[發明專利]一種利用光聲成像和深度網絡檢測物質顆粒平均尺寸的方法在審
| 申請號: | 201810144979.8 | 申請日: | 2018-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN110095387A | 公開(公告)日: | 2019-08-06 |
| 發明(設計)人: | 袁杰;馬翔;程茜;王學鼎 | 申請(專利權)人: | 南京大學;同濟大學 |
| 主分類號: | G01N15/02 | 分類號: | G01N15/02;G06N3/04 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 210093 江蘇省南京市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 學習樣本 幅度譜 光聲信號 樣本 物質顆粒 網絡 能量歸一化 光聲成像 網絡檢測 顯微技術 學習 激光器照射 輸出預測 測量 采集 測試 輸出 | ||
1.一種利用光聲成像和深度網絡檢測物質顆粒平均尺寸的方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1,選取足夠數量的與待測物質樣本sample0同類的其他物質樣本samplep,p=1,2,3,...,P,構成P個學習樣本;
步驟2,利用顯微技術觀察學習樣本的內部結構,并計算每個學習樣本所包含物質顆粒的平均尺寸sp,p=1,2,3,...,P,作為學習樣本包含顆粒的真實平均尺寸;
步驟3,搭建光聲信號的測量裝置:選取合適的激光器發射頻率fa,調整激光器以及聚焦裝置使聚焦后的光束照射在樣本測量區域,物質樣本放置在樣本測量區域,位于樣本旁側的超聲裝置接收并采樣聲信號,超聲裝置所能接收的頻段為fl~fu,采樣頻率為fs;
步驟4,利用步驟3中的光聲信號測量裝置分別測量和接收P個學習樣本的光聲信號wp(n),p=1,2,3,...,P,n=0,1,2,...,N-1,信號采樣時長
步驟5,計算每段光聲信號wp(n)的離散傅里葉變換Wp(k)=DFT[wp(n)],p=1,2,3,...,P,k=0,1,2,...,N-1,計算Wp(k)的模|Wp(k)|,并對|Wp(k)|進行能量歸一化得到歸一化后的信號幅度譜
步驟6,選取合適的網絡結構,建立輸入為I維,輸出為一維的深度網絡,將每個學習樣本samplep,p=1,2,3,...,P的歸一化幅度譜預處理并作為網絡的輸入ini,i=1,2,3,...,I,步驟2中所計算的每個學習樣本所包含物質顆粒的平均尺寸sp,p=1,2,3,...,P作為網絡的輸出out,對這P個學習樣本進行訓練和測試,計算出深度網絡的最優參數;
步驟7,利用步驟3中的光聲信號測量裝置測量和接收待測物質樣本sample0的光聲信號w0(n),n=0,1,2,...,N-1,計算其能量歸一化后的信號幅度譜
步驟8,將待測物質樣本sample0的歸一化幅度譜輸入步驟6中獲得的深度網絡,將相應的網絡輸出out作為待測物質樣本sample0的顆粒平均尺寸s0,從而實現對待測物質樣本顆粒平均尺寸的檢測。
2.根據權利要求書1所述的一種利用光聲成像和深度網絡檢測物質顆粒平均尺寸的方法,其特征在于,步驟1中,所選取的學習樣本samplep,p=1,2,3,...,P應當與待測物質樣本屬于同種物質組成、同種物質形態,學習樣本數量P應當足夠,并且合適的樣本數量隨著待測物質的不同也會有所不同。
3.根據權利要求書1所述的一種利用光聲成像和深度網絡檢測物質顆粒平均尺寸的方法,其特征在于,步驟2中,利用顯微技術對每個學習樣本成像,所成的圖像中包含Mp個完整的物質顆粒,每個物質顆粒的尺寸為lp,m,p=1,2,3,...,P,m=1,2,3,...,Mp,則該學習樣本所包含物質顆粒的平均尺寸
4.根據權利要求書1所述的一種利用光聲成像和深度網絡檢測物質顆粒平均尺寸的方法,其特征在于,步驟3中,激光器的發射頻率fa應當選為待測物質樣本光吸收最強的頻率,超聲接收器的上限頻率fu應當能夠與物質顆粒的最小尺寸相匹配,即其中c0是該物質中的聲速,smin是物質顆粒尺寸的最小分辨率,采樣頻率fs應滿足fs≥2fu。
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