[發明專利]一種計算帶電粒子防護層后能譜的方法有效
| 申請號： | 201810136597.0 | 申請日： | 2018-02-09 |
| 公開（公告）號： | CN108345026B | 公開（公告）日： | 2021-06-15 |
| 發明（設計）人： | 李興冀;楊劍群;劉超銘;呂鋼;董尚利 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01T1/36 | 分類號： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 岳泉清 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 計算 帶電 粒子 防護 層后能譜 方法 | ||
1.一種計算帶電粒子防護層后能譜的方法，其特征在于：所述方法具體過程為：
步驟一、確定軌道入射粒子的微分能譜f(E′1)、f(E′2)、f(E′3)、f(E′4)和f(E′5)；具體過程為：
根據衛星軌道確定衛星軌道高度和衛星軌道傾角；
根據衛星軌道高度和衛星軌道傾角分別確定地球輻射帶電子、地球輻射帶質子、太陽宇宙線質子、太陽宇宙線離子和銀河宇宙線離子；
根據地球輻射帶電子選擇AE8或AE9模型，得到軌道入射電子的微分能譜f(E′1)；
根據地球輻射帶質子選擇AP8或AP9模型，得到軌道入射質子的微分能譜f(E′2)；
根據太陽宇宙線質子選擇ESP模型，得到軌道入射質子的微分能譜f(E′3)；
根據太陽宇宙線離子選擇CREME96模型，得到軌道入射離子的微分能譜f(E′4)；
根據銀河宇宙線離子選擇CREME96模型，得到軌道入射離子的微分能譜f(E′5)；
粒子包括離子、電子和質子；
步驟二、確定防護材料及防護材料厚度t；
步驟三、確定入射粒子的入射角度α；
步驟四、若入射粒子為電子，根據步驟二確定的防護材料厚度t，計算步驟一中軌道入射電子的微分能譜f(E′1)中能量E′1與射程及防護材料厚度的關系；
步驟五、
1)若入射粒子為質子，根據步驟二確定的防護材料厚度t和步驟三確定的入射粒子的入射角度α，分別計算步驟一中軌道入射質子的微分能譜f(E′2)中能量E′2和f(E′3)中能量E′3與射程及防護材料厚度的關系；
2)若入射粒子為離子，根據步驟二確定的防護材料厚度t和步驟三確定的入射粒子的入射角度α，分別計算步驟一中軌道入射離子的微分能譜f(E′4)中能量E′4和f(E′5)中能量E′5與射程及防護材料厚度的關系；
步驟六、計算入射粒子與防護材料的非彈性截面；具體公式為：
其中，N為阿伏加德羅常數，A為防護材料原子序數，M為防護材料原子量；
步驟七、若入射粒子為電子，根據步驟一的微分能譜f(E′1)、步驟二的防護材料厚度t、步驟四得到的能量E′1和步驟六的非彈性截面σ，計算地球輻射帶電子防護層后的微分能譜；
步驟八、
1)若入射粒子為質子，根據步驟一的微分能譜f(E′2)、步驟二的防護材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′2和步驟六的非彈性截面σ，計算地球輻射帶質子防護層后的微分能譜；
根據步驟一的微分能譜f(E′3)、步驟二的防護材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′3和步驟六的非彈性截面σ，計算太陽宇宙線質子防護層后的微分能譜；
2)若入射粒子為離子，根據步驟一的微分能譜f(E′4)、步驟二的防護材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′4和步驟六的非彈性截面σ，計算太陽宇宙線離子防護層后的微分能譜；
根據步驟一的微分能譜f(E′5)、步驟二的防護材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′5和步驟六的非彈性截面σ，計算銀河宇宙線離子防護層后的微分能譜。
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