[發明專利]一種上電檢測電路、芯片及穿戴設備

有效

• 申請號: 201810169104.3
• 申請日: 2018-02-28
• 公開（公告）號: CN108279760B
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 沙伊德;韓志強
• 申請（專利權）人: 上海順久電子科技有限公司
• 主分類號: G06F1/24
• 分類號: G06F1/24;G06F1/3234;G06F1/3287
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種上電檢測電路，其特征在于，包括：

信號復位單元，所述信號復位單元與數字邏輯電路電連接，所述信號復位單元用于將所述數字邏輯電路進行復位，所述信號復位單元完成數字邏輯電路復位后，輸出一高電平脈沖信號；

電平鎖存控制電路，所述電平鎖存控制電路電連接于所述信號復位單元與所述數字邏輯電路之間，所述電平鎖存控制電路的輸入端連接所述信號復位單元的輸出端，所述電平鎖存控制電路的輸出端連接數字邏輯電路輸入端，所述電平鎖存控制電路接收并鎖存所述高電平脈沖信號，輸出復位完成信號；

電源關斷電路，所述電源關斷電路的輸入端連接所述電平鎖存控制電路的輸出端，所述電源關斷電路的輸出端連接所述信號復位單元，所述電源關斷電路接收到所述復位完成信號后，向所述信號復位單元輸出低電平脈沖信號，控制所述信號復位單元斷電。

2.根據權利要求1所述的上電檢測電路，其特征在于，所述信號復位單元包括：放電電路和低電平檢測電路，所述放電電路的輸出端連接所述低電平檢測電路的輸入端，所述低電平檢測電路的輸出端連接所述電平鎖存控制電路的輸入端，所述放電電路和所述低電平檢測電路分別與所述電源關斷電路電連接；

所述放電電路放電過程中向所述低電平檢測電路傳輸放電電平；

若所述放電電平低于所述低電平檢測電路的觸發電平，所述低電平檢測電路關閉并輸出所述高電平脈沖信號。

3.根據權利要求2所述的上電檢測電路，其特征在于，所述放電電路的第一輸入端連接一充電電路，所述充電路用于向所述放電電路進行充電；

所述放電電路的第二輸入端連接一偏置電路，所述偏置電路用于當所述放電電路被觸發放電時，向所述放電電路輸出一偏置電流；

所述充電電路與所述電源關斷電路電連接。

4.根據權利要求3所述的上電檢測電路，其特征在于，還包括啟動電路和高電平關斷電路，所述啟動電路的輸入端連接外接電壓，所述啟動電路的輸出端連接所述高電平關斷電路的輸入端，所述高電平關斷電路的輸出端連接所述充電電路的充電端，所述啟動電路和所述高電平關斷電路分別與所述電源關斷電路電連接；

所述啟動電路控制所述高電平關斷電路的電壓升高，所述高電平關斷電路的電壓控制所述充電電路向所述放電電路進行充電；

若所述高電平關斷電路的電平由低電平跳變到高電平，所述高電平關斷電路關閉。

5.根據權利要求1-4任一項所述的上電檢測電路，其特征在于，所述電平鎖存控制電路包括一D型鎖存器，所述D型鎖存器用于接收并鎖存所述高電平脈沖信號。

6.一種芯片，其特征在于，包括：

微處理器；

用于存儲所述微處理器處理可執行指令的存儲器；

如權利要求1-5任一項所述的上電檢測電路，所述上電檢測電路用于完成對所述微處理器內部邏輯數字電路的上電復位；

復位完成后，所述上電檢測電路中的信號復位單元輸出一高電平脈沖信號，電平鎖存控制電路接收并鎖存所述高電平脈沖信號，輸出復位完成信號；

所述上電檢測電路中的電源關斷電路接收到所述電平鎖存控制電路輸出的復位完成信號后，向所述信號復位單元輸出低電平信號，控制所述信號復位單元斷電。

7.根據權利要求6所述的芯片，其特征在于，所述上電檢測電路用于檢測與所述微處理器直接連接的電源上電過程。

8.一種穿戴設備，其特征在于，包括：

設備外設；

如權利要求6或7所述的芯片，所述芯片設置在所述設備外設內；

啟動所述穿戴設備時，所述芯片的微處理器上電，所述芯片中的上電檢測電路完成所述微處理器內部邏輯數字電路的上電復位，復位完成后，控制所述上電檢測電路中的信號復位單元斷電。