[發(fā)明專利]一種激光振鏡重復(fù)定位精度的測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810134882.9 | 申請日: | 2018-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN108387176B | 公開(公告)日: | 2020-04-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄧智芳 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢網(wǎng)銳檢測科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 張凱 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光 重復(fù) 定位 精度 測量方法 | ||
本發(fā)明公開了一種激光振鏡重復(fù)定位精度的測量方法,涉及激光測量領(lǐng)域,包括步驟:單正弦線激光發(fā)生器向激光振鏡投射正弦分布的線激光;激光振鏡將線激光反射到參考平面上,計算機控制振鏡從最小角度到最大角度掃描一次,掃描間隔根據(jù)6步相移法計算出的步距來決定,相機采用慢曝光模式,振鏡完成一次完整的掃描后相機也完成一幅圖像的獲取,通過計算機控制振鏡,使掃描的起始位置相位依次增加60°,掃描6次,獲取到6幅條紋圖像,根據(jù)每幅圖像中某像素點的光強分布則可以計算出該點的包裹相位,對包裹相位進(jìn)行展開即得到該像素點的展開相位,重復(fù)測量若干次得到多幅該像素點的展開相位圖,對其進(jìn)行統(tǒng)計方差計算,即得到振鏡的重復(fù)定位精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光測量領(lǐng)域,具體涉及一種激光振鏡重復(fù)定位精度的測量方法。
背景技術(shù)
激光振鏡被廣泛應(yīng)用于激光打標(biāo)、數(shù)字化加工、三維掃描等領(lǐng)域,激光振鏡作為一種優(yōu)良的矢量掃描器件,其重復(fù)定位的精度將直接決定系統(tǒng)的性能。
然而,激光振鏡在使用過程中會出現(xiàn)定位不準(zhǔn)的情況,導(dǎo)致出現(xiàn)重復(fù)定位偏差,影響激光光束的定位,因此,需要對激光振鏡重復(fù)定位精度進(jìn)行測量。
現(xiàn)有技術(shù)中,為了檢測激光振鏡重復(fù)定位精度,通常采用的是延長光路的辦法,在遠(yuǎn)處拍攝由激光振鏡投射過來的光斑位置變化,從而間接地檢測出激光振鏡的重復(fù)定位精度。
但是,由于光路往往需要達(dá)到10米以上才能檢測到位置的細(xì)微變化,整個測量裝置遠(yuǎn)距離分離,測量過程中受到空氣、塵埃等各種因素的干擾,實際測量難度很大,并且準(zhǔn)確性也不高。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供一種激光振鏡重復(fù)定位精度的測量方法,可以直接測量出激光振鏡重復(fù)定位精度,不僅測量方便,而且測量準(zhǔn)確性好。
為達(dá)到以上目的,本發(fā)明采取的技術(shù)方案是:
一種激光振鏡重復(fù)定位精度的測量方法,包括步驟:
提供一種激光振鏡重復(fù)定位精度的測量裝置,所述裝置包括一單正弦線激光發(fā)生器、一激光振鏡、一參考平面、一照相設(shè)備和一計算機;
所述單正弦線激光發(fā)生器向所述激光振鏡投射正弦分布的線激光;
所述計算機控制所述激光振鏡從最小角度到最大角度掃描,期間所述計算機根據(jù)N步相移法計算出來的所述激光振鏡掃描間隔來控制所述線激光發(fā)生器間隔發(fā)光;
所述激光振鏡將線激光反射到所述參考平面上;
所述照相設(shè)備在慢曝光模式下,當(dāng)所述激光振鏡完成一次從最小角度到最大角度的完整掃描后,獲取一幅條紋圖像;
所述計算機控制所述激光振鏡,使所述激光振鏡掃描的起始位置相位依次增加相應(yīng)角度,掃描相應(yīng)次數(shù),所述照相設(shè)備可以獲取到相應(yīng)數(shù)量的條紋圖像,所述計算機根據(jù)每幅圖像中某像素點的光強即可計算出該像素點的包裹相位,將包裹相位展開即得到該像素點的展開相位,從而完成一次測量;
重復(fù)測量若干次,得到該像素點的若干展開相位,所述計算機對所有展開相位進(jìn)行統(tǒng)計方差計算,得到所述激光振鏡的重復(fù)定位精度。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述N步相移法為六步相移法,所述激光振鏡掃描的起始位置相位依次增加60°,掃描6次,所述照相設(shè)備可以獲取到6幅條紋圖像,所述計算機根據(jù)每幅圖像中某像素點的光強即可計算出該像素點的包裹相位,將包裹相位展開即得到該像素點的展開相位,從而完成一次測量。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述單正弦線激光發(fā)生器、激光振鏡、參考平面和照相設(shè)備均位于一密閉的空間內(nèi)。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述參考平面距離所述激光振鏡的距離在10cm~30cm之間。
在上述方案的基礎(chǔ)上,所述參考平面距離所述激光振鏡的距離為20cm。
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