[發明專利]具有激光監控功能的深度信息攝像模組及其電子設備和激光監控方法

在審

• 申請號: 201810174807.5
• 申請日: 2018-03-02
• 公開（公告）號: CN110225225A
• 公開（公告）日: 2019-09-10
• 發明（設計）人: 陳振宇;陳飛帆;潘民杰
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號: H04N5/225
• 分類號: H04N5/225;G03B15/02
• 代理公司: 寧波理文知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 33244
• 代理人: 羅京;孟湘明

1.一深度信息攝像模組，其特征在于，包括：

一激光投射模塊，供投射一激光至一被測目標；

一深度成像模塊，所述深度成像模塊配合所述激光投射模塊獲取該被測目標的深度信息；

一電路板，所述激光投射模塊和所述深度成像模塊可導通地連接于所述電路板；和

一激光監控系統，所述激光監控系統集成于所述深度信息攝像模組，所述激光監控系統包括一檢測模塊和一控制模塊，其中，所述檢測模塊鄰近地設置于所述激光投射模塊所設定的一激光投射路徑，供檢測所述激光投射模塊的該激光光強信息，其中，所述控制模塊可通信地連接于所述檢測模塊，以根據所述檢測模塊所提供的該激光光強信息，控制所述激光投射模塊的工作模式。

2.如權利要求1所述的深度信息攝像模組，其中，所述激光投射模塊包括一激光光源，一光學調制單元和形成一激光出射端的一殼體，其中，所述激光光源和所述光學調制單元安裝于所述殼體內，所述激光光源供產生一具有預設波長的一激光，所述光學調制單元對應于所述激光光源，供對由所述激光光源產生的該激光進行調制，其中，所述檢測模塊鄰近地設置于所述激光光源，供檢測所述激光光源所產生的激光光強信息。

3.如權利要求2所述的深度信息攝像模組，其中，所述激光監控系統還包括一檢測光路形成模塊，所述檢測光路形成模塊供在所述激光投射模塊和所述檢測模塊之間形成一檢測光路，以提供一檢測激光至所述檢測模塊。

4.如權利要求3所述的深度信息攝像模組，其中，所述檢測光路形成模塊包括至少一散射粒子，所述至少一散射粒子安裝于該激光投射路徑周緣，以使得當由所述激光光源所產生的該激光抵至所述散射粒子時，該激光被所述至少一散射粒子散射以形成該檢測激光至所述檢測模塊。

5.如權利要求3所述的深度信息攝像模組，其中，所述檢測光路形成模塊包括至少一散射粒子，所述至少一散射粒子安裝于該激光投射路徑周緣，其中，當由所述激光光源所產生的該激光抵至所述至少一散射粒子時，所述至少一散射粒子吸收該激光，并周向地散射一特定波段的激光以形成該檢測激光至所述檢測模塊。

6.如權利要求5或6所述的深度信息攝像模組，其中，所述光學調制單元包括一第一光學元件、和一第二光學元件，其中所述第二光學元件對應于所述第一光學元件，且所述第二光學元件相間于所述第一光學元件，以藉由所述第一光學元件和所述第二光學元件對由所述激光光源所產生的該激光進行調制，其中，通過所述激光光源，所述第一光學元件，所述第二光學元件和所述激光出射端設定該激光投射路徑。

7.如權利要求6所述的深度信息攝像模組，其中，所述激光監控系統還包括一阻光層，所述阻光層設置于所述殼體的所述激光出射端，以防止外界雜光抵至所述檢測模塊而影響檢測結果。

8.如權利要求7所述的深度信息攝像模組，其中，所述至少一散射粒子位于該激光投射路徑周緣，并安裝于所述第二光學元件朝向所述激光投射模塊的所述激光出射端的一側，或安裝于所述第二光學元件和所述激光出射端之間，或安裝于所述第二光學元件朝向所述第一光學元件的一側，或安裝于所述第一光學元件和所述第二光學元件之間，或安裝于所述第一光學元件朝向于所述第二光學元件的一側，或安裝于所述第一光學元件朝向所述激光光源的一側，或安裝于所述激光光源和所述第一光學元件之間。

9.如權利要求7所述的深度信息攝像模組，其中，所述至少一散射粒子的安裝位置對應于該激光中一雜光的投射路徑。

10.如權利要求3所述的深度信息攝像模組，其中，所述檢測光路形成模塊包括至少一導光道，所述至少一導光道延伸于所述激光投射模塊和所述檢測模塊之間，通過這樣方式，形成該檢測激光至所述激光模塊。