[發明專利]一種非線性S參數檢驗裝置有效
| 申請號: | 201810148412.8 | 申請日: | 2018-02-13 |
| 公開(公告)號: | CN108490333B | 公開(公告)日: | 2020-04-03 |
| 發明(設計)人: | 陳婷;程春悅;李瑩;鄧姝沛;楊初 | 申請(專利權)人: | 北京無線電計量測試研究所 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315 | 代理人: | 許志勇 |
| 地址: | 100854 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 非線性 參數 檢驗 裝置 | ||
1.一種非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,包含:定向耦合器、前級可變衰減器、驅動放大器、前級濾波器、肖特基二極管、匹配結構、后級濾波器、第一緩沖放大器、衰減器、第二緩沖放大器、功率放大器、隔離器、后級可變衰減器、模數轉換器、功率檢測器;
所述定向耦合器用于接收輸入信號,一路經由所述功率檢測器至所述模數轉換器,另一路傳輸至所述前級可變衰減器;
所述功率檢測器與所述模數轉換器連接的一端接地;
所述模數轉換器用于接收所述功率檢測器傳輸的信號,并分別向所述前級可變衰減器、后級可變衰減器傳輸前級衰減控制信號、后級衰減控制信號;
所述前級可變衰減器輸出的信號經由所述驅動放大器、所述前級濾波器傳輸至所述肖特基二極管;
所述肖特基二極管用于接收所述前級濾波器輸出的信號,產生諧波信號;
所述匹配結構用于接收所述諧波信號,產生匹配信號;
所述匹配信號經由所述后級濾波器、第一緩沖放大器、衰減器、第二緩沖放大器、功率放大器、隔離器,傳輸至所述后級可變衰減器。
2.如權利要求1所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述裝置還包含:電壓控制電路;
所述電壓控制電路用于給所述前級可變衰減器、驅動放大器、肖特基二極管、第一緩沖放大器、第二緩沖放大器、功率放大器提供偏置電壓。
3.如權利要求1~2任一項所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述肖特基二極管選用Avago公司的HSMS8101,所述匹配結構為短銷匹配結構。
4.如權利要求1~2任一項所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述前級可變衰減器、后級可變衰減器選用Hittite公司的HMC939LP4E,所述驅動放大器采用兩級低噪放級聯的方式,所述兩級低噪放均選用Avago公司的VMMK-3803。
5.如權利要求1~2任一項所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述前級濾波器為2.5GHz的陶瓷低通濾波器,所述后級濾波器為10GHz微帶開路短銷低通濾波器。
6.如權利要求1~2任一項所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述第一緩沖放大器、第二緩沖放大器分別選用Hittite公司的HMC462LP5E和HMC606LC5。
7.如權利要求1~2任一項所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述功率放大器選用Hittite公司的HMC998LP5E。
8.如權利要求1所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述模數轉換器選用雙通道12位的AD9238、所述功率檢測器為TILMV221SD。
9.如權利要求1所述的非線性S參數檢驗裝置,其特征在于,所述裝置的電路板外部加裝了銅質屏蔽層。
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