[發(fā)明專利]一種發(fā)光二極管外延片及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810169179.1 | 申請日: | 2018-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN108598226B | 公開(公告)日: | 2020-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張奕;董彬忠;王江波 | 申請(專利權(quán))人: | 華燦光電(浙江)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
| 地址: | 322000 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 發(fā)光二極管 外延 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種發(fā)光二極管外延片及其制備方法,屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。外延片包括襯底、緩沖層、N型半導(dǎo)體層、多量子阱層和P型半導(dǎo)體層,多量子阱層包括交替層疊的n個量子阱和(n+1)個量子壘,每個量子壘包括依次層疊的第一子層、第二子層、第三子層、第四子層和第五子層,第一子層和第五子層為N型摻雜的氮化鎵層,第二子層和第四子層為沒有摻雜的氮化鎵層,第三子層為沒有摻雜的氮化鋁層;(n+1)個量子壘的第一子層中N型摻雜劑的摻雜濃度沿外延片的層疊方向逐層減少,(n+1)個量子壘的第五子層中N型摻雜劑的摻雜濃度沿外延片的層疊方向逐層減少。本發(fā)明可提高LED的發(fā)光效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種發(fā)光二極管外延片及其制備方法。
背景技術(shù)
發(fā)光二極管(英文:Light Emitting Diode,簡稱:LED)是利用半導(dǎo)體PN結(jié)特性將電能轉(zhuǎn)換為光能的發(fā)光器件。LED的光電轉(zhuǎn)換效率遠高于白熾燈、熒光燈等傳統(tǒng)照明器件,而且具有可靠性高、壽命長等優(yōu)點,因此廣泛應(yīng)用在照明領(lǐng)域。
芯片是LED的核心組件,包括外延片和設(shè)置在外延片上的電極?,F(xiàn)有的LED外延片包括襯底以及依次層疊在襯底上的緩沖層、N型半導(dǎo)體層、多量子阱(英文:MultipleQuantum Well,簡稱:MQW)層和P型半導(dǎo)體層。其中,多量子阱層包括多個量子阱和多個量子壘,多個量子阱和多個量子壘交替層疊設(shè)置。量子阱為銦鎵氮層,量子壘為氮化鎵層。N型半導(dǎo)體層提供的電子和P型半導(dǎo)體層提供的空穴注入多量子阱層后,被量子壘限定在量子阱中進行輻射復(fù)合發(fā)光。
在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題:
P型半導(dǎo)體層提供的空穴數(shù)量較少,而且空穴的遷移比電子困難,因此大部分空穴都只遷移到最靠近P型半導(dǎo)體層的一個或多個量子阱中與電子進行復(fù)合發(fā)光,而最靠近N型半導(dǎo)體層的一個或多個量子阱中基本上沒有進行復(fù)合發(fā)光,嚴重影響了量子阱的光電轉(zhuǎn)換效率,造成LED的發(fā)光效率較低。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)量子阱復(fù)合分光不均勻,造成LED的發(fā)光效率較低的問題,本發(fā)明實施例提供了一種發(fā)光二極管外延片及其制備方法。所述技術(shù)方案如下:
一方面,本發(fā)明實施例提供了一種發(fā)光二極管外延片,所述發(fā)光二極管外延片包括襯底以及依次層疊在所述襯底上的緩沖層、N型半導(dǎo)體層、多量子阱層和P型半導(dǎo)體層,所述多量子阱層包括n個量子阱和(n+1)個量子壘,所述n個量子阱和所述(n+1)個量子壘交替層疊設(shè)置,每個所述量子壘包括依次層疊的第一子層、第二子層、第三子層、第四子層和第五子層,所述第一子層和所述第五子層為N型摻雜的氮化鎵層,所述第二子層和所述第四子層為沒有摻雜的氮化鎵層,所述第三子層為沒有摻雜的氮化鋁層;所述(n+1)個量子壘的第一子層中N型摻雜劑的摻雜濃度沿所述發(fā)光二極管外延片的層疊方向逐層減少,所述(n+1)個量子壘的第五子層中N型摻雜劑的摻雜濃度沿所述發(fā)光二極管外延片的層疊方向逐層減少。
可選地,與同一個所述量子阱相鄰的第一子層和第五子層中N型摻雜劑的摻雜濃度相同。
優(yōu)選地,相鄰兩個所述量子壘的第一子層中N型摻雜劑的摻雜濃度之間的差值相等。
優(yōu)選地,最靠近所述N型半導(dǎo)體層的量子壘的第一子層中N型摻雜劑的摻雜濃度小于或等于所述N型半導(dǎo)體層中N型摻雜劑的摻雜濃度。
可選地,所述(n+1)個量子壘的第一子層中電子的濃度為1017cm-3~1019cm-3,所述(n+1)個量子壘的第二子層中電子的濃度為0,所述(n+1)個量子壘的第三子層中電子的濃度為0,所述(n+1)個量子壘的第四子層中電子的濃度為0,所述(n+1)個量子壘的第五子層中電子的濃度為1017cm-3~1019cm-3。
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