準電容值為所述待測基板上與所述子電極對應的區域中不存在異物時所述子電極與所述電極板之間的電容值。