[發明專利]測量角膜參數的系統校準方法及裝置

有效

• 申請號: 201810143022.1
• 申請日: 2018-02-11
• 公開（公告）號: CN108420401B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 陳浩;于航;黃錦海
• 申請（專利權）人: 溫州醫科大學
• 主分類號: A61B3/135
• 分類號: A61B3/135;A61B3/107;A61B3/14
• 代理公司: 上海旭誠知識產權代理有限公司 31220
• 代理人: 鄭立

1.一種測量角膜參數的系統校準方法，其特征在于，所述方法包括步驟：

1)提供一標定塊，所述標定塊為透明長方體；所述標定塊的折射率已知，所述折射率為1.376；

2)裂隙燈光路垂直照射于所述標定塊，形成一個光學橫截面，相機以偏離裂隙光路α角度進行拍攝采集該光學橫截面圖像，確保所述光學橫截面的四個角點均在相機視角內；和

3)采用幾何畸變校正法對圖像進行校準，根據所述光學橫截面的四個角點的真實坐標，求得聚焦清晰狀態下圖像中每個像素所代表的實際距離，從而用于圖像角膜厚度到真實角膜厚度的轉換。

2.一種測量角膜參數的系統校準裝置，其特征在于，所述裝置包括：標定塊、裂隙燈系統、相機、和數據處理單元；

其中，所述標定塊為透明長方體；所述裂隙燈系統被設置用于發射光路垂直照射于所述標定塊，形成一個光學橫截面；確保所述光學橫截面的四個角點均在所述相機的視野內；所述相機被設置用于以偏離裂隙光路α角度進行拍攝采集該光學橫截面圖像，該角度和測量角膜相關參數時的拍攝角度相同，并將拍攝獲得的圖像傳輸至數據處理單元；所述數據處理單元依據拍攝獲得的橫截面圖像，采用幾何畸變校正法對圖像進行校準，根據所述光學橫截面的四個角點的真實坐標，求得聚焦清晰狀態下圖像中每個像素所代表的實際距離，從而用于圖像角膜厚度到真實角膜厚度的轉換；

所述標定塊的折射率已知，所述折射率為1.376。