[發明專利]基于大氣環境參數的絕緣子積污預測方法有效
| 申請號： | 201810144520.8 | 申請日： | 2018-02-12 |
| 公開（公告）號： | CN108376194B | 公開（公告）日： | 2021-10-01 |
| 發明（設計）人： | 張志勁;張東東;蔣興良;舒立春;胡建林;胡琴 | 申請（專利權）人： | 重慶大學 |
| 主分類號： | G06F30/23 | 分類號： | G06F30/23;G06Q10/04 |
| 代理公司： | 重慶謝成律師事務所 50224 | 代理人： | 鄔劍星 |
| 地址： | 400044 重*** | 國省代碼： | 重慶;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 大氣 環境參數 絕緣子 預測 方法 | ||
1.一種基于大氣環境參數的絕緣子積污預測方法，其特征在于：包括下述步驟：
S1：采集大氣環境參數，其中，大氣環境參數包括大氣污穢顆粒物粒徑和質量濃度；
S2：對大氣環境參數中的大氣污穢顆粒物粒徑和質量濃度進行預處理形成污穢顆粒質量分數—粒徑連續函數，并對該連續函數再進行離散化處理形成顆粒質量濃度—粒徑離散關系集合；所述顆粒質量濃度—粒徑離散關系集合中顆粒質量濃度的計算公式為：
其中，Δdp為離散化處理的污穢顆粒粒徑的固定變量，cpi(dp)為第i時間段內粒徑為dp的污穢顆粒對應的質量濃度；ci(d0)為第i時間段內，空氣中粒徑小于d0的污穢顆粒的質量濃度；
S4：根據采集的大氣參數，獲取顆粒質量濃度—粒徑離散關系集合中的大氣污穢顆粒質量濃度和調用單位時間絕緣子積污量數據庫中的絕緣子表面積污量，計算各檢測時間段內的絕緣子表面積污增量；各檢測時間段內的絕緣子表面積污增量的計算公式為
其中，cp0為基準質量濃度；cpi(dp)為第i時間段內粒徑為dp的污穢顆粒對應的質量濃度；Vi為第i時間段的風速；ti為第i時間段的時長；ρm(Vi,dp)為基準質量濃度下，風速為Vi、粒徑為dp的情況下，絕緣子表面的單位時間積污量；dpM為第i時間段內的大氣顆粒物粒徑最大值；ΔΦmi為第i時間段絕緣子表面積污增量；
S5：對各檢測時間段內的絕緣子表面積污增量進行疊加，得到持續積污時間段的絕緣子表面總積污量。
2.根據權利要求1所述基于大氣環境參數的絕緣子積污預測方法，其特征在于：所述大氣環境參數還包括大氣環境的風速；
將采集的實時風速和實時大氣污穢顆粒物粒徑與單位時間絕緣子積污量數據庫進行對比，獲取當前絕緣子表面積污量。
3.根據權利要求1所述基于大氣環境參數的絕緣子積污預測方法，其特征在于：所述步驟S5中，持續積污時間段的絕緣子表面總積污量的計算公式為：
其中，N指將持續積污時間段分為N個檢測時間段；H為N個檢測時間段的時間總和；Φm(H)為持續積污H時間下大氣污穢顆粒在絕緣子表面產生的最終積污量。
4.根據權利要求1所述基于大氣環境參數的絕緣子積污預測方法，其特征在于：所述步驟S2中對大氣環境參數中的大氣污穢顆粒物粒徑和質量濃度進行預處理形成污穢顆粒質量分數—粒徑連續函數包括：
設定第i(1≤i≤N)時間段內，空氣中粒徑小于dp的污穢顆粒的質量分數為λi(dp)：
其中，d0為污穢顆粒的基準粒徑；λi(dp)為第i時間段內，空氣中粒徑小于dp的污穢顆粒的質量分數；ci(dp)為第i時間段內，空氣中粒徑小于dp的污穢顆粒的質量濃度；ci(d0)為第i時間段內，空氣中粒徑小于d0的污穢顆粒的質量濃度；
設定大氣環境污穢下，大氣污穢顆粒質量分數與粒徑的關系滿足Rosin-Rammer分布：
其中，n1為分布特征指數；n2為分布特征系數；
將采集到第i時間段內的不同粒徑的大氣污穢顆粒物質量濃度帶入(3)和(4)式，計算得到n1和n2的值；將n1和n2的值帶入(4)式，得到第i時間段內的大氣污穢顆粒質量分數—粒徑連續函數；
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