[發(fā)明專利]測試圖案的制作方法、測試圖案、印刷裝置、存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810150196.0
• 申請日: 2018-02-13
• 公開（公告）號: CN108454234B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 金井政史
• 申請（專利權(quán)）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: B41J2/01
• 分類號: B41J2/01;B41J29/393;G06K15/02
• 代理公司: 北京金信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225
• 代理人: 蘇萌萌;黃明武

本發(fā)明提供能夠?qū)π碌慕M合的噴落偏差或至少三個噴落偏差進行測量的測試圖案的制作方法、測試圖案、印刷裝置、存儲介質(zhì)。該測試圖案的制作方法，以使測試圖案包括用于對由于如下情況而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位中至少三個的方式制作測試圖案，即，第一及第二打印頭的頭偏差；第一及第二打印芯片的芯片偏差；主掃描去程及返程的往返偏差；第一及第二噴嘴列的列偏差；以主掃描方向為中心的旋轉(zhuǎn)方向的第一打印頭的位置偏差；以與主掃描方向以及同主掃描方向交叉的方向正交的方向為中心的旋轉(zhuǎn)方向的第一打印頭的位置偏差，所述測試圖案的與所述印刷裝置對應(yīng)的副掃描方向的長度在所述頭的副掃描方向的長度以下，所述至少三個部位沿副掃描方向排列。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開內(nèi)容涉及一種印刷的測試圖案。

背景技術(shù)

專利文獻1公開了對由記錄頭的傾斜、或記錄頭的去程與返程而產(chǎn)生的偏差進行檢測的技術(shù)。在此所說的傾斜是指由以與主掃描方向以及副掃描方向正交的方向為中心的旋轉(zhuǎn)而產(chǎn)生的位置偏差。

印刷的噴落偏差還會因上述兩種情況以外的情況而產(chǎn)生，因此仍有改進的余地。鑒于此，本公開內(nèi)容的課題在于，制作能夠?qū)π碌慕M合的噴落偏差進行測量的測試圖案或者制作能夠?qū)χ辽偃N的噴落偏差進行測量的測試圖案。

專利文獻1：日本特開2007-15269號公報。

發(fā)明內(nèi)容

本公開內(nèi)容的一個方式是一種測試圖案的制作方法，該測試圖案的制作方法是使用如下的印刷裝置來制作測試圖案的方法，所述印刷裝置具備具有噴射第一油墨色的油墨的第一打印頭和噴射第二油墨色的油墨的第二打印頭的頭，在所述第一打印頭上設(shè)置有第一打印芯片以及第二打印芯片，在所述第一打印芯片上設(shè)置有構(gòu)成沿與主掃描方向交叉的交叉方向排列的第一噴嘴列和與所述第一噴嘴列相比位于所述主掃描方向的預(yù)定側(cè)的第二噴嘴列的多個噴嘴，所述測試圖案包括用于對所述主掃描方向上的噴落偏差進行測量的多個格線，其中，以使所述測試圖案包括以下部位中的至少三個部位的方式來制作所述測試圖案，所述部位為，用于對由于所述第一打印頭以及所述第二打印頭的頭偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位；用于對由于所述第一打印芯片以及所述第二打印芯片的芯片偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位；用于對由于主掃描的去程以及返程的往返偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位；用于對由于所述第一噴嘴列以及所述第二噴嘴列的列偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位；用于對由于以所述主掃描方向為中心的旋轉(zhuǎn)方向上的所述第一打印頭的位置偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位；以及用于對由于以與所述主掃描方向以及所述交叉方向正交的正交方向為中心的旋轉(zhuǎn)方向上的所述第一打印頭的位置偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位，所述測試圖案的與所述印刷裝置對應(yīng)的副掃描方向的長度在所述頭的副掃描方向的長度以下，所述至少三個部位沿副掃描方向排列。根據(jù)該方式，能夠制作可對上述六種偏差中的至少三種進行測量的測試圖案。

在上述方式中，可以采用如下的方式，即，所述第二打印頭具備第三打印芯片，在所述第三打印芯片上設(shè)置有構(gòu)成沿所述交叉方向排列的第三噴嘴列和與所述第三噴嘴列相比位于所述主掃描方向的所述預(yù)定側(cè)的第四噴嘴列的多個噴嘴，能夠由所述第一噴嘴列形成點的所述交叉方向的范圍與能夠由所述第三噴嘴列形成點的所述交叉方向的范圍至少部分重復(fù)，通過相同朝向的主掃描并使用所述第一噴嘴列以及所述第三噴嘴列，來制作用于對由于所述第一打印頭以及所述第二打印頭的頭偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位。根據(jù)該方式，能夠通過一次的主掃描來制作用于對第一打印頭以及第二打印頭的偏差進行測量的部位。

在上述方式中，可以采用如下的方式，即，在所述第二打印芯片上設(shè)置有構(gòu)成所述第一噴嘴列以及第二噴嘴列的多個噴嘴，通過相同朝向的主掃描并使用所述第一打印芯片以及所述第二打印芯片所含的所述第一噴嘴列的在所述交叉方向上能夠形成點的范圍發(fā)生重復(fù)的范圍，來制作用于對由于所述第一打印芯片以及所述第二打印芯片的芯片偏差而產(chǎn)生的噴落偏差進行測量的部位。根據(jù)該方式，能夠通過一次的主掃描來制作用于對第一打印芯片以及第二打印芯片的偏差進行測量的部位。