[發明專利]閃存顆粒測試分類工作臺在審
| 申請號: | 201810166000.7 | 申請日: | 2018-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN108133733A | 公開(公告)日: | 2018-06-08 |
| 發明(設計)人: | 孟濤成;李庭育;莊健民;齊元輔 | 申請(專利權)人: | 江蘇華存電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/56 | 分類號: | G11C29/56 |
| 代理公司: | 蘇州廣正知識產權代理有限公司 32234 | 代理人: | 張漢欽 |
| 地址: | 226300 江蘇省南通市高新*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃存 顆粒測試 測試架 測試桌 可拆卸 測試效率 測試治具 臺本發明 分類 工作臺 加載 兩層 下層 | ||
1.一種閃存顆粒測試分類工作臺,其特征在于,包括:
表面呈上、下兩層階梯的測試桌;
可拆卸地固定在所述測試桌的下層階梯上的至少一個測試架;以及
可拆卸地固定在所述測試架上,并用于加載多個閃存顆粒的至少一個測試治具。
2.根據權利要求1所述的閃存顆粒測試分類工作臺,其特征在于,所述測試架的表面呈上、中、下三層階梯,每個階梯上可拆卸地固定一個所述測試治具。
3.根據權利要求1所述的閃存顆粒測試分類工作臺,其特征在于,所述測試桌包括:
呈上、下兩層階梯的桌面;
支撐所述桌面底面四角的四個測試桌支架;以及
豎直固定在所述桌面后側的后擋板。
4.根據權利要求3所述的閃存顆粒測試分類工作臺,其特征在于,還包括:固定在所述測試桌的上層階梯上,電連接測試治具,并用于測試各閃存顆粒的至少一臺測試計算機;
所述測試計算機包括:
置于所述測試桌下面的主機;
固定在所述后擋板上方,并電連接所述主機的顯示屏;
緊貼地固定在所述后擋板正面,并電連接所述主機的鍵盤;以及
置于所述測試桌的上層階梯表面,并電連接所述主機的鼠標。
5.根據權利要求4所述的閃存顆粒測試分類工作臺,其特征在于,還包括給所述測試計算機和所述測試治具供電的電源。
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