[發明專利]微粒探測器，系統與方法

有效

• 申請號: 201810154230.1
• 申請日: 2005-11-14
• 公開（公告）號: CN108492515B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 羅恩·諾克司;K·庫珀;凱末爾·阿賈伊
• 申請（專利權）人: 愛克斯崔里斯科技有限公司
• 主分類號: G08B17/107
• 分類號: G08B17/107;G01S17/04;G01S17/87;G01N33/00;G01S7/487;G01N21/49
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 蔣駿;陳嵐

1.一種探測微粒的方法，包括：

向被監測區域發射第一射線束；

探測第一射線束的反向散射線；以及

通過記錄所發射的第一射線束的目標入射束斑的強度，確定路徑損耗測定；

其中：

探測反向散射線包括用第一圖像捕獲裝置探測所述區域的圖像變化，所述圖像變化標示微粒存在，并且其中所述圖像變化對應于反向散射線；

記錄目標入射束斑的強度包括記錄，在第一圖像捕獲裝置捕獲的圖像中，所發射的第一射線束的目標入射束斑的強度；

確定路徑損耗測定還包括比較所述記錄的強度與前一時間記錄的強度；以及

其中所述方法還包括基于所述路徑損耗測定估計微粒密度。

2.根據權利要求1所述的方法，所述第一射線束為激光束以及第一圖像捕獲設備為攝像機，以及所述方法包括：提供激光目標，激光束在該激光目標上形成目標入射束斑。

3.根據權利要求2所述的方法，在所捕獲的圖像中，所述目標易于利用圖像處理技術識別。

4.根據權利要求1所述的方法，所述前一時間為安裝時間。

5.根據權利要求1所述的方法，所述方法包括協同使用路徑損耗測定與散射信息，以評估平均微粒密度。

6.根據權利要求1所述的方法，所述方法包括協同使用路徑損耗測定與散射信息來區別微粒類型。

7.根據權利要求6所述的方法，所述微粒類型包括煙霧微粒或干擾微粒。

8.根據權利要求6所述的方法，區別微粒類型包括計算路徑損耗與散射的比率，以及將該比率與已知材料的比率比較。

9.根據權利要求6所述的方法，在所述束的局部上或整個束上執行所述區別。

10.根據權利要求9所述的方法，還包括以下步驟：

提供第二發射束，其源接近第二圖像捕獲裝置并且與其成一角度，使得所述第二束穿越所述第二圖像捕獲裝置的視場；

探測被監測區域的反向散射光。

11.根據權利要求10所述的方法，所述被探測的反向散射光具有以下散射角中的任意一個散射角：

相對所述發射束方向為大約180°；或

相對所述發射束方向為大于90°且小于180°。

12.根據權利要求1所述的方法，還包括，利用第一圖像捕獲設備探測所述區域的圖像變化，所述圖像變化標示微粒存在，并且其中所述圖像變化對應于前向散射線。

13.根據權利要求12所述的方法，所述方法還包括以下之一或兩個：

向被監測區域發射另一射線束，以使得能夠使用前向散射線探測微粒；以及

利用第二圖像捕獲設備探測所述區域的圖像變化，所述圖像變化標示微粒存在，并且其中所述圖像變化對應于前向散射線。

14.根據權利要求1所述的方法，還包括以下一個或者多個步驟：

提供所述捕獲圖像的邊緣探測和修正，以確定束和圖像捕獲裝置對是否有物理移動；

提供圖像處理，以確定超出閾值警報水平的捕獲圖像中目標標記的移動，從而確定束和圖像捕獲裝置對是否有物理移動；以及

向所述被監測區域提供附加發射線源，從而為所述圖像捕獲裝置提供標記，由此確定束和圖像捕獲裝置對是否有物理移動。

15.一種微粒探測系統，包括：

用于向被監測區域發射第一射線束的設備；

第一圖像捕獲裝置，其用于探測該區域中的圖像變化，所述圖像的變化標示微粒存在；以及其中用于發射的所述設備和第一圖像捕獲裝置被布置為使得圖像中的變化對應于反向散射線；其中所述微粒探測系統被配置為執行權利要求1-14中的任意一項的方法。