[發(fā)明專利]射頻傳導測試裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810167832.0 | 申請日： | 2018-02-28 |
| 公開（公告）號： | CN108471468A | 公開（公告）日： | 2018-08-31 |
| 發(fā)明（設計）人： | 張開川;郭朋 | 申請（專利權）人： | 上海與德科技有限公司 |
| 主分類號： | H04M1/24 | 分類號： | H04M1/24;H04B17/10 |
| 代理公司： | 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 胡麗莉 |
| 地址： | 201506 上海市金*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 傳導測試 射頻 引腳 射頻測試座 天線 控制電路 連接移動 信號端口 終端 傳導 射頻電路 天線端口 耦合功率 連接控制電路 觸發(fā)處理器 調整移動 移動終端 終端測試 處理器 線扣 預設 測試 檢測 | ||
1.一種射頻傳導測試裝置，用于測試移動終端的天線的功率，其特征在于，包括：射頻測試座、控制電路以及射頻傳導測試線；
所述射頻測試座具有第一引腳、第二引腳；所述第一引腳連接所述移動終端內部的射頻電路，所述第二引腳連接所述控制電路；所述控制電路具有天線端口、信號端口，所述天線端口連接所述移動終端的天線，所述信號端口連接所述移動終端的處理器；
所述控制電路用于根據所述信號端口的第一電平，觸發(fā)所述處理器根據預設的傳導功率值調整所述移動終端的射頻電路的傳導功率，以調整所述天線的耦合功率；
所述射頻傳導測試線扣接在所述射頻測試座的第一引腳，用于檢測調整傳導功率后的所述天線的耦合功率值。
2.根據權利要求1所述的射頻傳導測試裝置，其特征在于，所述控制電路包括：第一電阻以及第一電感；
所述第一電感的一端、所述第一電阻的一端均與所述信號端口連接；所述第一電感的另外一端連接所述天線端口和所述射頻測試座的第二引腳；所述第一電阻的另外一端接地。
3.根據權利要求2所述的射頻傳導測試裝置，其特征在于，所述控制電路還包括：用于抑制直流信號的第一電容；
所述第一電感的另外一端通過所述第一電容連接所述天線端口。
4.根據權利要求3所述的射頻傳導測試裝置，其特征在于，所述控制電路還包括：用于濾除干擾信號的第二電容；
所述第二電容的一端連接所述信號端口，另一端接地。
5.根據權利要求1或2所述的射頻傳導測試裝置，其特征在于，所述射頻傳導測試裝置還包括：用于阻隔干擾信號的第二電感，所述第二電感的一端連接所述射頻測試座的第一引腳，另一端接地。
6.一種射頻傳導測試方法，其特征在于，應用于射頻傳導測試裝置，所述射頻傳導測試裝置包括：射頻測試座、控制電路以及射頻傳導測試線；
所述射頻測試座具有第一引腳、第二引腳；所述第一引腳連接所述移動終端內部的射頻電路，所述第二引腳連接所述控制電路；所述控制電路具有天線端口、信號端口，所述天線端口連接所述移動終端的天線，所述信號端口連接所述移動終端的處理器；
所述射頻傳導測試方法包括：
控制所述控制電路的所述信號端口生成第一電平，所述第一電平用于觸發(fā)所述處理器根據預設的傳導功率值調整所述移動終端的射頻電路的傳導功率，以調整所述天線的耦合功率；
利用扣接在所述射頻測試座的第一引腳的所述射頻傳導測試線，檢測調整傳導功率后的所述天線的耦合功率值。
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