[發(fā)明專(zhuān)利]一種X射線分層掃描成像系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810166932.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108426901A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡曉東;蔣一鳴;鄒晶 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/044 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/044 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責(zé)任專(zhuān)利代理事務(wù)所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
| 地址: | 300072*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 軸轉(zhuǎn)臺(tái) 環(huán)形夾持器 成像系統(tǒng) 分層掃描 水平位移 中空轉(zhuǎn)臺(tái) 轉(zhuǎn)接支架 環(huán)扣 轉(zhuǎn)動(dòng) 夾持板狀 豎向固定 豎向平面 樣品平面 轉(zhuǎn)臺(tái)平面 夾持器 位移臺(tái) 載物臺(tái) 中空 夾持 引腳 軸轉(zhuǎn) 底座 平行 同心 側(cè)面 | ||
本發(fā)明涉及一種X射線分層掃描成像系統(tǒng),其載物臺(tái)包括底座1、設(shè)置在其上的Θ軸轉(zhuǎn)臺(tái)、固定于Θ軸轉(zhuǎn)臺(tái)上的Z軸升降位移臺(tái)、固定于Z軸升降位移臺(tái)上的XY軸水平位移臺(tái)、以及固定于XY軸水平位移臺(tái)上的轉(zhuǎn)接支架,Θ軸轉(zhuǎn)臺(tái)能夠在水平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),在轉(zhuǎn)接支架側(cè)面豎向固定有Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái),所述Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái)為中空轉(zhuǎn)臺(tái)并能夠在豎向平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),在Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái)的中空部分還固定有用以?shī)A持板狀樣品的環(huán)形夾持器,樣品平面與Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái)的轉(zhuǎn)臺(tái)平面平行,中空轉(zhuǎn)臺(tái)與環(huán)形夾持器同心;所述的夾持器包括兩個(gè)環(huán)扣,兩個(gè)環(huán)扣的內(nèi)側(cè)均設(shè)置有用于夾持樣品并相互對(duì)應(yīng)的三個(gè)以上引腳。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及X射線分層掃描成像系統(tǒng)。
背景技術(shù)
X射線計(jì)算機(jī)分層掃描成像(Computed Laminography,簡(jiǎn)稱(chēng)CL)技術(shù)是一種有效檢測(cè)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息的無(wú)損檢測(cè)方法,在工業(yè)、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。X射線計(jì)算機(jī)分層掃描的對(duì)象是平板狀的樣品,掃描時(shí)X射線只在樣品的厚度方向以?xún)A斜角度穿透物體,在多個(gè)方向進(jìn)行投影,可獲取樣品三維斷層圖像。
目前,X射線計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)(Computed Tomography,簡(jiǎn)稱(chēng)CT)是常用的無(wú)損檢測(cè)手段,然而CT掃描方式對(duì)于板狀構(gòu)件的成像效果并不理想,而板狀物的特點(diǎn)是寬度與厚度的比很大。相比較而言,CL掃描方式可以更有效地獲取板狀樣品的內(nèi)部信息,從而得到更加完整和清晰的圖像。因此CL技術(shù)在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用愈加頻繁。
由于掃描模式的特殊性,CL掃描需要X射線以一定的傾斜角入射樣品表面,也就是說(shuō)射線方向與樣品轉(zhuǎn)軸方向有一定夾角,而CT模式下射線方向與樣品轉(zhuǎn)軸垂直。因此,CL系統(tǒng)部件的空間位置往往有別于常規(guī)的CT系統(tǒng),總體而言可分為兩類(lèi):(1)射線源、探測(cè)器繞一圓心轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)傾斜角;(2)依靠樣品自身所在平面的轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)傾斜角。
第一類(lèi)結(jié)構(gòu)適用于尺寸較大、不方便傾斜放置的樣品,對(duì)實(shí)驗(yàn)空間的需求較大,對(duì)射線源、探測(cè)器位置運(yùn)動(dòng)的控制精度要求較高。同時(shí)由于射線源、探測(cè)器不能水平放置,這就對(duì)儀器體積和重量有一定限制。第二類(lèi)結(jié)構(gòu)適用于尺寸較小、容易進(jìn)行夾持的樣品,整體系統(tǒng)類(lèi)似于一般的CT,可以在有限的空間內(nèi)操作,一般不需要調(diào)整射線源、探測(cè)器位置。由此可以看出,相比第一類(lèi)結(jié)構(gòu),第二類(lèi)結(jié)構(gòu)對(duì)于實(shí)驗(yàn)條件的要求要小得多。當(dāng)要求對(duì)樣品內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)進(jìn)行高精度成像時(shí),第二類(lèi)結(jié)構(gòu)更具有優(yōu)勢(shì)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種適用于對(duì)板狀樣品進(jìn)行高精度成像的X射線分層掃描成像系統(tǒng)。技術(shù)方案如下:
一種X射線分層掃描成像系統(tǒng),包括射線源、射線源X向平移軸電機(jī)、載物臺(tái)、探測(cè)器X向平移軸電機(jī)、探測(cè)器Y向平移軸電機(jī)、探測(cè)器和轉(zhuǎn)塔,載物臺(tái)包括底座1、設(shè)置在其上的Θ軸轉(zhuǎn)臺(tái)、固定于Θ軸轉(zhuǎn)臺(tái)上的Z軸升降位移臺(tái)、固定于Z軸升降位移臺(tái)上的XY軸水平位移臺(tái)、以及固定于XY軸水平位移臺(tái)上的轉(zhuǎn)接支架,所述Θ軸轉(zhuǎn)臺(tái)能夠在水平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),Z軸位移臺(tái)和XY軸水平位移臺(tái)聯(lián)合實(shí)現(xiàn)在X軸、Y軸和Z軸方向移動(dòng)。其特征在于,
在載物臺(tái)轉(zhuǎn)接支架側(cè)面豎向固定有Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái),所述Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái)為中空轉(zhuǎn)臺(tái)并能夠在豎向平面內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng),在Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái)的中空部分還固定有用以?shī)A持板狀樣品的環(huán)形夾持器,樣品平面與Φ軸轉(zhuǎn)臺(tái)的轉(zhuǎn)臺(tái)平面平行,中空轉(zhuǎn)臺(tái)與環(huán)形夾持器同心;所述的夾持器包括兩個(gè)環(huán)扣,兩個(gè)環(huán)扣的內(nèi)側(cè)均設(shè)置有用于夾持樣品并相互對(duì)應(yīng)的的三個(gè)以上引腳,引腳末端開(kāi)設(shè)有小孔或凹槽,在小孔或凹槽上固定有塑料固定件,在夾持器夾持樣品時(shí),各個(gè)塑料固定件直接接觸樣品表面。
與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn):
(1)在該系統(tǒng)中,射線源、樣品臺(tái)、探測(cè)器的固定點(diǎn)均在同一平面上,因此可以更好地保證系統(tǒng)穩(wěn)定性,以及減少不同儀器間相對(duì)運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的不確定度,從而有利于重建后得到的圖像質(zhì)量。
(2)該系統(tǒng)的樣品臺(tái)采用兩個(gè)垂直相交的轉(zhuǎn)軸分別控制樣品臺(tái)角度和樣品的旋轉(zhuǎn),其中垂直于水平面的軸控制樣品臺(tái)角度,即傾斜角的大小,水平軸控制樣品轉(zhuǎn)動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)特定傾斜角下的360°掃描。此方法理論上可以使傾斜角從0°到90°范圍內(nèi)變化,無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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