[發明專利]差模干擾試驗裝置及方法有效
| 申請號: | 201810135186.X | 申請日: | 2018-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN108594158B | 公開(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發明(設計)人: | 金楠洋;王元良 | 申請(專利權)人: | 浙江迅馳科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R35/04 | 分類號: | G01R35/04 |
| 代理公司: | 杭州西木子知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 33325 | 代理人: | 周孝林 |
| 地址: | 310000 浙江省*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 干擾 試驗裝置 方法 | ||
1.差模干擾試驗裝置,其特征在于,包括:
信號處理模塊(4),與干擾發生模塊(2)連接,用于為干擾發生模塊(2)提供干擾信號參數并控制干擾發生模塊(2)生成所需的干擾信號;
干擾發生模塊(2),與耦合去耦網絡模塊(3)連接,用于生成測試被檢設備的干擾信號;
耦合去耦網絡模塊(3),與被檢設備連接,用于將干擾信號耦合到被檢設備的單一電流回路中;以及
功率源模塊(1),分別與信號處理模塊(4)、干擾發生模塊(2)和被檢設備連接,用于為信號處理模塊(4)和干擾發生模塊(2)提供工作電源并為被檢設備提供工頻電壓和電流;
所述信號處理模塊(4)包括:微處理器單元、按鍵單元、顯示單元和通信單元,微處理器單元分別與按鍵單元、顯示單元、通信單元和干擾發生模塊(2)連接,用于控制顯示單元的顯示內容,控制通信單元的通信聯接;
所述耦合去耦網絡模塊(3)包括:第一電容(C1)、第二電容(C2)、第三電容(C3)、第四電容(C4)、第五電容(C5)、第六電容(C6)、第七電容(C7)、第八電容(C8)、第九電容(C9)、第十電容(C10)、第一電感(L1)、第二電感(L2)、第三電感(L3)、第四電感(L4)、第五電感(L5)、第六電感(L6)、第七電感(L7)、第八電感(L8)、第九電感(L9)和第十電感(L10);
第一電容(C1)的一端和第一電感(L1)的一端分別與干擾發生模塊(2)的第一輸出端連接,第一電容(C1)的另一端和第二電感(L2)的一端分別與干擾發生模塊(2)的第二輸出端連接,第一電感(L1)的另一端分別與第三電感(L3)的一端、第九電感(L9)的一端、第十電容(C10)的一端和被檢設備的電流輸入端連接,第二電感(L2)的另一端分別與第四電感(L4)的一端、第十電感(L10)的一端、第十電容(C10)的另一端和被檢設備的零線端連接,第三電感(L3)的另一端分別與第二電容(C2)的一端、第五電感(L5)的一端和第三電容(C3)的一端連接,第四電感(L4)的另一端分別與第二電容(C2)的另一端、第六電感(L6)的一端和第四電容(C4)的一端連接,第九電感(L9)的另一端分別與第三電容(C3)的另一端、第七電感(L7)的一端和第九電容(C9)的一端連接,第十電感(L10)的另一端分別與第四電容(C4)的另一端、第八電感(L8)的一端和第九電容(C9)的另一端連接,第五電感(L5)的另一端與第五電容(C5)的一端連接,第六電感(L6)的另一端與第六電容(C6)的一端連接,第七電感(L7)的另一端與第七電容(C7)的一端連接,第八電感(L8)的另一端與第八電容(C8)的一端連接,第五電容(C5)、第六電容(C6)、第七電容(C7)和第八電容(C8)的另一端分別接地。
2.根據權利要求1所述的差模干擾試驗裝置,其特征在于,所述干擾發生模塊(2)包括:
正弦波發生器單元,分別與信號處理模塊(4)和功率放大器單元連接,用于在信號處理模塊(4)控制下生成干擾波形;和
功率放大器單元,與耦合去耦網絡模塊(3)連接,用于放大所述干擾波形并輸出。
3.根據權利要求2所述的差模干擾試驗裝置,其特征在于,所述干擾波形為連續波、間歇連續波或方波調制連續波。
4.根據權利要求1所述的差模干擾試驗裝置,其特征在于,所述功率源模塊(1)包括:
電流發生器(11),與被檢設備的電流輸入端連接,用于為被檢設備提供工頻電流;和
電壓發生器(12),與被檢設備的電壓輸入端連接,用于為被檢設備提供工頻電壓,分別與信號處理模塊(4)和干擾發生模塊(2)的電源端連接,用于為信號處理模塊(4)和干擾發生模塊(2)提供工作電源。
5.根據權利要求1-4任一項所述的差模干擾試驗裝置,其特征在于,所述干擾發生模塊(2)在信號處理模塊(4)控制下生成頻率值范圍為2kHz-150kHz的干擾信號。
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