[發(fā)明專利]一種鎖相環(huán)電路單粒子敏感性的量化評(píng)估方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810146750.8
• 申請(qǐng)日: 2018-02-12
• 公開（公告）號(hào): CN108494400B
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳卓俊;董業(yè)民;單毅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): H03L7/26
• 分類號(hào): H03L7/26;G06F30/367
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 鄧琪;楊希

1.一種鎖相環(huán)電路單粒子敏感性的量化評(píng)估方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

步驟S1，通過電路仿真或示波器測試，獲得鎖相環(huán)在被輻照前的輸出波形；

步驟S2，對(duì)所述鎖相環(huán)進(jìn)行單粒子效應(yīng)仿真或?qū)嶒?yàn)，捕獲所述鎖相環(huán)在被輻照后其鎖定檢測信號(hào)跳變前后時(shí)間段[t_l-t_d，t_l+t_d]內(nèi)的輸出波形，其中，t_l表示鎖定檢測信號(hào)發(fā)生跳變的時(shí)刻，t_d表示延遲時(shí)間；

步驟S3，根據(jù)所述步驟S1中獲得的輸出波形，計(jì)算獲得所述鎖相環(huán)在被輻照前的相位偏移根據(jù)所述步驟S2中獲得的輸出波形，計(jì)算獲得所述鎖相環(huán)在被輻照后的相位偏移

步驟S4，將所述鎖相環(huán)在被輻照前的相位偏移進(jìn)行時(shí)域累加，獲得所述鎖相環(huán)在被輻照前的累積相位偏移J_disp,pre(t)；將所述鎖相環(huán)在被輻照后的相位偏移進(jìn)行時(shí)域累加，獲得所述鎖相環(huán)在被輻照后的累積相位偏移J_disp,post(t)；

步驟S5，將所述鎖相環(huán)在被輻照后的累積相位偏移J_disp,post(t)減去所述鎖相環(huán)在被輻照前的累積相位偏移J_disp,pre(t)，以獲得累積相位抖動(dòng)J_accp(t)；

步驟S6，將所述累積相位抖動(dòng)J_accp(t)等效為一個(gè)階躍響應(yīng)，利用所述階躍響應(yīng)的穩(wěn)定值量化評(píng)估鎖相環(huán)電路的單粒子敏感性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)電路單粒子敏感性的量化評(píng)估方法，其特征在于，在所述步驟S1中，若在電路設(shè)計(jì)階段，則利用Hspice或Spectre軟件對(duì)所述鎖相環(huán)進(jìn)行電路仿真，以獲得所述鎖相環(huán)在被輻照前的輸出波形；若在硅后驗(yàn)證階段，則利用示波器測試獲得所述鎖相環(huán)在被輻照前的輸出波形。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)電路單粒子敏感性的量化評(píng)估方法，其特征在于，在所述步驟S2中，若在電路設(shè)計(jì)階段，則利用單粒子效應(yīng)模型對(duì)所述鎖相環(huán)的所有節(jié)點(diǎn)進(jìn)行仿真，當(dāng)所述鎖相環(huán)的鎖定檢測信號(hào)由高電平跳變到低電平時(shí)，所述鎖相環(huán)失去鎖定，以獲得所述鎖相環(huán)在被輻照后其鎖定檢測信號(hào)跳變前后時(shí)間段[t_l-t_d，t_l+t_d]內(nèi)的輸出波形；若在硅后驗(yàn)證階段，則對(duì)所述鎖相環(huán)進(jìn)行單粒子效應(yīng)實(shí)驗(yàn)，利用多通道示波器同時(shí)檢測所述鎖相環(huán)的鎖定檢測信號(hào)和輸出波形，設(shè)置所述多通道示波器的觸發(fā)條件和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)范圍，當(dāng)鎖定檢測信號(hào)由高電平跳變到低電平時(shí)，捕捉所述鎖相環(huán)在被輻照后其鎖定檢測信號(hào)跳變前后時(shí)間段[t_l-t_d，t_l+t_d]內(nèi)的輸出波形，并對(duì)該輸出波形進(jìn)行實(shí)時(shí)保存。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)電路單粒子敏感性的量化評(píng)估方法，其特征在于，在所述步驟S3中，根據(jù)公式(1)計(jì)算獲得所述鎖相環(huán)在被輻照前的相位偏移

根據(jù)公式(2)計(jì)算獲得所述鎖相環(huán)在被輻照后的相位偏移

其中，T_pre(τ)表示所述鎖相環(huán)在被輻照前的實(shí)際周期，T_post(τ)表示所述鎖相環(huán)在被輻照后的實(shí)際周期，T_r表示所述鎖相環(huán)的理想時(shí)鐘周期。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鎖相環(huán)電路單粒子敏感性的量化評(píng)估方法，其特征在于，在所述步驟S4中，根據(jù)公式(3)計(jì)算獲得所述鎖相環(huán)在被輻照前的累積相位偏移J_disp,pre(t)：

根據(jù)公式(4)計(jì)算獲得所述鎖相環(huán)在被輻照后的累積相位偏移J_disp,post(t)：