[發明專利]用于鑒定分子種類的元素組成的方法

有效

• 申請號: 201810153998.7
• 申請日: 2018-02-22
• 公開（公告）號: CN108508078B
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: M·斯特羅哈爾姆;H·普法夫;E·拉祖莫夫斯基
• 申請（專利權）人: 塞莫費雪科學(不來梅)有限公司
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳潔;姬利永

1.一種鑒定樣品中所含或通過至少一種電離方法從樣品中產生分子M的至少一個種類的一種或多種最可能元素組成的方法，包含以下步驟：

(i)使用質譜儀測量所述樣品的質譜I_meas(p)，或使用質譜儀測量所述樣品的質譜I_meas(p)且將所測得質譜I_meas(p)換算為中性質譜I_neut(p)；

(ii)針對所測得質譜I_meas(p)或中性質譜I_neut(p)中的所關注峰C_int，從分子種類M_inv的集合S_inv中確定候選分子種類M_cand的集合S_cand，所述候選分子種類M_cand在對應于所測得質譜I_meas(p)或所述中性質譜I_neut(p)的質譜中具有預期峰C_ex,inv，其峰位置p_ex,inv處于指配給對應的所測得質譜I_meas(p)或中性質譜I_neut(p)中的所述所關注峰C_int的峰位置容許范圍Δp_tol內；

(iii)針對所述候選分子種類M_cand集合S_cand中的每個候選分子種類M_cand，測定對應于所測得質譜I_meas(p)或所述中性質譜I_neut(p)的鑒定質譜I_{id,M_cand}(p)且測定峰位置范圍Δp，所述峰位置范圍Δp包含與所述候選分子種類M_cand集合S_cand中的所有候選分子種類M_cand的所測得質譜I_meas(p)或所述中性質譜I_neut(p)對應的所述鑒定質譜I_{id,M_cand}(p)的所有峰C_{id,M_cand,i}的峰位置p_{id,M_cand,i}；

(iv)利用測定每個候選分子種類M_cand的第一子分數s_{1,M_cand}的第一方法，且利用測定每個候選分子種類M_cand的第二子分數s_{2,M_cand}的第二方法，在所測定的所述峰位置范圍Δp內對所述候選分子種類M_cand集合S_cand中的所述候選分子種類M_cand的所測得質譜I_meas(p)或所述中性質譜I_neut(p)與對應于所測得質譜I_meas(p)或所述中性質譜I_neut(p)的每個鑒定質譜I_{id,M_cand}(p)進行比較，其中所述第一子分數s_{1,M_cand}為所述候選分子種類M_cand的所述鑒定質譜I_{id,M_cand}(p)中的在所測得質譜I_meas(p)或中性質譜I_neut(p)未得到鑒定的所有峰C_{id,M_cand,i}定址，且其中所述第二子分數s_{2,M_cand}為所測得質譜I_meas(p)中的所有峰C_meas,i或所述中性質譜I_neut(p)中的所有峰C_neut,I定址，所述峰C_meas,i和C_neut,i在所述候選分子種類M_cand的所述鑒定質譜I_{id,M_cand}(p)中未得到鑒定；且依據所述子分數s_{i,M_cand}計算所述候選分子種類M_cand集合S_cand中的每個候選分子種類M_cand的最終分數fs_{M_cand}或依據所述子分數s_{i,M_cand}僅計算所述候選分子種類M_cand集合S_cand中、所述第一方法的所述子分數s_{1,M_cand}和所述第二方法的所述子分數s_{2,M_cand}中的一個或兩個高于所指配的閾值s_i,th,fs以便計算最終分數fs_{M_cand}的所有候選分子種類M_cand的最終分數fs_{M_cand}；

(v)測定具有最高值的一個或多個所計算最終分數fs_高,k；

(vi)測定所述候選分子種類M_cand集合S_cand中的所述候選分子種類M_{cand,高_k}的元素組成，所述候選分子種類M_{cand,高_k}具有所述一個或多個有最高值的所計算最終分數fs_高,k。