[發(fā)明專利]一種計(jì)算帶電粒子防護(hù)層后能譜的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810136597.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108345026B | 公開(公告)日: | 2021-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李興冀;楊劍群;劉超銘;呂鋼;董尚利 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01T1/36 | 分類號(hào): | G01T1/36 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109 | 代理人: | 岳泉清 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國(guó)省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 計(jì)算 帶電 粒子 防護(hù) 層后能譜 方法 | ||
1.一種計(jì)算帶電粒子防護(hù)層后能譜的方法,其特征在于:所述方法具體過程為:
步驟一、確定軌道入射粒子的微分能譜f(E′1)、f(E′2)、f(E′3)、f(E′4)和f(E′5);具體過程為:
根據(jù)衛(wèi)星軌道確定衛(wèi)星軌道高度和衛(wèi)星軌道傾角;
根據(jù)衛(wèi)星軌道高度和衛(wèi)星軌道傾角分別確定地球輻射帶電子、地球輻射帶質(zhì)子、太陽宇宙線質(zhì)子、太陽宇宙線離子和銀河宇宙線離子;
根據(jù)地球輻射帶電子選擇AE8或AE9模型,得到軌道入射電子的微分能譜f(E′1);
根據(jù)地球輻射帶質(zhì)子選擇AP8或AP9模型,得到軌道入射質(zhì)子的微分能譜f(E′2);
根據(jù)太陽宇宙線質(zhì)子選擇ESP模型,得到軌道入射質(zhì)子的微分能譜f(E′3);
根據(jù)太陽宇宙線離子選擇CREME96模型,得到軌道入射離子的微分能譜f(E′4);
根據(jù)銀河宇宙線離子選擇CREME96模型,得到軌道入射離子的微分能譜f(E′5);
粒子包括離子、電子和質(zhì)子;
步驟二、確定防護(hù)材料及防護(hù)材料厚度t;
步驟三、確定入射粒子的入射角度α;
步驟四、若入射粒子為電子,根據(jù)步驟二確定的防護(hù)材料厚度t,計(jì)算步驟一中軌道入射電子的微分能譜f(E′1)中能量E′1與射程及防護(hù)材料厚度的關(guān)系;
步驟五、
1)若入射粒子為質(zhì)子,根據(jù)步驟二確定的防護(hù)材料厚度t和步驟三確定的入射粒子的入射角度α,分別計(jì)算步驟一中軌道入射質(zhì)子的微分能譜f(E′2)中能量E′2和f(E′3)中能量E′3與射程及防護(hù)材料厚度的關(guān)系;
2)若入射粒子為離子,根據(jù)步驟二確定的防護(hù)材料厚度t和步驟三確定的入射粒子的入射角度α,分別計(jì)算步驟一中軌道入射離子的微分能譜f(E′4)中能量E′4和f(E′5)中能量E′5與射程及防護(hù)材料厚度的關(guān)系;
步驟六、計(jì)算入射粒子與防護(hù)材料的非彈性截面;具體公式為:
其中,N為阿伏加德羅常數(shù),A為防護(hù)材料原子序數(shù),M為防護(hù)材料原子量;
步驟七、若入射粒子為電子,根據(jù)步驟一的微分能譜f(E′1)、步驟二的防護(hù)材料厚度t、步驟四得到的能量E′1和步驟六的非彈性截面σ,計(jì)算地球輻射帶電子防護(hù)層后的微分能譜;
步驟八、
1)若入射粒子為質(zhì)子,根據(jù)步驟一的微分能譜f(E′2)、步驟二的防護(hù)材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′2和步驟六的非彈性截面σ,計(jì)算地球輻射帶質(zhì)子防護(hù)層后的微分能譜;
根據(jù)步驟一的微分能譜f(E′3)、步驟二的防護(hù)材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′3和步驟六的非彈性截面σ,計(jì)算太陽宇宙線質(zhì)子防護(hù)層后的微分能譜;
2)若入射粒子為離子,根據(jù)步驟一的微分能譜f(E′4)、步驟二的防護(hù)材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′4和步驟六的非彈性截面σ,計(jì)算太陽宇宙線離子防護(hù)層后的微分能譜;
根據(jù)步驟一的微分能譜f(E′5)、步驟二的防護(hù)材料厚度t、步驟三的入射角度α、步驟五得到的能量E′5和步驟六的非彈性截面σ,計(jì)算銀河宇宙線離子防護(hù)層后的微分能譜。
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