[發明專利]一種無掩膜光刻技術中的鏡頭畸變矯正方法有效
| 申請號: | 201810132488.1 | 申請日: | 2018-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN108305231B | 公開(公告)日: | 2021-08-27 |
| 發明(設計)人: | 楊剛;吳晨楓;鄭春紅;石峰 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T3/40 |
| 代理公司: | 西安西達專利代理有限責任公司 61202 | 代理人: | 劉華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 無掩膜 光刻 技術 中的 鏡頭 畸變 矯正 方法 | ||
1.一種無掩模光刻技術中的鏡頭畸變矯正方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1、根據DMD微鏡的面積和圖像的尺寸,按照映射關系計算在DMD微鏡中圖像上每個像素點與中心點的距離aij;
1)建立以圖像的中心點作為原點,水平方向為x軸,垂直方向為y軸建立圖像坐標系xO2y,然后計算像素點在圖像坐標系中的坐標(i,j);
2)根據DMD微鏡面積與圖像尺寸之間的映射關系,即如果圖像進行完全投影,則在投影時圖像將等比變換為DMD微鏡的大小,因此利用像素點的位置計算出像素點與圖像中心的實際距離aij;
步驟2、根據鏡頭出廠參數計算得出鏡頭與DMD微鏡之間的水平距離b,然后結合步驟1中得到的圖像上每個像素點與中心點的距離aij,然后利用反三角函數計算得出每個像素點與鏡頭光軸的夾角θij;
步驟3、根據鏡頭出廠時的畸變參數和每個像素點與光軸的夾角θij計算得到每個像素點的畸變量zij,并且利用像素點的位置計算得到在水平方向上的畸變量xij和垂直方向上的畸變量yij;
1)根據鏡頭出廠參數可知,鏡頭的非線性畸變與入射光線與鏡頭光軸的夾角有關,因此利用三次樣條插值算法擬合出步驟2中獲得的夾角θij產生的非線性畸變量zij;
2)利用像素點的位置計算畸變量zij在水平方向上的投影xij和垂直方向上的投影yij,具體計算公式為:
步驟4、在于保證印刷電路板圖像信息不丟失的情況下,根據步驟3中得到的水平和垂直方向上的畸變量(xij,yij)對原始圖像中的像素點進行反向移位處理,從而得到預畸變圖像。
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