[發明專利]輻射雜散的測試方法及裝置、電子裝置及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201810134221.6
• 申請日: 2018-02-09
• 公開（公告）號: CN108366161B
• 公開（公告）日: 2021-04-27
• 發明（設計）人: 熊先平
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: H04M1/24
• 分類號: H04M1/24
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 袁文英

本發明實施例公開了一種輻射雜散的測試方法及裝置、電子裝置及可讀存儲介質。該測試方法包括：控制待測設備進行3D旋轉，實時采集待測設備的輻射雜散信號強度，得到該待測設備的3D輻射雜散信號強度，利用該待測設備的3D輻射雜散信號強度確定待測設備是否輻射雜散超標。相對于現有技術，通過控制待測設備進行3D旋轉，使得能夠獲取到待測設備在旋轉到各個角度的輻射雜散信號強度，得到3D輻射雜散信號強度，由于該3D輻射雜散信號強度能夠全面的反映待測設備的輻射雜散情況，因此利用該3D輻射雜散信號強度確定輻射雜散是否超標具有非常高的準確性。

技術領域

本發明涉及無線產品檢測技術領域，尤其涉及一種輻射雜散的測試方法及裝置、電子裝置及可讀存儲介質。

背景技術

輻射雜散(Radiated Spurious Emission)測試是手機在各國認證中的一個重要的測試項目，不管是第三代合作伙伴計劃(3rd Generation Partnership Project，3GPP)還是美國聯邦通信委員會(Federal Communications Commission，FCC)認證的北美標準對這一項都是嚴格要求，同時輻射雜散是通信產品國際、國內認證中比較重要的測試項目之一，也是國家質檢部門抽查時最主要的測試指標之一。

現有技術中，對手機進行輻射雜散測試的方法存在局限性，輻射雜散是否超標的判斷的準確性低。

發明內容

本發明實施例的主要目的在于提供一種輻射雜散的測試方法及裝置、電子裝置及可讀存儲介質，可以解決現有技術中測試輻射雜散是否超標的準確性低的問題。

為實現上述目的，本發明實施例第一方面提供一種輻射雜散的測試方法，包括：

控制待測設備進行三維3D旋轉，實時采集所述待測設備的輻射雜散信號強度，得到所述待測設備的3D輻射雜散信號強度；

利用所述3D輻射雜散信號強度確定所述待測設備是否輻射雜散超標。

為實現上述目的，本發明實施例第二方面提供一種輻射雜散的測試裝置，包括：

控制模塊，用于控制待測設備進行三維3D旋轉，實時采集所述待測設備的輻射雜散信號強度，得到所述待測設備的3D輻射雜散信號強度；

確定模塊，用于利用所述3D輻射雜散信號強度確定所述待測設備是否輻射雜散超標。

為實現上述目的，本發明實施例第三方面提供一種電子裝置，包括：存儲器、處理器及存儲在存儲器上且在處理器上運行的計算機程序，該處理器執行計算機程序時，實現如第一方面的輻射雜散的測試方法中的各個步驟。

為實現上述目的，本發明實施例第四方面提供一種可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執行時，實現如第一方面的輻射雜散的測試方法中的各個步驟。

本發明實施例提供一種輻射雜散的測試方法，包括：控制待測設備進行三維(Three Dimensions，3D)旋轉，實時采集待測設備的輻射雜散信號強度，得到該待測設備的3D輻射雜散信號強度，利用該待測設備的3D輻射雜散信號強度確定待測設備是否輻射雜散超標。相對于現有技術，通過控制待測設備進行3D旋轉，使得能夠獲取到待測設備在旋轉到各個角度的輻射雜散信號強度，得到3D輻射雜散信號強度，由于該3D輻射雜散信號強度能夠全面的反映待測設備的輻射雜散情況，因此利用該3D輻射雜散信號強度確定輻射雜散是否超標具有非常高的準確性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為一種電子裝置的結構框圖；